ECLIPSE LV150NA LED und LV150N LED

Aufrechte Mikroskope für verschiedene episkopische Beobachtungen. Die Mikroskope eignen sich ideal für die Halbleiter- und Materialprüfung.

Verbesserte Benutzerfreundlichkeit und Wartung

Dank dem modularen Aufbau und der Lichtquelle mit hoher Farbwiedergabe erlauben die Mikroskope LV150NA LED und LV150N LED ergänzende optische Kontrastverfahren auf einem einzigen Mikroskopstativ. Zu den Anwendungsbeispielen gehören die Inspektion von Halbleitersubstraten und -gehäusen, Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen und innovativen Materialien mit speziellen episkopischen Kontrastverfahren.

LV150NA LED

LV150N LED

Besondere Produktmerkmale

Verschiedene Beobachtungsmethoden

Die Modelle LV150NA LED und LV150N LED verfügen über Hellfeld-, Dunkelfeld-, Polarisations- (POL), differenzielle Interferenzkontrast- (DIC), Epi-Fluoreszenz- und Zweistrahl-Interferometrie.

Intelligente digitale Kommunikation

Mit dem LV-ECON-Controller und der Software NIS-Elements können die Objektive, die Lichtintensität, die Blende und der Epi-Kontrast erkannt werden. Das LV150N LED erkennt Objektive mit Hilfe des LV-NU5I und LV-INAD und meldet sie entsprechend.

Die Serie Digital Sight

In Kombination mit Digital-Sight-Kameras für Mikroskope ermöglichen sie die effiziente Aufnahme hochauflösender Bilder. Mithilfe der Software NIS-Elements können Bilder verarbeitet werden, um Messungen und Analysen durchzuführen.

Große Auswahl an Zubehör

Die neuesten manuell drehbaren Objektivrevolver erreichen eine um 50 % höhere Haltegenauigkeit* als Vorgängermodelle. Andere Zubehörteile wie Mikroskopstative und LED-Lampengehäuse können je nach Beobachtungsverfahren und Zweck ausgewählt werden.

CFI60-2 Objektiv-Serie

Nikon bietet verschiedene Objektive an, die auf die mit den Mikroskopen durchgeführten Beobachtungen abgestimmt sind.  Die Farbkorrektur der Objektive in sorgt für eine deutlich reduzierte Farbverzerrung und eine hervorragende Bildqualität.

Integration mit dem Wafer Loader NWL200

Durch die Integration in das NWL200 kann das LV150N LED die Anforderungen der Wafer-Inspektion, wie z. B. Mikroinspektionen, erfüllen.

*Haltegenauigkeit: Veränderung des Sichtfeldes beim Drehen des Objektivrevolvers zum Wechseln der Objektive und anschließender Rückkehr zum ursprünglichen Objektiv (z. B. Veränderung des Sichtfeldes beim Wechsel von 10-facher zu einer anderen Vergrößerung und anschließender Rückkehr zur 10-fachen Vergrößerung)

Aufrechte Mikroskope LV-N Serie

Die Serie Digital Sight

Wafer Loader der Serie NWL200

LV150N LEDLV150NA LED
Base unitMaximum sample height: 38 mm (when used with LVNU5A U5A nosepiece and LV-S32 3x2 stage / LV-S64 6x4 stage)
*73 mm when used with one column riser
NosepiecesC-N6, LV-NU5N, LV-NBD5N, LV-NU5INLV-NU5A, LV-NU5AC, LV-NU5AI
Episcopic IlluminatorsLV-UEPI-N
High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1

LV-UEPI2
High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1
Fluorescence LED light source D-LEDI (with light adjustment (PC controllable)) *option
Eyepiece tubesC-TB binocular tube (Inverted image, FOV: 22)
LV-TI3 trinocular tube (Erected image, FOV: 22/25)
LV-TT3 tilting trinocular tube (Erected image, FOV: 22/25 with centering and focus adjustment mechanism)
P-TB2 binocular tube (Inverted image, FOV: 22)
P-TT3 trinocular tube (Inverted image, FOV: 22)
StagesLV-S32 3x2 stage (Stroke: 75 x 50 mm with glass plate)
LV-S64 6x4 stage (Stroke: 150 x 100 mm with glass plate)
LV-S6 6x6 stage (Stroke: 150 x 150 mm)
LV-SHA stage handle adapter attachable to all stages
EyepiecesCFI eyepiece series
Objective lensesCFI60-2/CFI60 objective lens series: combination depends on observation method
ESD performance1000 to 10V, within 0.2 sec. (excluding certain accessories)
Power consumption1.2 A / 75 W
WeightApprox. 9 kg

*1: Geschätzter Wert basierend auf den Vorschriften von Nikon.

LV150NA LED, LV150N LED (Einheit: mm)

Zugehörige Produkte

NWL_L200N

NWL200 Wafer Loader Serie

Nikons innovative, voll ausgestattete NWL200 Waferloader unterstützen die umfassende Inspektion von Halbleiterwafern mit einem Durchmesser von 6" (150 mm) und 8" (200 mm) mit Hilfe eines optischen Mikroskops oder eines Videomesssystems, z. B. Nikon NEXIV.
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Mikroskop-Komponenten

Die Mikroskop-Komponenten von Nikon werden für die Integration der Mikroskope in Fertigungsanlagen oder Überwachungssysteme verwendet, die eine außergewöhnlich hohe Präzision erfordern.
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