Ressourcenzentrum

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Support und Dienstleistungen

Broschüren

Allgemeine Broschüren

Allgemeine Broschüren

Industrielle Instrumente Gesamtkatalog (Englisch)

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Nikon Metrology Solutions Broschüre (Deutsch)

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Röntgen-CT

VOXLS 40 C 450 (Deutsch)

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VOXLS 30 Serie (Deutsch)

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XT H-Serie (Deutsch)

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XT H 225 ST 2x (Deutsch)

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High.Contrast Filter

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LiB.Overhang-Analyse

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Röntgen-CT Prüfdienste

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MCT 225 (Deutsch)

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Automatisiertes CT (Englisch)

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Konfigurierbare Röntgen-CT-Systeme (Deutsch)

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Serie XT V (Deutsch)

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Laser-Radar

APDIS Intelligent Quality Stationen (Deutsch)

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APDIS Spalt- und Bündigkeitsmessung (Deutsch)

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APDIS Automobilindustrie (Deutsch)

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APDIS Laser-Radar (Deutsch)

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Video-Messsysteme

VMZ-S Serie (Englisch)

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VMA Serie (Englisch)

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Fernsteuerungs-SDK (Englisch)

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VMZ-H3030 (Englisch)

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VMZ-K Serie (Englisch)

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Manuelles Messen

Messmikroskope MM-Serie (Englisch)

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Digimicro (Englisch)

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Autokollimator (Englisch)

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Profil-Projektoren (Englisch)

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Industriemikroskopie

Mikroskop-Komponenten (Englisch)

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NIS Elements (Englisch)

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Digitalkameras für Mikroskope (Englisch)

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Wafer-Ladegerät für IC-Inspektion NWL200 (Englisch)

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Aufrechte POL-Mikroskope (Englisch)

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Inversionsmikroskope MA Serie (Englisch)

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Aufrechte Mikroskope LV-N Serie (Deutsch)

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Aufrechte Mikroskope L-Serie (Englisch)

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Stereo-Mikroskope (Englisch)

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Fallstudien

Die automatische Wafer-Inspektion von Nikon steigert die Produktivität bei Lawrence Semiconductor

Lawrence Semiconductor hat sich mit Nikon Metrology zusammengetan, um seine Wafer-Inspektionsprozesse zu erweitern. Durch die Integration des NWL 200 Wafer-Loader-Systems…

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$X-ray-CT-Sufrace-Finish-REM-Nikon$

REM Surface Engineering behebt Probleme mithilfe des Mikro-Röntgen-CT-Scannens von Nikon

REM Surface Engineering hat sich an Nikon und seine hochauflösenden Röntgentechnologien gewandt, um interne Defekte und Oberflächenrauheit in Bauteilen aufzudecken,…

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Nikons fortschrittliches CT-Scanning enthüllt die Geheimnisse der seltenen Uhr des Museum of London aus dem 17. Jahrhundert

Die CT-Scantechnologie von Nikon hat komplizierte Details einer seltenen Anhängeruhr aus dem 17. Jahrhundert aus dem Cheapside Hoard des Museum of…

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Nikons MCT225 bringt CT Klarheit in die Objektivanalyse von Tamron

Nikons Röntgen-Computertomographie-Technologie (CT) hat es dem Schwergewicht unter den Digitalkamera-Objektiven, Tamron, ermöglicht, einen noch nie dagewesenen Einblick in die Feinheiten…

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Nikons MCT225 Röntgentechnologie revolutioniert den Kunststoffspritzguss von Tochigi Nikon

Die Röntgen-Computertomografietechnologie (CT) von Nikon ermöglichte es Tochigi Nikon, einem führenden Hersteller optischer Komponenten, eine bahnbrechende Lösung zu entwickeln, die…

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Das Hauptgebäude von IntriPlex Technologies in Santa Barbara im US-Bundesstaat Kalifornien

Das Videomesssystem iNEXIV von Nikon erhält das Gütesiegel von IntriPlex Technologies

Mit dem Videomesssystem iNEXIV VMA-2520 von Nikon – dem jüngsten Produkt unter den branchenführenden Messlösungen des Unternehmens – kann IntriPlex,…

