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ECLIPSE LV100AMS

Inspektion mit einem Klick
Alles auf einen Klick, von komplexen Inspektionsroutinen bis hin zur anspruchsvollen Bildanalyse.
Automatisierte benutzerdefinierte Workflows
Entwerfen Sie Inspektionsprozesse, die genau auf Ihre spezifischen Anforderungen zugeschnitten sind. Der Workflow kann an die jeweiligen Inspektionsbedingungen und -prozesse angepasst werden.
Integration für eine nahtlose Analyse
Das AMS vereint motorisierte Steuerung, automatisierte Bildaufnahme und intelligente Analyse in einem nahtlosen System und liefert konsistente Ergebnisse bei minimalem Einfluss des Bedieners.

Hauptanwendungen

Automatisierte Inspektion
Ein flexibles Framework zur Entwicklung kundenspezifischer Inspektionslösungen. Es vereint automatisierte Bilderfassung, Bildanalyse und Berichterstellung in einem einzigen konfigurierbaren Arbeitsablauf, ideal für Anwendungsbereiche ohne vordefinierte Standards, von explorativen Untersuchungen bis hin zu stabilen Produktionsprozessen.

Korngrößenanalyse
Die KI-gestützte Korngrößenanalyse automatisiert die Auswertung metallischer Mikrostrukturen und liefert schnelle, konsistente sowie anwenderunabhängige Ergebnisse.
In Übereinstimmung mit ASTM E112 und ISO 643 gewährleistet sie zuverlässige, normgerechte Korngrößenbestimmungen für Qualitätssicherung und Forschung.

Gefügeanalyse von Gusseisen
Entwickelt zur quantitativen Beurteilung der Graphitmorphologie in Gusseisen. Automatische Erkennung und Klassifizierung von Graphitpartikeln, Bestimmung der Nodularität und Sphäroidisierungsrate sowie Unterstützung bei der Mikrostrukturanalyse, wie Ferrit- und Perlitgehalt.
Unterstützte Normen: ISO 945‑4/ASTM A247

Technische Sauberkeit
Ein spezielles Modul zur automatisierten Inspektion von Partikeln auf Filtermembranen, das den gesamten Arbeitsablauf vom Scannen bis zur Berichterstellung abdeckt. Bietet statistische Ergebnisse und visuelle Dokumentation für Reinheitsprüfungen und die Qualitätssicherung.
Unterstützte Normen: ISO 16232/ISO 4406/VDA 19
Besondere Produktmerkmale

Sehen Sie jedes Detail mit Präzision
23,9-MP-Farbkamera, motorisierter XY-Tisch (100 x 100 mm), motorisierte Z-Achse, mit Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, Polarisierung, optional mit Fluoreszenz. Bis zu 6700-fache digitale Vergrößerung auf einem 28-Zoll-UHD-Bildschirm.

Vereinfachen Sie die Berichterstellung für die Qualitätssicherung
Automatisch generierte Berichte mit kommentierten Bildern, Messwerten und zusammenfassenden Statistiken für Qualitätssicherungs-Workflows.
| Camera Resolution | 23.9MP (6000 × 3984) | ||||
| Illumination | Episcopic / Diascopic | ||||
| Observation methods | (Episcopic) brightfield, darkfield, polarization, DIC / Optional: fluorescence (Diascopic) brightfield, polarization / Optional: darkfield, DIC |
||||
| Objective lenses | TU Plan Fluor BD 5x | TU Plan Fluor BD 10x | TU Plan Fluor BD 20x | TU Plan BD ELWD 50x | TU Plan BD ELWD 100x |
| Resolution [μm] | 2.24 | 1.12 | 0.75 | 0.42 | 0.37 |
| Field of view [mm] | H: 2.880 / V: 1.912 | H: 1.440 / V: 0.956 | H: 0.720 / V: 0.478 | H: 0.288 / V: 0.191 | H:0.144 / V: 0.096 |
| Motorized Stage Range [mm] | 100 × 100 | ||||
| Dimension [mm] | Approx. 1000 x 800 x 760 | ||||
| Maximum Sample Height [mm] | 35 | ||||
| Maximum Sample Mass [mm] | 2 | ||||
Zugehörige Produkte
ECLIPSE LV150NA LED und LV150N LED
Software
Sprechen Sie uns zu diesem Produkt an
Wenn Sie weitere Details zu diesem Produkt oder eine ausführlichere Beschreibung wünschen, stellt Ihnen unser Expertenteam gerne zusätzliche Informationen bereit und vereinbart bei Bedarf einen Besuch vor Ort. Machen Sie bitte möglichst detaillierte Angaben zu Ihrem Projekt. Unsere Experten beraten Sie dann gerne zu einem Inspektionssystem, das am besten zu Ihren Anforderungen passt. Bitte füllen Sie das nebenstehende Formular aus, und wir werden uns in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.



