XT H 225和XT H 320

多用途微焦点CT系统,用于小型塑料连接器及铝铸件等各种部件的研发、失效分析和生产质量控制中的高分辨率检测

为严苛的检测应用提供多样化的解决方案

这些系统结合了实验室所需的多用途性和多种独家的功能,如高通量Rotating.Target、Half.Turn CT采集模式和Auto.Filament Control等,在车间对系列产品检测时可缩短时间周期,提高正常运行时间

产品亮点

根据需求灵活选择配置

通过选择不同的射线靶,CT扫描模式,可电动调整的FDD值(源到探测器距离)等。 使尼康225/320KV CT 系统可适应各种检测任务

一个射线源,5种靶选项

为您的应用选择正确的靶:从具有亚微米特征识别能力的透射靶,到性能卓越世界唯一的旋转靶2.0, 或用于更高密度工件的 320kv 反射靶

独家的225 kV Rotating.Target 2.0

允许高达450 W的连续运行,在相同功率下分辨率高出3倍,或在给定分辨率下数据采集速度快3倍。

核心功能

行业

High.Contrast Filter

XT V 系列

VOXLS 40 C 450

XT H 225 ST 2x

XT H 系列

nikon-metrology-x-ray-xth225-xt-h-225nikon-metrology-x-ray-xth225-mct-225nikon-metrology-x-ray-xth225-xt-h-320
XT H225
应用于检测中小型工件
XT H225 ST 2x
应用范围最大的机型
MCT225
应用于高精度尺寸测量
XT H320
应用于大型高密度工件
工件尺寸 工件尺寸 工件尺寸 工件尺寸
工件密度 工件密度 工件密度 工件密度
测量精度 测量精度 测量精度 测量精度
能量 能量 能量 能量
应用范围 应用范围 应用范围 应用范围
占地面积 占地面积 占地面积 占地面积

相关产品

Inspect-X 3D CT检测

Inspect-X是尼康内部自行设计的第6代业界领先的X射线和CT系统软件。Inspect-X围绕用户体验而设计,是一款先进、直观的GUI简化工作流程,实现最高效的X射线CT检测软件。
了解产品

LiB.Overhang Analysis

凭借尖端的人工智能、内部重建算法和先进的 X 射线源技术,现在可以比以前更快、更精确地以 3D 方式测量阳极Overhang.
了解产品