ระบบเหล่านี้ผสานความสามารถในการปรับตัวที่จำเป็นในห้องปฏิบัติการเข้ากับคุณสมบัติพิเศษ เช่น 225 kV การหมุน เป้าหมาย 2.0, โหมดการรับซีทีแบบ Half.Turn และการควบคุมเส้นใยอัตโนมัติ เพื่อลดระยะเวลารอบการทำงานและปรับปรุงสภาพพร้อมใช้งานเมื่อใช้สำหรับการตรวจสอบซีรีส์พื้นที่ผลิต
ด้วยตัวเลือกของแหล่งกำเนิดเอกซเรย์ Target กลยุทธ์ในการทำ CT scan และฟังก์ชั่นเพิ่มเติมต่างๆ เช่น การปรับระยะห่างระหว่างแหล่งกำเนิดเอกซเรย์ถึงตัวรับภาพด้วยมอเตอร์ สามารถใช้งานได้ทั้งระบบ XT H จึงมีความหลากหลายและรองรับการตรวจสอบได้อย่างครอบคลุม
สามารถสแกนวัตถุทรงสูงได้ในกระบวนการสแกนหาข้อมูลเพียงครั้งเดียว ซึ่งช่วยขจัดสิ่งแปลกปลอมที่เกิดจาก cone beam และรอยต่อจากการสแกนหลายครั้ง นอกจากนี้ยังให้ประโยชน์เพิ่มเติมในการสแกนวัตถุด้วยกำลังขยายที่สูงขึ้น ส่งผลให้มีความละเอียดสูงขึ้นอย่างมีนัยสำคัญ
ช่วยให้สามารถทำงานต่อเนื่องได้สูงสุดถึง 450W ด้วยความละเอียดสูงถึงสามเท่าในการใช้กำลังไฟเท่าเดิม รวมถึงการรวบรวมข้อมูลที่เร็วขึ้นถึงสามเท่าสำหรับความละเอียดที่กำหนด
 |  |  |
| XT H225 สำหรับการตรวจสอบชิ้นส่วนขนาดเล็กถึงขนาดกลาง | XT H225 ST 2x ระบบที่ครอบคลุมสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย | MCT225 มาตรวิทยา X-ray CT ที่มีความแม่นยำสูง |
| ขนาดของชิ้นงาน | ขนาดของชิ้นงาน | ขนาดของชิ้นงาน |
| ความหนาแน่นของชิ้นงาน | ความหนาแน่นของชิ้นงาน | ความหนาแน่นของชิ้นงาน |
| ความแม่นยำ | ความแม่นยำ | ความแม่นยำ |
| พลังงาน | พลังงาน | พลังงาน |
| คุณสมบัติรอบด้าน | คุณสมบัติรอบด้าน | คุณสมบัติรอบด้าน |
| ขนาดเครื่องในการติดตั้ง | ขนาดเครื่องในการติดตั้ง | ขนาดเครื่องในการติดตั้ง |
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว
