Centre de ressources

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Support et services

Brochures

Systèmes de mesure vidéo

Mesure manuelle

Microscopie industrielle

Brochures générales

Catalogue général des instruments industriels (Anglais)

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Brochure sur les solutions Nikon Metrology (Français)

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CT par rayons X

Série VOXLS 30 (Français)

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Série XT H (Français)

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XT H 225 ST 2x (Français)

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High.Contrast Filter

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VOXLS 40 C 450 (Français)

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LiB.Overhang Analysis

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Services d’inspection tomographique par rayons X (Anglais)

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MCT 225 (Français)

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TN automatisée (Anglais)

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Systèmes configurables de TN par rayons X (Anglais)

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Série XT V (Français)

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Radar laser

APDIS Stations Intelligent Quality (Français)

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APDIS et la mesure d’écart et d’affleurement (Français)

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APDIS et l’industrie automobile (Anglais)

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Radar laser APDIS (Français)

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Scanners laser 3D

LC15Dx (Français)

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Focus (Français)

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XC65Dx (Français)

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L100 (Français)

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LC15Dx (Français)

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ModelMaker H120 et MCAxS (Français)

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Systèmes de mesure vidéo

Série VMZ-S (Français)

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Série VMA (Français)

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Remote Control SDK (Anglais)

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VMZ-H3030 (Anglais)

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Série VMZ-K (Anglais)

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Mesure manuelle

Série MM de microscopes de mesure (Anglais)

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Digimicro (Anglais)

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Collimateur automatique (Anglais)

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Projecteurs de profil (Anglais)

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Microscopie industrielle

Composants de microscope (Anglais)

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NIS Elements (Anglais)

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Appareils photo numériques pour microscopes (Anglais)

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Chargeur de wafers NWL200 pour l’inspection des circuits intégrés (Anglais)

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Microscopes à polarisation (POL) droits (Anglais)

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Série MA de microscopes inversés (Anglais)

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Série LV-N de microscopes droits (Anglais)

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Série L de microscopes droits (Anglais)

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Stéréomicroscopes (Anglais)

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Études de cas

Le MCT225 de Nikon apporte les capacités de la CT dans l’analyse des lentilles Tamron

La technologie de tomographie numérique aux rayons X (CT) de Nikon a permis à Tamron, le poids lourd des objectifs d’appareils…

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Les technologies à rayons X MCT225 de Nikon transforment le moulage de plastique de Tochigi Nikon

La technologie de tomographie numérique à rayons X (TN ou CT) fournie par Nikon a permis à l’entreprise innovante de…

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Le siège social d’IntriPlex Technologies à Santa Barbara, en Californie.

Le système de mesure vidéo iNEXIV de Nikon reçoit le tampon d’approbation d’IntriPlex Technologies

Le système de mesure vidéo iNEXIV VMA-2520 de Nikon, dernier né des solutions métrologiques de la société, a permis à…

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Le centre de R&D d’un sidérurgiste coréen investit dans la CT par rayons X pour l’inspection des soudures des véhicules

L’une des plus grandes compagnies sidérurgiques au monde, POSCO, a investi dans un système de CT par rayons X (tomographie…

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Le service d’inspection: ASKA Bike scanne avec un scanner laser H120 de Nikon

Le service d’inspection de Nikon optimise la fabrication de vélos électriques

ÅSKA fabrique des vélos électriques à pédalage assisté (pedelecs) avec plus de précision depuis que l’Unité commerciale de métrologie industrielle de…

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Conférenciers faisant un exposé lors d’une réunion d’affaires. Public dans la salle de conférence. Concept d’entreprise et d’entreprenariat.

La technologie de mesure optique automatisée de Nikon au service d’une nouvelle formation en métrologie

Suite à l’ouverture d’un nouveau département de technologie de mesure de production en 2020, la Landesberufsschule Neunkirchen est désormais l’une des…

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Nikon lance un système automatisé et rapide pour l’inspection des codes d’identification des plaquettes

Pour aider les fabricants à contrôler la qualité des plaquettes de silicium, l’Unité commerciale de métrologie industrielle de Nikon Corporation…

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Inspection rapide et peu coûteuse des plaquettes de semi-conducteurs

L’introduction d’un système de mesure vidéo programmable avec manipulation automatique des plaquettes de semi-conducteurs par l’Industrial Metrology Business Unit de…

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Que ce soit sur la piste ou dans l’atelier, le système de mesure vidéo de Nikon permet aux moteurs Roush Yates de gagner en vitesse.

Dans les cercles de course automobile nord-américains, toute discussion sur la puissance moteur doit inclure Roush Yates Engines, qui fêtera…

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Le CT par rayons X automatisé Nikon accélère la recherche, l’archivage et les services industriels du Natural History Museum of London

Le Natural History Museum (NHM) de Londres est l’un des rares musées au monde à automatiser le scanning CT par…

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Livre blanc

Radar Laser APDIS : un changement de paradigme par rapport aux MMT pour une mesure absolue sans contact

APDIS rivalise encore plus efficacement avec la machine à mesurer tridimensionnelle (MMT) en termes de précision avec laquelle les composants peuvent être inspectés...

