Das europäische Team von Nikon Metrology ist vor Ort, um Ihnen die neuesten Messlösungen für die Halbleiterindustrie zu präsentieren. Sie können eine Inspektion mit den Videomesssystemen und dem Wafer Loader Service von Nikon in Echtzeit erleben. Besuchen Sie uns an Stand B175 in Halle 1 und sprechen Sie mit uns, um herauszufinden, wie wir Ihnen bei Ihrem Qualitätskontrollprozess helfen können.
Produkt-Highlights:
Das Videomesssystem verfügt über eine 15-fache Zoom-Optik, die eine hohe Auflösung bei hoher Vergrößerung liefert. Episkopische und diaskopische LED-Beleuchtung sowie ein doppeltes 8-Segment-LED-Ringlicht mit drei verschiedenen Winkeln bieten große Flexibilität zur Optimierung der Beleuchtung der Proben. Mit XY-Verfahrwegen von 300 x 200 mm kann das NEXIV System alle kleinen Komponenten messen, wie beispielsweise mechanische Komponenten und Formteile. Die Inspektion von hochintegrierter Elektronik, z. B. Leiterplatten und Wafer, ist eine der Hauptanwendungen des Geräts.
VMZ-NWL200 ist ein automatisches Wafer-Messsystem, in das ein NEXIV-Videomesssystem und ein Wafer-Loader NWL200 integriert sind. NEXIV führt mit hoher Geschwindigkeit automatisch hochpräzise Messungen von 6- oder 8-Zoll-Wafern durch, die in einem Träger festgehalten werden.
NWL200 Series – Wafer Loader für IC-Inspektionsmikroskope
Die hervorragende firmeneigene Technologie von Nikon macht die NWL200 Series zur ersten Wahl von Wafer Loadern für Inspektionsmikroskope, die bis zu 100 um dünne Wafer handhaben können, einen hohen Durchsatz bieten und in den meisten Anwendungen in der Halbleiterindustrie sehr zuverlässig sind.
Die Nikon Metrology X-ray Business Unit nimmt in der gleichen Woche an der productronica in der nächsten Halle teil. Dort stehen unsere Röntgen-CT-Experten an unserem Stand bereit, um Fragen zu beantworten und das XTV System live zu präsentieren. Besuchen Sie unser X-ray Team in Hall A1 an Stand 546
