NIS Elements软件:晶粒度分析
晶粒度分析
可根据JIS G0551、ASTM E112-13、E1382-97、ISO643和GB/T 6394等标准,分析检查单相和双相材料中的晶粒度。
![](https://industry.nikon.com/zh-cn/wp-content/uploads/sites/10/2022/01/AdobeStock_107099892.jpeg)
采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机拍照;模块化设计,方便应对各种功能扩展。
同时带有反射和透射照明的显微镜,用于工业材料和零部件的检查,以及产品研发。
尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。
尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照,并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。
反射照明下可选择的镜检方式有:明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)、荧光和双光束干涉;
透射照明下可选择的镜检方式有:明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)和相差。
有多种配件可供用户选择。
载物台、物镜、物镜转换器、目镜、目镜筒、数码相机、滤光片和偏光片等。
LV100NDA通过尼康图像处理软件,可检查当前在用物镜,控制电动物镜转换、照明亮度、光阑动作、镜检方式切换等。
LV100ND可检查、报告LV-NU5I和LV-INAD上使用的物镜。
使用倾角可调的目镜筒,可使操作者更为舒适地观察样品,消除疲劳。
主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。
晶粒度分析
可根据JIS G0551、ASTM E112-13、E1382-97、ISO643和GB/T 6394等标准,分析检查单相和双相材料中的晶粒度。
体式显微镜
主机: | 最大样品高度:38 mm(与 LVNU5AI U5AI 物镜转换器和 LV-S32 3x2 载物台/LV-S64 6x4 载物台一起使用时) * 73 mm 与一个立柱 12V50W 内部电源一起使用时,用于调光、粗调和微调旋钮 左:粗调和微调/右:微调,40毫米行程粗调:14毫米/转(带扭矩调节,重新聚焦机构) 微调:0.1 mm/转(1 μm/刻度) 载物台安装孔间距:70 x 94(由 4-M4 螺钉固定) |
物镜转换器: | C-N6 ESD 六孔物镜转换器 ESD LV-NU5 通用五孔物转换器 ESD LV-NBD5 BD 五孔物镜转换器 ESD LV-NU5I 智能通用五孔物镜转换器 ESD |
反射照明器: | LV-UEPI-N LV-LH50PC 12V50W 预对中灯箱 明/暗场开关和链接孔径光阑(可居中)、场光阑(可居中) 接受 ø 25 mm 滤光片(NCB11、ND16、ND4)、偏振器/分析器、板、激发光平衡器; 配备噪音终结器 LV-UEPI2 LV-LH50PC 12V50W 预对中灯箱 HG 预对中光纤照明器:C-HGFIE(带调光)*选项明/暗场开关和链接孔径光阑(可居中)、视场光阑(可居中)、自动光学元件切换功能匹配 明场、暗场和落射荧光开关 接受 ø 25 mm 滤光片(NCB11、ND16、ND4)、偏振器/分析器、λ 板、激发光平衡器; 配备噪音终结器 |
透射照明器 | LV-LH50PC 12V50W 预置灯箱(Fly Eye 光学系统) 内部孔径。 场光阑、滤光片(ND8. NCB11); 透射/反射选择开关; 也可提供 12V100W(可选) |
目镜: | LV-T13 三目目镜筒 ESD(正立图像。FOV:22/25), LV-TT2 TT2 倾斜三目目镜(正立图像。FOV:22/25)。 P-TB 双目镜筒(倒置图像,FOV:22),P-TT2 三目筒(倒置图像,FOV:22) |
载物台: | LV-S32 3x2 平台(行程:75 x 50 mm,带玻璃板)ESD 兼容 LV-S64 6x4 平台(行程:150 x 100 mm,带玻璃板)ESD 兼容 LV-S6 6x6 平台(行程:150 x 150 mm)ESD 兼容 |
目镜: | CFI 目镜系列 |
物镜: | 工业显微镜 CFI60-2/CFI60 光学系统 物镜系列:根据观察方法组合 |
ESD 性能: | 1000 to 10V, within 0.2 sec.(不包括某些配件) |
能耗: | 1.2A/75W |
重量: | 大约 8.6kg |