Diese Systeme kombinieren die im Labor benötigte Vielseitigkeit mit einzigartigen Funktionen wie dem High-Flux Rotating.Target 2.0, dem Half.Turn CT-Erfassungsmodus und der Auto.Filament Control, um die Zykluszeit zu verkürzen und die Betriebszeit bei der Serienprüfung in der Fertigung zu verbessern.
Durch die Wahl der Quelle, der Targets, der CT-Scan-Strategien und Optionen wie die motorisierte Einstellung des Abstands zwischen Quelle und Detektor sind die 225/320 kV Systeme vielseitig einsetzbar und eignen sich für eine Vielzahl von Prüfaufgaben.
Wählen Sie das richtige Target für Ihre Anwendung: Vom Transmissionsziel mit Erkennung von Merkmalen im Submikrometerbereich über das weltweit einzige Rotating.Target 2.0 für herausragende Leistungen bis hin zum 320 kV Target für dichtere Proben.
Ermöglicht einen Dauerbetrieb bis zu 450 W mit einer bis zu dreimal höheren Auflösung bei gleicher Leistung bzw. einer dreimal schnelleren Datenerfassung bei einer gegebenen Auflösung.
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| XT H225 Für die Inspektion von kleinen bis mittleren Teilen | XT H225 ST 2x Flexibles System für eine Vielzahl von Anwendungen | MCT225 Hochgenaue Röntgen-CT-Metrologie | XT H320 Hohe kV-Quelle für große und dichte Teile |
| Teilgröße | Teilgröße | Teilgröße | Teilgröße |
| Teildichte | Teildichte | Teildichte | Teildichte |
| Genauigkeit | Genauigkeit | Genauigkeit | Genauigkeit |
| Leistung | Leistung | Leistung | Leistung |
| Vielseitigkeit | Vielseitigkeit | Vielseitigkeit | Vielseitigkeit |
| Stellfläche | Stellfläche | Stellfläche | Stellfläche |
Wenn Sie weitere Einzelheiten zu diesem Produkt oder eine ausführlichere Beschreibung wünschen, stellt Ihnen unser Expertenteam zusätzliche Informationen zur Verfügung und arrangiert falls erforderlich einen Besuch vor Ort. Sprechen Sie mit uns im Detail über Ihr Projekt und unsere Experten werden Sie über das beste Prüfsystem für Ihre Anforderungen beraten. Bitte füllen Sie das nebenstehende Formular aus und wir werden uns in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.
