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Industriemikroskope
AUFRECHTE MIKROSKOPE
ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200N
Eine Serie von Halbleitermikroskopen, die sich ideal für die Inspektion von integrierten Schaltkreisen (IC), Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen mit hoher Integrationsdichte (LSI) und vielen weiteren Anwendungen eignen.
AUFRECHTE MIKROSKOPE
ECLIPSE LV150NA und LV150N
Eine flexible, modulare Serie aufrechter Mikroskope für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie), zusammen Zubehör zur digitalen Bildverarbeitung und Tischen mit großen x/y-Verfahrwegen, ideal für Halbleiter- und Materialinspektionstätigkeiten.
AUFRECHTE MIKROSKOPE
ECLIPSE LV100NDA und LV100ND
Diese flexible, modulare, Serie aufrechter Mikroskope, die umfangreiche episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren ermöglicht und über Kameras und Zubehör für digitale Bildverarbeitung verfügt, ist ideal für die Materialprüfung in vielen industriellen Anwendungen.
INVERSE MIKROSKOPE
ECLIPSE MA200
Das ECLIPSE MA200 basiert auf einem innovativen Gehäusekonzept und ist ein flexibles, modulares, inverses Mikroskop für optische Inspektionen im Auflicht. Zusammen mit dem Zubehör zur digitalen Bildverarbeitung ist es ideal für die Inspektion metallurgischer Materialien in vielen industriellen Anwendungen.
INVERSE MIKROSKOPE
ECLIPSE MA100N
Ein flexibles, kompaktes, erschwingliches, modulares, inverses Mikroskop für episkopische optische Kontrastverfahren. Zusammen mit digitalem Kamerazubehör ist es ideal für die Inspektion metallurgischer Materialien in vielen industriellen Anwendungen.
ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL
Eine Serie von Polarisationsmikroskopen zur Beobachtung der doppelbrechenden Eigenschaften von anisotropen Proben durch Beobachtung des Bildkontrasts und der Farbveränderungen. Nikon bietet Systeme sowohl für quantitative als auch für qualitative Studien an.
NWL200 Wafer Loader Serie
Die Modelle der NWL200-Serie mit allen Funktionen unterstützen die gesamte Bandbreite der Inspektionsanforderungen für Halbleiterwafer mit einem Durchmesser von 6 Zoll (150 mm) und 8 Zoll (200 mm) in Verwendung mit einem optischen Mikroskop oder einem Videomessgerät, z. B. Nikon NEXIV.
Software
Die NIS Elements Software steuert die Nikon Digital Sight Kameras, um die besten Bilder für die Auswertung zu erfassen. Sie organisiert Bilder, verarbeitet sie logisch und in einem reibungslosen Arbeitsablauf.