Products and promotions may differ based on your selected region.
Tilted CT: การตรวจสอบด้วย Laminography ความละเอียดสูง
ความละเอียด ความคมชัด และความเร็ว
Tilted CT ฟังก์ชั่นอันล้ำสมัยของ Nikon คือวิธีการตรวจสอบด้วยเอกซเรย์ที่ใช้แกนหมุนแบบทำมุม ปรับปรุงความละเอียดของว็อกเซลได้สูง สำหรับชิ้นงานที่มีอัตราส่วนภาพสูง Tilted CT จะสร้างกำลังขยายที่เพิ่มขึ้น และปริมาตร 3 มิติ จะมีความละเอียดสูงขึ้น จากภาพเอกซเรย์ 2 มิติ นับพันภาพ รายละเอียดเล็กๆน้อยๆ ที่ถูกซ่อนหรือปกปิดไว้ก่อนหน้านี้ในกล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์ จะถูกมองเห็น กำลังขยายสูงขึ้น ความคมชัดดีขึ้น รวมถึงการรับข้อมูลได้เร็วขึ้น
จุดเด่นของผลิตภัณฑ์
การหมุนของมุมเอียง
ตรงกันข้ามกับ 3D CT ทั่วไป Tilted CT ใช้แกนหมุนที่ทำมุมเอียง เนื่องจากชิ้นงานจะสามารถหมุนโดยเข้าใกล้กับแหล่งกำเนิดเอกซเรย์ได้มากขึ้น จึงสามารถมุ่งเน้นไปที่คุณลักษณะที่ต้องการตรวจสอบได้ถึงสิบไมครอน แม้แต่กับชิ้นงานที่มีความเป็นระนาบ แบน และมีขนาดใหญ่กว่าก็ตาม
แยกพื้นที่ที่สนใจได้อย่างชัดเจน
ภาพสไลด์ 2D จากข้อมูล Tilted CT 3D ช่วยให้สามารถแยกแยะส่วนประกอบต่างๆ ได้ เพื่อการตรวจสอบแบบไม่ทำลายชิ้นงานที่ชัดเจนยิ่งขึ้น รายละเอียดเล็กๆน้อยๆ และพื้นที่ขนาดเล็กที่สนใจจะถูกเปิดเผย และสามารถตรวจสอบได้อย่างมีประสิทธิภาพมากกว่าภาพจากกล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์
โฟกัสโดยไร้อุปสรรค
Tilted CT ช่วยให้มองเห็นส่วนประกอบได้เต็มที่และไม่มีสิ่งกีดขวางขณะหมุนผ่านลำแสงรูปกรวยของเอกซเรย์ ซึ่งช่วยลดความเสี่ยงของการซ้อนทับของส่วนประกอบในชิ้นงานที่ซับซ้อนหรือการบดบังจากวัสดุที่มีความหนาแน่นสูง
ตรวจสอบได้รวดเร็วและมีประสิทธิภาพยิ่งขึ้น
สามารถตรวจสอบวัตถุที่มีลักษณะความเป็นระนาบและแบนได้อย่างแข็งแกร่งและมีประสิทธิภาพมากขึ้น โดยใช้เวลาน้อยกว่าการตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์ ซึ่งในการทดสอบโดยเปรียบเทียบการแสกนหนึ่งครั้ง การสแกนโดยใช้กล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์ใช้เวลานานกว่าเจ็ดชั่วโมง แต่ด้วย Tilted CT จะใช้เวลาน้อยกว่าหนึ่งชั่วโมง
การใช้งานทางอุตสาหกรรม
FAQs
Laminography หรือบางครั้งเรียกว่า Computed Laminography (CL) เป็นการตรวจสอบด้วยเอกซเรย์ประเภทหนึ่งโดยที่แนวแกนของการหมุนชิ้นงานจะเอียงเป็นมุมเฉียงกับลำแสงเอกซเรย์ (แกนจากแหล่งกำเนิดเอกซเรย์ไปยังจอรับภาพ) ในลักษณะเดียวกันกับการแสกนแบบ CT และการสแกนแบบ Laminography จะใช้ภาพเอกซเรย์หลายพันภาพที่ได้รับเมื่อชิ้นงานหมุนได้ 360 องศา เพื่อสร้างปริมาตร 3 มิติ ขึ้นใหม่ การวิเคราะห์ที่ดำเนินการกับชุดข้อมูล CT แบบนี้ สามารถจำลองและทำได้บนชุดข้อมูลของ Laminography เช่นกัน
