Nikon Corporation (Nikon) 宣布为其 XT V 系列 X 射线和 CT 系统推出全面增强功能套件，进一步巩固该平台作为电子部件无损检测领域世界级解决方案的地位。这些增强功能使操作员能够获得更优图像质量、扫描更重样品，并保护敏感部件免受静电放电和辐射的损坏。
XT V 系列提供一项软件增强功能与五项硬件增强功能作为可选升级，使客户可根据具体应用需求定制系统方案。
软件增强功能：
- 高对比度滤光片 2.0：提供始终清晰的成像效果，确保对于任何样品形状和密度组合均可即时发现缺陷。
硬件增强功能：
- 重型托盘：支持扫描更大、更重的部件。操作员可批量扫描更多部件，提升检测能力。
- 钻石视窗：可在整个工作范围内提供更佳的图像对比度，尤其适用于低密度和混合材料样品，能够降低噪声并加快扫描速度。
- 低剂量准直器：保护对辐射敏感的电子元件，最大限度降低半导体器件等敏感部件的辐射剂量，同时支持大批量安全检测。
- ESD 安全功能升级：当安装在防静电区域 (EPA) 中时，可按照 IEC 6100-4-2、ANSI/ESD S20.20 和 JEDEC JESD625 标准对敏感电子部件进行防静电检测，从而确保集成至防静电流程中，让用户充满自信。
- 高放大倍率 CT 臂：支持对小型样品进行更高放大倍率 CT 扫描，使操作员能够观察到比以往更精细的细节。
XT V 系列在电子检测应用领域持续展现卓越性能，涵盖 PCB、BGA、芯片及半导体器件等检测场景。该系列延续了其市场领先的 Xi 微焦点 X 射线源以及强大的图像增强能力，而全新增强功能则为电子制造、半导体生产及质量控制领域的客户带来更多价值。
有关增强后的 XT V 系列的更多信息，请访问 Nikon 的网站。
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