Products and promotions may differ based on your selected region.
กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม
![ECLIPSE-L300nd-l300n-l200nd-l200n_L300Na](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2021/12/ECLIPSE-L300nd-l300n-l200nd-l200n_L300Na-500x500.png)
UPRIGHT MICROSCOPES
ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200N
กล้องจุลทรรศน์เซมิคอนดักเตอร์ในช่วงต่างๆ ที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบวงจรรวม (IC) จอแสดงผลแบบแบน (FPD) อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีการรวมสเกลขนาดใหญ่ (LSI) และการใช้งานอื่นๆ อีกมากมาย
![ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2021/12/ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlampLV150-500x500.png)
UPRIGHT MICROSCOPES
ECLIPSE LV150NA และ LV150N
ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นสำหรับเทคนิคคอนทราสต์ออปติคอลแบบ episcopic ต่างๆ (BF-DF-DIC-POL-Fluorescence-Interferometry) ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัลและแท่นวางที่เคลื่อนที่ในแกน XY ขนาดใหญ่ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุต่างๆ
![ECLIPSE-LV100NDA-LV100ND_LEDlamp+LV100ND](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2021/12/ECLIPSE-LV100NDA-LV100ND_LEDlampLV100ND-500x500.png)
UPRIGHT MICROSCOPES
ECLIPSE LV100NDA และ LV100ND
ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นนี้มีความสามารถในการใช้เทคนิคคอนทราสต์แบบออปติคอลทั้ง episcopic และ diascopic อย่างกว้างขวาง และด้วยกล้องถ่ายภาพดิจิทัลที่เป็นอุปกรณ์เสริม เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบวัสดุในการใช้งานในอุตสาหกรรมหลายประเภท
![](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2022/01/industrial-microscope_MA200-500x500.png)
INVERTED MICROSCOPES
ECLIPSE MA200
ECLIPSE MA200 ใช้แนวคิดการออกแบบที่เป็นนวัตกรรมใหม่ โดยนำเสนอกล้องจุลทรรศน์หัวกลับแบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นสำหรับการตรวจสอบความเปรียบต่างของแสงแบบ episcopic เมื่อใช้ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัล จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบวัสดุโลหะในงานอุตสาหกรรมหลายประเภท
![MA100N](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2021/12/MA100N-500x500.png)
INVERTED MICROSCOPES
ECLIPSE MA100N
กล้องจุลทรรศน์หัวกลับแบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่น กะทัดรัด ราคาไม่แพงสำหรับเทคนิคความเปรียบต่างทางแสงแบบ episcopic เมื่อรวมกับอุปกรณ์เสริมกล้องถ่ายภาพดิจิทัล จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบวัสดุโลหะในงานอุตสาหกรรมหลายประเภท
![](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2022/01/industrial-microscope_Ci-Pol-500x500.png)
ECLIPSE LV100N POL และ Ci-POL
ชุดกล้องจุลทรรศน์โพลาไรซ์ที่ใช้ในการสังเกตคุณสมบัติ birefringent ของตัวอย่าง anisotropic โดยการสังเกตคอนทราสต์ของภาพและการเปลี่ยนแปลงของสี Nikon ได้นำเสนอระบบสำหรับการศึกษาทั้งเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ
![NWL_L200N](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2021/12/NWL_L200N-500x500.png)
ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader
รุ่น NWL200 ที่มีคุณสมบัติครบครันที่รองรับข้อกำหนดการตรวจสอบอย่างครบถ้วนสำหรับเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) โดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอลหรือเครื่องมือวัดขนาดสามมิติ เช่น Nikon NEXIV
![Software_LV150N+DSFi3+PC](https://industry.nikon.com/th-th/wp-content/uploads/sites/23/2021/12/Software_LV150NDSFi3PC-500x500.png)
ซอฟต์แวร์
ซอฟต์แวร์ NIS Elements เป็นตัวควบคุมกล้อง Nikon Digital Sight เพื่อจับภาพที่ดีที่สุดสำหรับการประมวลผล จัดระเบียบรูปภาพ ประมวลผลอย่างมีเหตุผลและการดำเนินงานที่ราบรื่น