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F&E-Abteilung eines koreanischen Stahlproduzenten investiert in Röntgen-CT für die Prüfung von Schweißnähten an Fahrzeugen

POSCO, einer der weltweit größten Stahlproduzenten, hat für sein Forschungs- und Entwicklungszentrum in Incheon, Korea, ein Röntgen-CT-Gerät (Computertomograph) gekauft. Das…

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Nikon stellt ein schnelles, automatisiertes System zur Prüfung von Wafer-ID-Codes vor

Um die Qualitätskontrolle in Unternehmen, die Silizium-Wafer herstellen, zu unterstützen, bietet die Industrial Metrology Business Unit der Nikon Corporation (https://industry.nikon.com)…

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Redner bei einem geschäftlichen Meeting. Publikum im Sitzungssaal. Geschäfts- und Unternehmerkonzept.

Automatisierte optische Messtechnologie von Nikon unterstützt eine neue Messtechnikausbildung

Nach der Eröffnung des neuen Fachbereichs für Fertigungsmesstechnik im Jahr 2020 ist die Landesberufsschule Neunkirchen nun eine der modernsten Berufsschulen…

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Schnelle, kostengünstige Inspektion von Halbleiterwafern

Mit der Einführung eines programmierbaren Video-Messsystems mit automatischer Handhabung von Halbleiterwafern hat die Industrial Metrology Business Unit der Nikon Corporation…

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Whitepaper

Laser Radar revolutioniert Messungen in der Automobilfertigung

Die neueste Version, APDIS, markiert einen erheblichen technologischen Fortschritt in diesem Bereich und eignet sich besonders für den Einsatz in der Automobilfertigung...

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APDIS Laser Radar: ein Paradigmenwechsel weg von KMGs hin zu absoluten, berührungslosen Inspektion

APDIS stellt eine noch stärkere Konkurrenz zum Koordinatenmessgerät (KMG) dar, wenn es um die Präzision geht, mit der Bauteile...

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Software

Industriemikroskope

Stereomikroskope

Bildgebungssoftware

Kameras für Mikroskope

Zubehör

Verschiedene Produkte

Röntgen-CT/3D-Laserscanner/Laser-Radar

Industriemikroskope

ECLIPSE MA200 – Setup Tool Version 1.2.1 (32 Bit)

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ECLIPSE MA200 – Setup Tool Version 1.2.1 (64 Bit)

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LV Serie – Support Tools Version 2.3.3 (64 Bit)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND – Setup Tool Version 1.2.1 (32 Bit)

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ECLIPSE L300N/ L300ND/L200N/L200ND – Setup Tool Version 1.2.1 (64 Bit)

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Stereomikroskope

SMZ25/SMZ18 /SMZ1270i – Steuerungssoftware SMZ Support Tools Version 1.4.0 (64 Bit)

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Bildgebungssoftware

NIS-Elements Viewer – Version 4.11.00 (Mac)

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NIS-Elements Viewer – Version 5.22.00 (Windows)

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NIS-Elements L – Version 1.20.00 (64 Bit)

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NIS-Elements L – Version 1.22.00 (64 Bit)

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NIS-Elements F – Version 4.60.00 (64 Bit)

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NIS-Elements F – Version 5.21.00 (64 Bit)

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NIS-Elements F – Version 5.22.00 (64 Bit)

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NIS-Elements F

Ver5.42.07 64bit

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NIS-Elements D – Version 5.02.03 (64 Bit)

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NIS-Elements D – Version 5.11.03 (64 Bit)

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NIS-Elements D – Version 5.11.03 Patch 01 (64 Bit)

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NIS-Elements D – Version 5.21.03 (64 Bit)

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NIS-Elements D – Version 5.30.05 (64 Bit)

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NIS-Elements D

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements D

Ver6.10.00 (64bit)

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NIS-Elements BR – Version 5.02.03 (64 Bit)

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NIS-Elements BR – Version 5.11.03 (64 Bit)

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NIS-Elements BR – Version 5.11.03 Patch 01 (64 Bit)

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NIS-Elements BR – Version 5.21.03 (64 Bit)

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NIS-Elements BR – Version 5.30.05 (64 Bit)

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NIS-Elements BR

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements BR

Ver6.10.00 (64bit)