ทั้งการถ่ายภาพ Radiography และ Laminography จะให้ภาพที่มีความละเอียดสูงมาก เนื่องจากตัวชิ้นงานสามารถวางตำแหน่งไว้ใกล้กับแหล่งกำเนิดเอกซเรย์ อย่างไรก็ตาม เนื่องจาก Radiography เป็นเทคนิค 2D การถ่ายภาพจะไม่ได้ให้ความลึกแก่ภาพ และชิ้นงานที่ซับซ้อนอาจสร้างภาพได้ยากเนื่องจากการซ้อนทับของส่วนประกอบต่างๆ ส่วนการทำ Laminography จะเป็นเทคนิคการตรวจสอบด้วยเอกซเรย์โดยจะทำแผนที่ความลึกผ่านระนาบนับร้อยหรือหลายพันระนาบตลอดทั้งตัวชิ้นงาน
ทั้งสองอย่างเป็นการตรวจสอบด้วยเอกซเรย์ประเภทหนึ่ง แต่ความแตกต่างคือการวางแนวที่ชิ้นงานจะหมุนในระหว่างการตรวจ สำหรับ CT ชิ้นงานจะหมุนรอบแกนโดยตั้งฉากกับลำแสงเอกซเรย์ (แกนจากแหล่งกำเนิดไปยังจอรับภาพ) ในขณะที่ Laminography ตัวชิ้นงานจะหมุนรอบแกนในมุมเอียงเข้ากับลำแสงเอกซเรย์
ตามทฤษฎีแล้วสามารถตรวจสอบชิ้นงานได้ทุกขนาดด้วย Tilted CT ขนาดของชิ้นงานและพื้นที่ตรวจสอบบนชิ้นงานจะถูกจำกัดด้วยขนาดของตัวเครื่องที่ใช้และการปฏิบัติงานจริงของการจับยึดตัวชิ้นงานให้อยู่กับที่ในมุมเอียง ตัวอย่างเช่น ชิ้นงานที่มีลักษณะแบนเรียบที่ยาวกว่า 0.5 ม. อาจยากต่อการจับยึดไว้ในระหว่างการตรวจสอบ
ชิ้นงานทุกประเภทสามารถตรวจสอบได้ด้วย Tilted CT แต่เทคนิคนี้มักใช้กับชิ้นงานในลักษณะแบนราบ เนื่องจากในการแสกน CT ทั่วไป ลักษณะด้านกว้างของชิ้นงานที่แบนราบจะเพิ่มความยาวเส้นทางของเอกซเรย์ไปตามระนาบวัตถุ และขนาดของชิ้นงานทำให้แกนการหมุนอยู่ในตำแหน่งที่ไกลจากแหล่งกำเนิดเอกซเรย์เพื่อหลีกเลี่ยงการชนกัน ซึ่ง Tilted CT นั้นสามารถเอาชนะปรากฏการณ์ทั้งสองได้ ดังนั้นจึงเป็นที่นิยมสำหรับชิ้นงานในลักษณะนี้
ทั้ง Tilted CT และกล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์ ทั้งสองมีความสามารถในการสร้างปริมาตร 3 มิติ ที่มีความละเอียดสูงบนชิ้นงานขนาดใหญ่ แม้ว่ากล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์จะมีกำลังขยายที่สูงขึ้น ซึ่งก็เป็นไปได้เช่นกันสำหรับ Tilted CT แต่เวลาในการรับข้อมูลจะนานกว่าการสแกนแบบ Tilted CT หลายชั่วโมง กล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์ยังเป็นระบบเฉพาะ ซึ่งจะมีราคาสูงกว่ามาก และไม่มีความยืดหยุ่นเหมือนกับระบบเอกซเรย์ CT ของ Nikon โดยมีเทคนิคการถ่ายภาพรังสีและ CT ซึ่งได้นำเสนอโซลูชั่นสำหรับการใช้งานอื่นๆ ในห้องปฏิบัติการ
ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง
LiB.Overhang Analysis
Inspect-X สำหรับ 3D CT
XT H Series
พูดคุยกับเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว