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Systèmes à rayons X et CT

XT H 225 et XT H 320
Systèmes polyvalents de tomographie numérique à microfoyer pour l’inspection haute résolution de composants, tels que de minuscules connecteurs en plastique ou des pièces moulées en aluminium, pour la R&D, l’analyse de défaillances.

XT H 450
Solution 450 kV exclusive de rayons X à microfoyer pour l’inspection non destructive et haute résolution de composants volumineux et denses, tels que les pièces de fabrication additive en métal, les aubes de turbine et les pièces moulées de grande taille.

TN à grande enveloppe
Systèmes configurables de rayons X et TN dotés d’une grande enveloppe d’inspection prenant en charge plusieurs sources et détecteurs pour répondre aux besoins d’inspection les plus exigeants.

XT V 130 et XT V 160
Inspection par radiographie interactive ou tomodensitométrie détaillée de cartes de circuits imprimés, de composants électroniques ou de petites pièces provenant de diverses industries.
Technologie de source de rayons X
Les sources microfoyers Nikon, conçues et fabriquées en interne, atteignant 450 kV, sont au cœur de tous nos systèmes TN.

Solutions automatisées
Divers niveaux d’automatisation sont disponibles pour prendre en charge l’inspection du premier article, le contrôle qualité ou l’inspection à 100 % dans un environnement de production.