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SMZ800N
Fantastische Bildschärfe über den gesamten Vergrößerungsbereich
Ideal für Studien zur Fehleranalyse, zur Bestimmung von Fehlerursachen und zur Überprüfung von Lösungen. Oberflächenuntersuchungen von Bauteilen, Risserkennung, Korrosionsstudien, Verbundwerkstoffe, Textilien, Teile aus Werkzeugmaschinen für kritische Komponenten in der Luft- und Raumfahrt oder Bau- und Konstruktionsmaterialien lassen sich problemlos durchführen.
Nikon SMZ800N
Ein Mikroskop für die Materialwissenschaft und die Industrie. Für die Desktop- oder Maschinenintegration. QA-Funktionen für Routine- und kritische Anwendungen möglich.
Bestes in seiner Klasse: optischer 8:1-Zoom
Mit einem optischen Zoomverhältnis von 8:1 (1 bis 8-fach) übertrifft das SMZ800N den Vergrößerungsbereich früherer Modelle und ist das beste Gerät in seiner Klasse.
Produkthighlight
Bestes in seiner Klasse: optischer 8:1-Zoom
Dank des großen Sehfelds muss das Bauteil oder die Probe beim Scannen eines größeren Bereichs mit hoher Vergrößerung nicht verschoben werden.
Hochwertige Bilder
Erstaunlich klare, helle Bilder mit minimaler chromatischer Aberration über den gesamten erweiterten Zoombereich dank der außergewöhnlichen „Plan Apo WF“ und „ED plan WF“ Objektive.
Große Auswahl an Zubehör
Die zahlreichen Funktionen der Zubehörkomponenten, die für Nikons Forschungs-Stereomikroskope verfügbar sind, sind auch für das SMZ800N erhältlich, einschließlich der Digital Sight Kameras.
Ergonomisches Designkonzept für die Nutzung
Ergonomische Vorteile ergeben sich aus der Gestaltung der Bedienelemente und der Haltung des Bedieners. Die Positionierung der Bedienelemente und die im Winkel verstellbaren Beobachtungstuben ermöglichen ein komfortables, ermüdungsfreies Arbeiten.
Wesentliche Eigenschaften
Optisches System | Parallel-Optik-Typ (Vergrößerungs-Typ) |
Zoomverhältnis | 8:1 |
Zoombereich | 1 u2013 8x (1/2/3/4/6/8x stoppt) |
Gesamtvergrößerung | 5 u2013 480x (Abhängig vom Okular und den Objektiven) (koaxiale Auflichtbeleuchtung: 22,5 u2013 540x) |
Tuben | Okular-Neigungswinkel: 20u00b0 (P-B Binokulartubus) / 15u00b0 (P-TL100 Trinokulartubus) / 0u00b0-30u00b0 (P-TERG50 Trinokularer Kipptubus, P-TERG50 Trinokularer Kipptubus) |
Okulare | Okular-Neigungswinkel: 20u00b0 (P-B Binokulartubus) / 15u00b0 (P-TL100 Trinokulartubus) / 0u00b0-30u00b0 (P-TERG50 Trinokularer Kipptubus, P-TERG50 Trinokularer Kipptubus) |
Okulare | C-W10xB (F.N. 22), C-W15x (F.N. 16), C-W20x (F.N. 12,5), C-W30x (F.N. 7) |
Objektive | Plan Apo 0,5x/WF, Plan Apo 0,75x/WF, Plan Apo 1x/WF, ED Plan 1,5x/WF, ED Plan 2x/WF, Plan 1x, ED Plan 0,75x, Achro 0,5x |
Arbeitsabstand | 6,8 kg (mit P-B Binokulartubus + C-PSN Flaches Stativ) 78 mmuff08mit Plan 1xuff09 |
Gewicht (ca.) | 6,8 kg (mit P-B Binokulartubus + C-PSN Flaches Stativ) |
Zugehörige Produkte
Software
Zubehör für die SMZ-Serie
Digitalkameras für Mikroskope
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