LiB.Overhang Analysis

凭借尖端的人工智能、内部重建算法和先进的 X 射线源技术,现在可以比以前更快、更精确地以 3D 方式测量阳极Overhang.

产品亮点

全自动化

由于提高了可再现性,自动分析可从始至终提供数值结果,而无需操作员操作。

提高效率

AI 分析技术对噪声具有耐受性,即使在高速 CT 数据集上也能可靠地工作。

专为车间设计

机器可读输出与过程控制系统集成,优化了生产过程。

核心功能

XT H 系列

XT H 225 ST 2x

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