FPD/LSI检查显微镜 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N

这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。

用于检查大型样品的高级显微镜

采用尼康CFI60-2光学系统设计,成像清晰;可搭配数码相机。

尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)

用于硅片(L200N系列为200mm,L300N系列为300mm)、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。

尼康CFI60-2光学系列

尼康的创新设计,支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光(POL)、微分干涉(DIC)镜检,以及双光束干涉测量。

尼康Digital Sight数码相机

尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照,并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。

L200N与NWL200联合使用

在半导体行业中得到广泛认可和信任,目前有许多装置在使用。

产品亮点

尼康CFI60-2光学系统

尼康的创新设计光学系统成像清晰,支持多种显微镜镜检。
反射照明下可选择的镜检方式有:明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)、荧光和双光束干涉;

多种镜检方式

透射照明下可选择的镜检方式有:明场、暗场、偏光(POL)、微分干涉(DIC)和相差。

数字化智能通信

显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连,可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。

人体工学设计

使用倾角可调的目镜筒,可使操作者更为舒适地观察样品,消除疲劳。
主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。

核心功能

行业

主要用途集中在电子通讯领域的零部件检查,如硅片、液晶显示屏等。反射荧光*可用来有效地检查光刻胶残留,检查有机EL显示屏。

*仅L300N/L300ND/L200ND

体式显微镜

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软件

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