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NIS-Elements AR – Version 5.02.03 (64 Bit)

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NIS-Elements AR – Version 5.11.03 (64 Bit)

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NIS-Elements AR – Version 5.11.03 Patch 01 (64 Bit)

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NIS-Elements AR – Version 5.21.03 (64 Bit)

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NIS-Elements AR – Version 5.30.05 (64 Bit)

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NIS-Elements AR

Ver5.42.06 (64bit)

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NIS-Elements AR

Ver6.10.00 (64bit)

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Kameras für Mikroskope

Digital Sight Series – Steuerungssoftware NIS-Elements F Version 2.21 (englische Version)

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Qi2 Version 1.03

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.0.2 (Mac)

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Digital Sight Serie – DS-L4 Viewer Version 1.0.2 (Windows)

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Qi2 Version 2.00

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Ri2 Version 2.00

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Qi2 Version 2.10

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Ri2 Version 2.10

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.1.0

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Fi3 Version 1.10

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Qi2 Version 2.11

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Digital Sight Serie – Firmware DS-Ri2 Version 2.11

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.2.0

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.1.0 (Mac)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.1.0 (Windows)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.1.0 (Android)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.3.0

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.4.0

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.2.0 (Mac)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.2.0 (Windows)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.2.0 (Android)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.0

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.2.1 (Android)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.1

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.2

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.3

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Viewer Version 1.2.2 (Android)

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.4

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.5

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.6

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.7

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.8

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Digital Sight Serie – Anwendung DS-L4 Version 1.5.11

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Digital Sight Serie – Digital Sight 1000 Version 3.18

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Digital Sight Serie – Digital Sight 10 Version 1.10

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Digital Sight Serie – Digital Sight 10 Version 1.20

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Digital Sight Serie – Digital Sight 10 Version 1.30

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Digital Sight Serie – Digital Sight 10 Version 1.40

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Digital Sight Serie

Digital Sight 10 Version 1.50

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Digital Sight Serie

Digital Sight 50M Ver1.30

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Zubehör

HG Vorzentrierte Faserbeleuchtung – Steuerungssoftware Fasersteuerung (Version 1.0.1)

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Verschiedene Produkte

Mikroskop USB Kommunikationstreiber – micusb Version 3.0.1.13 (64 Bit)

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Mikroskop USB-Kommunikationstreiber – micusb Version 3.0.1.14 (64 Bit)

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Röntgen-CT / 3D-Laserscanner / Laser-Radar

NM API Metrolog-Lizenz

(.zip, 1kb)

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NM API PolyWorks-Lizenz

(.zip, 1kb)

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NM API CAMIO-Lizenz

(.zip, 1kb)

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Licensing Installer

NMLicensingInstaller Ver2.3 (msi-file, 52mb)

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Die automatische Wafer-Inspektion von Nikon steigert die Produktivität bei Lawrence Semiconductor

REM Surface Engineering behebt Probleme mithilfe des Mikro-Röntgen-CT-Scannens von Nikon

Nikons fortschrittliches CT-Scanning enthüllt die Geheimnisse der seltenen Uhr des Museum of London aus dem 17. Jahrhundert

Nikons MCT225 bringt CT Klarheit in die Objektivanalyse von Tamron

Nikons MCT225 Röntgentechnologie revolutioniert den Kunststoffspritzguss von Tochigi Nikon

Das Videomesssystem iNEXIV von Nikon erhält das Gütesiegel von IntriPlex Technologies

F&E-Abteilung eines koreanischen Stahlproduzenten investiert in Röntgen-CT für die Prüfung von Schweißnähten an Fahrzeugen

Nikon stellt ein schnelles, automatisiertes System zur Prüfung von Wafer-ID-Codes vor

Automatisierte optische Messtechnologie von Nikon unterstützt eine neue Messtechnikausbildung

Schnelle, kostengünstige Inspektion von Halbleiterwafern

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Laser Radar revolutioniert Messungen in der Automobilfertigung

APDIS Laser Radar: ein Paradigmenwechsel weg von KMGs hin zu absoluten, berührungslosen Inspektion

Software

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Bildgebungssoftware

Kameras für Mikroskope

Zubehör

Verschiedene Produkte

Röntgen-CT / 3D-Laserscanner / Laser-Radar