Mit der Erkennung von Details im Submikrometerbereich erfüllt die XT V Systemreihe die heutigen Anforderungen an eine leistungsstarke, zerstörungsfreie Prüfung komplexer elektronischer Komponenten. Nikons Xi Nanotech Röntgenquelle in Kombination mit branchenführenden Flachdetektoren liefert eine erstklassige Bildqualität mit nahtlosem Übergang zwischen 2D- und 3D-Inspektion.
Die marktführende Xi Nanotech Röntgen-Mikrofokusquelle von Nikon ist aufgrund ihres exklusiven integrierten Generatordesigns und ihrer beispiellosen maximalen Energie von 160 kV und 20 W True-Target-Leistung einzigartig.
Der High.Contrast Filter enthüllt verborgene Details im Röntgenbild, indem dieser eine herausragende Bildqualität sowohl von Bereichen mit hohem als auch mit niedrigem Kontrast in einem einzigen klaren Bild liefert. Bediener können nun alle Facetten der Probe schneller als je zuvor erkennen und so ihre Produktivität optimieren und steigern.
Die PCB Analysis Suite ist in der Lage, fortschrittliche Messungen und Analysen von BGA, Bonddrähten, PTH und komplexen Gehäusen wie PoP auf mehrlagigen Leiterplatten durchzuführen, mit automatischer Pass/Fail-Prüfung und Berichterstattung.
Ein extrem schräges Sichtfeld von bis zu 90° mit einer 360°-Probenrotation sorgt dank intelligenter Software und Hardware dafür, dass das betrachtete Objekt im Bildfeld bleibt
Die Systeme sind intuitiv bedienbar und nutzen branchenführende Software, um die Produktivität aller Bediener zu maximieren, wobei nur minimaler Schulungsbedarf besteht. Mit der Erkennung von Funktionen im Submikrometerbereich sind die XT V Inspektionssysteme ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in zahlreichen Branchen, einschließlich der Inspektion von PCB-Baugruppen, BGAs, Chips, medizinischen, Automobil- und Luft- und Raumfahrtkomponenten, Konsumgütern und vielem mehr.
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| XT V130C Kostengünstiges 130kV-System für die Inspektion von elektronischen Komponenten | XT V160 Premium 160kV-System für hochpräzise Röntgen- und CT-Anwendungen |
| Leistung | Leistung |
| Auflösung | Auflösung |
| Gesichtsfeld | Gesichtsfeld |
| CT Ready | CT Ready |
| X.Tract Ready | X.Tract Ready |
Wenn Sie weitere Einzelheiten zu diesem Produkt oder eine ausführlichere Beschreibung wünschen, stellt Ihnen unser Expertenteam zusätzliche Informationen zur Verfügung und arrangiert falls erforderlich einen Besuch vor Ort. Sprechen Sie mit uns im Detail über Ihr Projekt und unsere Experten werden Sie über das beste Prüfsystem für Ihre Anforderungen beraten. Bitte füllen Sie das nebenstehende Formular aus und wir werden uns in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.
