Industriemikroskope

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ECLIPSE-L300nd-l300n-l200nd-l200n_L300Na
AUFRECHTE MIKROSKOPE

ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200N

Eine Serie von Halbleitermikroskopen, die sich ideal für die Inspektion von integrierten Schaltkreisen (IC), Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen mit hoher Integrationsdichte (LSI) und vielen weiteren Anwendungen eignen.

ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150
AUFRECHTE MIKROSKOPE

ECLIPSE LV150NA und LV150N

Eine flexible, modulare Serie aufrechter Mikroskope für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie), zusammen Zubehör zur digitalen Bildverarbeitung und Tischen mit großen x/y-Verfahrwegen, ideal für Halbleiter- und Materialinspektionstätigkeiten.

ECLIPSE-LV100NDA-LV100ND_LEDlamp+LV100ND
AUFRECHTE MIKROSKOPE

ECLIPSE LV100NDA und LV100ND

Diese flexible, modulare, Serie aufrechter Mikroskope, die umfangreiche episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren ermöglicht und über Kameras und Zubehör für digitale Bildverarbeitung verfügt, ist ideal für die Materialprüfung in vielen industriellen Anwendungen.

INVERSE MIKROSKOPE

ECLIPSE MA200

Das ECLIPSE MA200 basiert auf einem innovativen Gehäusekonzept und ist ein flexibles, modulares, inverses Mikroskop für optische Inspektionen im Auflicht. Zusammen mit dem Zubehör zur digitalen Bildverarbeitung ist es ideal für die Inspektion metallurgischer Materialien in vielen industriellen Anwendungen.

MA100N
INVERSE MIKROSKOPE

ECLIPSE MA100N

Ein flexibles, kompaktes, erschwingliches, modulares, inverses Mikroskop für episkopische optische Kontrastverfahren. Zusammen mit digitalem Kamerazubehör ist es ideal für die Inspektion metallurgischer Materialien in vielen industriellen Anwendungen.

ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL

Eine Serie von Polarisationsmikroskopen zur Beobachtung der doppelbrechenden Eigenschaften von anisotropen Proben durch Beobachtung des Bildkontrasts und der Farbveränderungen. Nikon bietet Systeme sowohl für quantitative als auch für qualitative Studien an.

NWL_L200N

NWL200 Wafer Loader Serie

Die Modelle der NWL200-Serie mit allen Funktionen unterstützen die gesamte Bandbreite der Inspektionsanforderungen für Halbleiterwafer mit einem Durchmesser von 6 Zoll (150 mm) und 8 Zoll (200 mm) in Verwendung mit einem optischen Mikroskop oder einem Videomessgerät, z. B. Nikon NEXIV.

Software_LV150N+DSFi3+PC

Software

Die NIS Elements Software steuert die Nikon Digital Sight Kameras, um die besten Bilder für die Auswertung zu erfassen. Sie organisiert Bilder, verarbeitet sie logisch und in einem reibungslosen Arbeitsablauf.