SEMICON Europa 2026

Nikon Metrology freut sich, seine Teilnahme an der SEMICON Europa 2026 bekannt zu geben – einer der wichtigsten europäischen Veranstaltungen für die Halbleiterindustrie.
10.–13. November 2026
Dienstag, 10. November 2026: 09:00 – 18:00 Uhr Mittwoch, 11. November 2026: 09:00 – 18:00 Uhr Donnerstag, 12. November 2026: 09:00 – 18:00 Uhr Freitag, 13. November 2026: 09:00 – 16:00 Uhr
Messe München, Deutschland

Entdecken Sie innovative Lösungen für die Inspektion, Messtechnik und Analyse in der Halbleiterindustrie 

Nikon Metrology freut sich, seine Teilnahme an der SEMICON Europa 2026 bekannt zu geben – einer der wichtigsten europäischen Veranstaltungen für die Halbleiterindustrie. In diesem Jahr wird Nikon Metrology gemeinsam mit Nikon Precision vertreten sein und ein umfassendes Portfolio an Lösungen für die Halbleiterfertigung, Inspektion, Messtechnik, Fehleranalyse und Prozessoptimierung präsentieren. 

Besuchen Sie uns in Halle B1, Stand 117, und entdecken Sie die neuesten Innovationen, die Hersteller dabei unterstützen, die Qualität zu verbessern, die Effizienz zu steigern und den wachsenden Anforderungen der modernen Halbleiterproduktion gerecht zu werden. 

Ausgestellte Technologien 

NEXIV VMZS Video-Messsystem 

Das NEXIV VMZ-S kombiniert hochpräzise Optik, Automatisierung und intelligente Messsoftware, um schnelle und zuverlässige dimensionale Messungen an Halbleiter- und mikroelektronischen Bauteilen zu ermöglichen. Das System eignet sich ideal für die Inspektion komplexer und miniaturisierter Strukturen und liefert dabei präzise und reproduzierbare Ergebnisse. 

Anwendungsbereiche: 

  • Inspektion von Halbleiter-Packages 
  • Messung von Leadframes und Steckverbindern 
  • Präzisionsbauteile für die Elektronik 
  • Forschung & Entwicklung sowie Prozessvalidierung 

ECLIPSE LV100AMS Automatisiertes Mikroskop 

Das ECLIPSE LV100AMS ist Nikons vollautomatisiertes, KI-gestütztes Industriemikroskop, das schnelle und konsistente Inspektionsergebnisse bei minimalem Bedienereingriff ermöglicht. Durch die Kombination von automatisierter Bilderfassung, intelligenter Analyse und automatischer Berichterstellung in einem einzigen Workflow eignet es sich ideal für die Halbleiterinspektion, Fehleranalyse und Qualitätssicherung. 

Wichtige Vorteile: 

  • KI-gestützte automatisierte Inspektion 
  • Bilderfassung und Analyse per Knopfdruck 
  • Reduzierung von Bedienereinfluss und höhere Reproduzierbarkeit 
  • Ideal für Qualitätssicherung und Fehleranalyse in der Halbleiterindustrie 
  • Automatisierte Berichterstellung für effiziente Arbeitsabläufe 

ECLIPSE L200N mit Nikon Wafer Loader 

Erleben Sie die automatisierte Waferinspektion mit dem ECLIPSE L200N in Kombination mit dem Nikon Wafer Loader. 

Diese leistungsstarke Lösung optimiert die Handhabung und Inspektion von Wafern und ermöglicht eine höhere Produktivität, bessere Prozesssicherheit und konsistente Ergebnisse bei reduziertem manuellem Aufwand. 

Wichtige Vorteile: 

  • Automatisiertes Wafer-Handling 
  • Verbesserte Prozesseffizienz 
  • Höhere Wiederholgenauigkeit 
  • Gesteigerter Inspektionsdurchsatz 

SMZ25 Stereomikroskop 

Das SMZ25 Stereomikroskop bietet eine außergewöhnliche Zoomleistung und herausragende Bildqualität für Anwendungen in der Halbleiterinspektion und Fehleranalyse. 

Dank seines großen Zoom-Bereichs können Anwender nahtlos von der Gesamtansicht zur detaillierten Untersuchung kleinster Strukturen wechseln. Damit ist es ein unverzichtbares Werkzeug für Labore, F&E-Abteilungen und Produktionsumgebungen. 

Nikon Röntgen-CT-System 

Erleben Sie, wie die fortschrittliche Röntgen-CT-Technologie von Nikon die zerstörungsfreie Prüfung interner Strukturen ermöglicht, die mit optischen Verfahren nicht sichtbar gemacht werden können. 

Das System bietet detaillierte 3D-Visualisierung und Analyse für: 

  • Inspektion von Halbleiter-Packages 
  • Erkennung von Poren und Defekten 
  • Fehleranalyse 
  • Prozessoptimierung 
  • Qualitätssicherung 

Fokus auf Innovationen für die Halbleiterindustrie 

Da Halbleiterbauelemente immer kleiner und gleichzeitig komplexer werden, benötigen Hersteller hochpräzise und zuverlässige Inspektions- und Messtechniklösungen entlang der gesamten Produktionskette. 

Auf der SEMICON Europa 2026 präsentieren Nikon Metrology und Nikon Precision Lösungen für: 

  • Waferfertigung und Waferinspektion 
  • Fortschrittliche Packaging-Technologien 
  • Prozesskontrolle und Qualitätssicherung 
  • Material- und Defektanalyse 
  • Fehleranalyse und Troubleshooting 
  • Forschung und Entwicklung 

Ganz gleich, ob Sie in der Halbleiterfertigung, Mikroelektronik, im Advanced Packaging, in der Forschung oder in der Qualitätssicherung tätig sind – unsere Experten stehen Ihnen für individuelle Gespräche zu Ihren Anwendungen und Herausforderungen zur Verfügung. 

Treffen Sie unsere Experten 

Unsere Spezialisten für Halbleiterfertigung, Mikroskopie, Messtechnik und Röntgen-CT-Prüfung stehen Ihnen während der gesamten Messe für Live-Demonstrationen, technische Fragen und individuelle Beratung zur Verfügung.

Details zur Veranstaltung

Veranstaltungsort
Messe München, Deutschland
Veranstaltungsart
Live-Veranstaltung
Veranstaltungsdatum
10.–13. November 2026
Veranstaltungszeiten
Dienstag, 10. November 2026: 09:00 – 18:00 Uhr Mittwoch, 11. November 2026: 09:00 – 18:00 Uhr Donnerstag, 12. November 2026: 09:00 – 18:00 Uhr Freitag, 13. November 2026: 09:00 – 16:00 Uhr
Standnummer
Hall B1, Stand 117
Name des Redners
David Flemming, Oliver Sowa, Philipp Wachenfeld, Timo Körmendy, Oliver Günnewig, Merten Kuna, Sergei Kolobov
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