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Industriemikroskope

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AUFRECHTE MIKROSKOPE

ECLIPSE LV100AMS

Das ECLIPSE LV100AMS von Nikon ist ein vollautomatisiertes, KI-gestütztes Industriemikroskop, das mit einem einzigen Klick konsistente Inspektionsergebnisse liefert. Ideal für Anwendungsbereiche in der Qualitätskontrolle, die einen hohen Durchsatz und minimale Bedienerabweichungen erfordern.

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AUFRECHTE MIKROSKOPE

ECLIPSE LV150NA LED und LV150N LED

Aufrechte Mikroskope für verschiedene episkopische Beobachtungen. Die Mikroskope eignen sich ideal für die Halbleiter- und Materialprüfung.

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AUFRECHTE MIKROSKOPE

ECLIPSE LV100NDA LED und LV100ND LED

Dank der integrierten LED-Lichtquelle eignen sich die aufrechten Mikroskopserien für umfangreiche Inspektionsmöglichkeiten im Auf- und Durchlicht und sind ideal für die Materialprüfung in vielen Industrieanwendungen.

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INVERSE MIKROSKOPE

ECLIPSE MA200 LED

Ein inverses Mikroskop, das für die metallurgische Materialprüfung in vielen industriellen Anwendungen eingesetzt werden kann.

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MA100N

INVERSE MIKROSKOPE

ECLIPSE MA100N

Ein flexibles, kompaktes, erschwingliches, modulares, inverses Mikroskop für episkopische optische Kontrastverfahren. Zusammen mit digitalem Kamerazubehör ist es ideal für die Inspektion metallurgischer Materialien in vielen industriellen Anwendungen.

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ECLIPSE-L300nd-l300n-l200nd-l200n_L300Na

AUFRECHTE MIKROSKOPE

ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200N

Eine Serie von Halbleitermikroskopen, die sich ideal für die Inspektion von integrierten Schaltkreisen (IC), Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen mit hoher Integrationsdichte (LSI) und vielen weiteren Anwendungen eignen.

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POLARISATIONMIKROSKOPE

ECLIPSE LV100N POL LED und Ci-POL

Die Modelle bieten die höchste optische Qualität, Stabilität und Bedienerfreundlichkeit für die Polarisationsmikroskopie.

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NWL_L200N

NWL200 Wafer Loader Serie

Die Modelle der NWL200-Serie mit allen Funktionen unterstützen die gesamte Bandbreite der Inspektionsanforderungen für Halbleiterwafer mit einem Durchmesser von 6 Zoll (150 mm) und 8 Zoll (200 mm) in Verwendung mit einem optischen Mikroskop oder einem Videomessgerät, z. B. Nikon NEXIV.

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Software

Die NIS Elements Software steuert die Nikon Digital Sight Kameras, um die besten Bilder für die Auswertung zu erfassen. Sie organisiert Bilder, verarbeitet sie logisch und in einem reibungslosen Arbeitsablauf.

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