防静电、防污染设计
包括机身、工作台、目镜筒等部件均有防静电涂层，可最大限度地防止由静电造成的损伤。
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FPD/LSI检查显微镜 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N
这一系列的显微镜是检查硅片、显示屏等大型样品的理想选择。
用于检查大型样品的高级显微镜
采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机。
尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)
用于硅片（L200N系列为200mm，L300N系列为300mm）、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。
尼康CFI60-2光学系列
尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。
尼康Digital Sight数码相机
尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。
L200N与NWL200联合使用
在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。
产品亮点
尼康CFI60-2光学系统
尼康的创新设计光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。
反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；
多种镜检方式
透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。
数字化智能通信
显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连，可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。
人体工学设计
使用倾角可调的目镜筒，可使操作者更为舒适地观察样品，消除疲劳。
主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。
核心功能
改善消色差性能，实现长工作距离
获得更长的工作距离：与以往的物镜不同，加入了相位菲涅透镜的物镜，可以做得更短，从而获得更长得工作距离。
CFI60-2相位菲涅尔物镜
改善消色差性能：透镜的折射强度因波长而异。相位菲涅尔透镜与普通透镜的折射特性相反，两种透镜结合在一起可以很好地消色差。
对焦辅助插片
对于低对比度的样品（如硅晶片表面）的观察，可以将对焦辅助插片插入光路，帮助您实现快速、准确地对焦。
操控按钮集中于显微镜前部
操控按钮多集中在靠近人体的显微镜前部，可以最大限度地减少手臂移动，便于检查者集中精力，进行快速、方便地观察。
方便精细操控的旋钮位置设计
XY微动旋钮的位置始终固定在靠近调焦纽的位置，所有操作按钮都位于靠近人体的显微镜前部，操作者可以在不移动手臂的情况下，轻松完成被观察件的微移动和精准对焦。
行业
主要用途集中在电子通讯领域的零部件检查，如硅片、液晶显示屏等。反射荧光*可用来有效地检查光刻胶残留，检查有机EL显示屏。
*仅L300N/L300ND/L200ND
体式显微镜
