ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader

NWL200 wafer loaders ที่เป็นนวัตกรรมใหม่ของ Nikon รองรับการตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอลหรือระบบการวัดขนาดสามมิติ เช่น Nikon NEXIV
NWL_L200N

โหลดเดอร์ที่เชื่อถือได้และมีความชำนาญสำหรับการจัดการเวเฟอร์ที่หลากหลาย

NWL ซีรี่ส์คือกลุ่มผลิตภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์เวเฟอร์โหลดเดอร์จาก Nikon ที่สามารถถ่ายโอนเวเฟอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) ไปจนถึงความหนา 100 ไมครอน (ตัวเลือก) และส่งไปยังกล้องจุลทรรศน์ Nikon Eclipse L200N และ LV150N หรือระบบการวัดขนาดสามมิติด้วย NEXIV VMZ-S

ซีรีส์ NWL200 – ตัวโหลดเวเฟอร์สำหรับกล้องจุลทรรศน์สำหรับตรวจสอบ IC

เทคโนโลยีที่เป็นเอกสิทธิ์เฉพาะของ Nikon ทำให้ NWL200 ซีรีส์เป็นผลิตภัณฑ์ตัวโหลดแผ่นเวเฟอร์รุ่นแรกสำหรับกล้องจุลทรรศน์ในการตรวจสอบที่สามารถนำแผ่นเวเฟอร์บางเพียง 100 ไมครอน ออกมาได้ ให้ปริมาณงานสูงและการตรวจสอบที่เชื่อถือได้สำหรับการใช้งานส่วนใหญ่ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์

จุดเด่นของผลิตภัณฑ์

ให้ความน่าเชื่อถือสูงในการผลิตเซมิคอนดักเตอร์

เมื่อแหล่งจ่ายไฟขัดข้องโดยไม่คาดคิด หัวจับสูญญากาศของแขนมาโครจะยังคงทำงาน ทำให้สามารถถอดแผ่นเวเฟอร์ออกได้อย่างปลอดภัย

ฟังก์ชั่นการตรวจสอบมาโคร

รองรับรูปแบบด้านหน้าของเวเฟอร์ของเซมิคอนดักเตอร์ ขอบด้านหลัง และการตรวจสอบพื้นที่ตรงกลาง ความเร็วในการหมุนเวเฟอร์และมุมเอียงถูกตั้งค่าได้ทั้งแบบโดยอัตโนมัติหรือด้วยตนเอง

ออกแบบมาเพื่อรองรับปริมาณงานสูงสุด

การเลื่อนตลับเวเฟอร์ที่รวดเร็วพร้อมกลไกการตั้งศูนย์แบบไม่ต้องสัมผัส ช่วยให้วางแนวเวเฟอร์ได้อย่างรวดเร็วและแม่นยำโดยใช้ระบบ multi-arm สำหรับการโหลดและการเคลื่อนย้ายเวเฟอร์ด้วยความแม่นยำสูงสุด

การออกแบบตามหลักการยศาสตร์

NWL200 ได้รับการออกแบบตามหลักกายศาสตร์เพื่อให้ใช้งานและควบคุมได้ง่าย

วางตำแหน่งไว้ที่ 35 องศา ทางด้านซ้าย ตำแหน่งในช่องเวเฟอร์และการตลับเวเฟอร์ทั้งตลับนั้นกลายเป็นเรื่องง่าย

คุณสมบัติหลัก

Wafer Loader สำหรับการตรวจสอบ IC NWL200

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง

ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150

ECLIPSE LV150NA และ LV150N

ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่ยืดหยุ่นได้สำหรับเทคนิคคอนทราสต์ออปติคอลแบบ episcopic ต่างๆ (BF-DF-DIC-POL-Fluorescence-Interferometry) เมื่อใช้ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัลและสเตจเคลื่อนที่ในแกน XY ขนาดใหญ่ เครื่องมือนี้จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบสารเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุต่างๆ
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200N

ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200NA ของ Nikon คือกลุ่มผลิตภัณฑ์กล้องจุลทรรศน์เซมิคอนดักเตอร์ที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบวงจรรวม (IC) จอรับภาพแบบแบน (FPD) อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีการผสานรวมขนาดใหญ่ (LSI) และการใช้งานอื่นๆ อีกมากมาย
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

รุ่น NEXIV VMZ-S

ระบบการวัดขนาด 3 มิติ โดยกลุ่ม NEXIV VMZ-S ของ Nikon มอบความแม่นยำ ความเร็ว และความสามารถในการใช้งานสูงสำหรับแอปพลิเคชั่นการตรวจสอบจนถึงการวัดระดับไมโครเมตร
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

พูดคุยกับเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้

หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ

พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ

กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว