Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und auch für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Die Kombination dieser überlegenen Optik mit einem außergewöhnlichen Beleuchtungssystem liefert Bilder mit hervorragendem Kontrast und Auflösung.
Diese Mikroskope sind für die außergewöhnlich präzise optische Inspektion von Wafern (200 mm für die L200N-Serie und 300 mm für die L300N-Serie), Photomasken und anderen Substraten geeignet.
Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hochkontrast, Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentieller Interferenzkontrast (DIC) und optischer Kontrast durch Doppelstrahlinterferometrie.
Die gesamte Palette der Digital Sight-Kameras von Nikon erfasst effizient Bilder einer Probe und übergibt sie an die Bildverarbeitungssoftware der NIS-Elements-Suite, zusammen mit Mikroskopdaten über das verwendete Objektiv, die Vergrößerungseinstellung und die Lichtintensität.
Nikon-Waferlader sind in der Halbleiterindustrie gut akzeptiert und vertrauenswürdig, und viele Installationen sind heute im Einsatz.
Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentiellem Interferenzkontrast (DIC) und Zweistrahl-Interferometrie mit hohem Kontrast.
Reflektiertes Licht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differenzieller Interferenzkontrast (DIC), Epi-Fluoreszenz und Zweistrahl-Interferometrie. Durchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation, differentieller Interferenzkontrast und Phasenkontrast.
Das Mikroskop erkennt und steuert das verwendete Objektiv, die Lichtintensität, die episkopische Beleuchtung und die Blende über eine USB-Verbindung zur NIS-Elements-Software von Nikon.
Die optimale Positionierung der Bedienelemente mit dem winkelverstellbaren Einblicktubus ermöglicht ein ermüdungsfreies Arbeiten. Für die korrekte Beobachtung von Rohstoffen, Halbleitern und industriellen Bauteilen wird seitenrichtiges, aufrechtes geliefert.
Die Applikationen konzentrieren sich auf Inspektionsaufgaben in den Bereichen Elektronik und Telekommunikation. Antennenwellenleiter werden mit höchster Präzision gemessen, ebenso wie andere Komponenten wie Wafer für Halbleiter- oder Photovoltaikgeräte und mikroelektromechanische Systeme (MEMS), die beispielsweise in Smartphones, Gyroskopen und Beschleunigungsmessern verwendet werden.
Wenn Sie weitere Einzelheiten zu diesem Produkt oder eine ausführlichere Beschreibung wünschen, stellt Ihnen unser Expertenteam zusätzliche Informationen zur Verfügung und arrangiert falls erforderlich einen Besuch vor Ort. Sprechen Sie mit uns im Detail über Ihr Projekt und unsere Experten werden Sie über das beste Prüfsystem für Ihre Anforderungen beraten. Bitte füllen Sie das nebenstehende Formular aus und wir werden uns in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.
