Diese Systeme kombinieren die im Labor benötigte Anpassbarkeit mit einzigartigen Funktionen wie dem 225 kV Rotating.Target 2.0, dem Half.Turn CT-Erfassungsmodus und der Auto.Filament Control, um die Zykluszeit zu verkürzen und die Betriebszeit bei der Serienprüfung in der Fertigung zu verbessern.
Durch die Wahl der Quelle, der Targets, der CT-Scan-Strategien und Optionen wie die motorisierte Einstellung des Abstands zwischen Quelle und Detektor sind die XT H Systeme vielseitig einsetzbar und eignen sich für eine Vielzahl von Prüfaufgaben.
Hohe Objekte können in einer einzigen Aufnahme gescannt werden, wodurch Artefakte vermieden werden, die durch den Kegelstrahl und das Zusammenfügen mehrerer Scans entstehen. Das bietet den weiteren Vorteil, dass Objekte mit höherer Vergrößerung gescannt werden können, was zu einer deutlich höheren Auflösung führt.
Ermöglicht einen Dauerbetrieb bis zu 450 W mit einer bis zu dreimal höheren Auflösung bei gleicher Leistung bzw. einer dreimal schnelleren Datenerfassung bei einer gegebenen Auflösung.
 |  |  |
| XT H 225 Für die Inspektion von kleinen bis mittleren Teilen | XT H 225 ST 2x Flexibles System für eine Vielzahl von Anwendungen | MCT225 Hochgenaue Röntgen-CT-Metrologie |
| Teilgröße | Teilgröße | Teilgröße |
| Teildichte | Teildichte | Teildichte |
| Genauigkeit | Genauigkeit | Genauigkeit |
| Leistung | Leistung | Leistung |
| Vielseitigkeit | Vielseitigkeit | Vielseitigkeit |
| Stellfläche | Stellfläche | Stellfläche |
Wenn Sie weitere Einzelheiten zu diesem Produkt oder eine ausführlichere Beschreibung wünschen, stellt Ihnen unser Expertenteam zusätzliche Informationen zur Verfügung und arrangiert falls erforderlich einen Besuch vor Ort. Sprechen Sie mit uns im Detail über Ihr Projekt und unsere Experten werden Sie über das beste Prüfsystem für Ihre Anforderungen beraten. Bitte füllen Sie das nebenstehende Formular aus und wir werden uns in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.
