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ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200N
Moderne Halbleitermikroskope für die Inspektion der neuesten Fabrikationen
Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und auch für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Die Kombination dieser überlegenen Optik mit einem außergewöhnlichen Beleuchtungssystem liefert Bilder mit hervorragendem Kontrast und Auflösung.
Nikon ECLIPSE L300N(D) und L200N(D)
Diese Mikroskope sind für die außergewöhnlich präzise optische Inspektion von Wafern (200 mm für die L200N-Serie und 300 mm für die L300N-Serie), Photomasken und anderen Substraten geeignet.
Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie
Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hochkontrast, Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentieller Interferenzkontrast (DIC) und optischer Kontrast durch Doppelstrahlinterferometrie.
Nikon Digital Sight Kameras
Die gesamte Palette der Digital Sight-Kameras von Nikon erfasst effizient Bilder einer Probe und übergibt sie an die Bildverarbeitungssoftware der NIS-Elements-Suite, zusammen mit Mikroskopdaten über das verwendete Objektiv, die Vergrößerungseinstellung und die Lichtintensität.
Integration von L200N und Wafer Loader NWL200
Nikon-Waferlader sind in der Halbleiterindustrie gut akzeptiert und vertrauenswürdig, und viele Installationen sind heute im Einsatz.
Produkthighlights
Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie
Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentiellem Interferenzkontrast (DIC) und Zweistrahl-Interferometrie mit hohem Kontrast.
Universelle optische Kontrastverfahren
Reflektiertes Licht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differenzieller Interferenzkontrast (DIC), Epi-Fluoreszenz und Zweistrahl-Interferometrie. Durchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation, differentieller Interferenzkontrast und Phasenkontrast.
Intelligente digitale Kommunikation
Das Mikroskop erkennt und steuert das verwendete Objektiv, die Lichtintensität, die episkopische Beleuchtung und die Blende über eine USB-Verbindung zur NIS-Elements-Software von Nikon.
Ergonomisches Gestaltungskonzept
Die optimale Positionierung der Bedienelemente mit dem winkelverstellbaren Einblicktubus ermöglicht ein ermüdungsfreies Arbeiten. Für die korrekte Beobachtung von Rohstoffen, Halbleitern und industriellen Bauteilen wird seitenrichtiges, aufrechtes geliefert.
Wesentliche Eigenschaften
Branchen
Die Applikationen konzentrieren sich auf Inspektionsaufgaben in den Bereichen Elektronik und Telekommunikation. Antennenwellenleiter werden mit höchster Präzision gemessen, ebenso wie andere Komponenten wie Wafer für Halbleiter- oder Photovoltaikgeräte und mikroelektromechanische Systeme (MEMS), die beispielsweise in Smartphones, Gyroskopen und Beschleunigungsmessern verwendet werden.
Zugehörige Produkte
Digitalkameras für Mikroskope
NWL200 Wafer Loader Serie
Software
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