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Laser Radar annonce un changement de paradigme dans la métrologie automobile

La toute dernière version, nommée APDIS, est une avancée importante dans l’évolution de la technologie et convient particulièrement bien à une utilisation dans l’industrie automobile...

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Logiciels

Microscopes industriels

Stéréomicroscopes

Logiciel d’imagerie

Appareils pour microscopes

Accessoires

Produits multiples

CT par rayons X / Scanners laser 3D / Laser Radar

Microscopes industriels

ECLIPSE MA200 – Setup Tool ver. 1.2.1 (32 bits)

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ECLIPSE MA200 – Setup Tool ver. 1.2.1 (64 bits)

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Série LV – Support Tools ver. 2.3.3 (64 bits)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND – Setup Tool ver. 1.2.1 (32 bits)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND – Setup Tool ver. 1.2.1 (64 bits)

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Stéréomicroscopes

SMZ25/SMZ18 /SMZ1270i – Logiciel de commande SMZ Support Tools version 1.4.0 (64 bits)

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Logiciel d’imagerie

NIS-Elements Viewer – ver. 4.11.00 (Mac)

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NIS-Elements Viewer – ver. 5.21.00 (Windows)

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NIS-Elements L

KsCam.dll Ver9.1.2.3

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NIS-Elements L – ver. 1.20.00 (64 bits)

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NIS-Elements F – ver. 4.60.00 (64 bits)

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NIS-Elements F – ver. 5.21.00 (64 bits)

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NIS-Elements F – ver. 5.22.00 (64 bits)

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NIS-Elements F – ver. 5.42.00 (64 bits)

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NIS-Elements F

Ver5.42.01 64bit

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NIS-Elements D – ver. 5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.11.03 correctif 01 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements D – ver. 5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements D

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements D

Ver6.02.00 (64bit)

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NIS-Elements BR – ver. 5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.11.03 correctif 01 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements BR – ver. 5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements BR

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements BR

Ver6.02.00 (64bit)

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NIS-Elements AR – ver. 5.02.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.11.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.11.03 correctif 01 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.21.03 (64 bits)

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NIS-Elements AR – ver. 5.30.05 (64 bits)

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NIS-Elements AR

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements AR

Ver6.02.00 (64bit)

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Appareils pour microscopes

Série Digital Sight – Logiciel de commande NIS-Elements F ver. 2.21 (version anglaise)

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 1.03

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.0.2 (Mac)

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Série Digital Sight – DS-L4 Viewer ver. 1.0.2 (Windows)

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 2.00

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Ri2 ver. 2.00

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 2.10

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Ri2 ver. 2.10

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.1.0

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Fi3 ver. 1.10

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Qi2 ver. 2.11

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Série Digital Sight – micrologiciel DS-Ri2 ver. 2.11

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.2.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.1.0 (Mac)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.1.0 (Windows)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.1.0 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.3.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.4.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.0 (Mac)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.0 (Windows)

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.0 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.0

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.1 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.1

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.2

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.3

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Série Digital Sight – application DS-L4 Viewer ver. 1.2.2 (Android)

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.4

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.5

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.6

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.7

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.8

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Série Digital Sight – application DS-L4 ver. 1.5.11

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Série Digital Sight – Digital Sight 1000 ver. 3.18

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.10

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.20

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.30

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Série Digital Sight – Digital Sight 10 ver. 1.40

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Série Digital Sight

Digital Sight 50M Ver1.30

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Accessoires

Illuminateur pré-centré HG à fibre optique – Logiciel de commande Fiber Controller (Ver1.0.1)

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Produits multiples

Pilote USB pour microscope – micusb ver. 3.0.1.13 (64 bits)

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Pilote USB pour microscope – micusb ver. 3.0.1.14 (64 bits)

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CT par rayons X / Scanners laser 3D / Laser radar

Licence NM API Metrolog

(.zip, 1kb)

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Licence NM API PolyWorks

(.zip, 1kb)

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Licence NM API CAMIO

(.zip, 1kb)

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Licensing Installer

NMLicensingInstaller Ver2.2 (msi-file, 54mb)

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Nikon lance un système automatisé et rapide pour l’inspection des codes d’identification des plaquettes

Inspection rapide et peu coûteuse des plaquettes de semi-conducteurs

Que ce soit sur la piste ou dans l’atelier, le système de mesure vidéo de Nikon permet aux moteurs Roush Yates de gagner en vitesse.

Le CT par rayons X automatisé Nikon accélère la recherche, l’archivage et les services industriels du Natural History Museum of London

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Laser Radar annonce un changement de paradigme dans la métrologie automobile

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