主要推广产品:
型号: XT H225 ST 2x
优点:
HALF.TURN CT,快速CT采集
ROTATING.TARGET 2.0旋转靶
QUICK.CHANGE,快速更换灯丝
Dual Materials challenge挑战多材料扫描
尼康公司的工业计量事业部 (IMBU) (www.industry.nikon.com) 推出了首款创新型高性能 X 射线 CT(计算机断层扫描)系统,可提供更高水平的精度、分辨率和扫描速度,现已可供订购。大型 VOXLS 40 C 450 可以检测不同尺寸和密度的物品的内部和外部,广泛适用于工业领域、检测机构及学术研究。无论是锂离子电池模组还是其内部的单个电池、航空航天或汽车行业增材制造的零件,或是 F1 赛车的碳纤维底盘组件,均可使用该新系统进行无损检测。
系统采用尼康自主生产的专有双微焦点 X 射线源,让用户能够灵活检测各种组件。450 kV 微焦点源可以穿透大型或高密度零件,225 kV 微焦点源可用于检测小型或低密度组件。两个微焦点源均采用尼康独特的旋转靶技术,在行业领先的功率下提供超高清分辨率,可以轻松快速地发现物体内部的细微瑕疵。VOXLS 40 C 450 兼容多种尼康 CT 采集模式,包括 X.Tend、helical CT、Offset.CT、Panel Scan 和 Half.Turn CT,可以允许更大的测量体积、提供更高的分辨率及图像质量。