ECLIPSE LV150NA และ LV150N

ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่ยืดหยุ่นได้สำหรับเทคนิคคอนทราสต์ออปติคอลแบบ episcopic ต่างๆ (BF-DF-DIC-POL-Fluorescence-Interferometry) เมื่อใช้ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัลและสเตจเคลื่อนที่ในแกน XY ขนาดใหญ่ เครื่องมือนี้จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบสารเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุต่างๆ
ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150

กล้องจุลทรรศน์แบบแยกส่วนได้ ควบคุมด้วยมอเตอร์และใช้งานแบบแมนนวล

เลนส์ Nikon CFI60-2 ที่ยอดเยี่ยมนั้นให้ภาพที่ยอดเยี่ยมทั้งเลนส์ใกล้ตาและกล้องถ่ายภาพดิจิทัลของ Nikon พร้อมซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ ด้วยการออกแบบการแยกส่วน กล้องจุลทรรศน์อย่างสากล ช่วยให้สามารถใช้เทคนิคความเปรียบต่างเชิงแสงเสริมบนขาตั้งกล้องจุลทรรศน์

Nikon ECLIPSE LV150NA และ LV150N

กล้องจุลทรรศน์ที่มีไฟส่องเฉพาะจุดเหล่านี้มีไว้สำหรับการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ วัสดุอุตสาหกรรม และส่วนประกอบ นอกจากนี้ยังเหมาะสำหรับการวิจัยและพัฒนา

Nikon CFI60-2 Optical Series

นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่

กล้อง Nikon Digital Sight

กล้อง Digital Sight ทั้งหมดของ Nikon สามารถจับภาพตัวอย่างและส่งไปยังซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพของชุด NIS-Elements ร่วมกับข้อมูลกล้องจุลทรรศน์บนเลนส์ใกล้วัตถุ การตั้งค่าการขยาย และความเข้มของแสงเมื่อใช้ LV-ECON E controller

บูรณาการของ LV150N และ Wafer Loader NWL200

Wafer loaders ของ Nikon ได้รับการยอมรับและไว้วางใจเป็นอย่างดีในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ และปัจจุบันมีการใช้งานและมีการติดตั้งจำนวนมาก

จุดเด่นของผลิตภัณฑ์

วิธีการ Universal Optical Contrast

แสงสะท้อน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์รบกวนที่แตกต่างกัน (DIC), epi-fluorescence และ two-beam interferometry

อุปกรณ์เสริมและชิ้นส่วนต่างๆ

ตั้งแต่ชุดส่องสว่างไปจนถึงช่องมองภาพ ส่วนประกอบจะถูกเลือกให้ตรงกับการใช้งานของผู้ใช้ ซึ่งรวมถึงขาตั้ง แท่นวาง เลนส์ใกล้วัตถุ แผ่นหมุนเลนส์ หัวออปติคอล เลนส์ใกล้ตา กล้องดิจิทัล ฟิลเตอร์ และอุปกรณ์เสริมสำหรับเทคนิคคอนทราสต์

การสื่อสารดิจิทัลอัจฉริยะ

ด้วยตัวควบคุม LV-ECON E กล้องจุลทรรศน์ LV150NA และ LV150N สามารถตรวจจับและควบคุมเลนส์ใกล้วัตถุ ความเข้มของแสง รูรับแสง และคอนทราสต์แบบ epi ผ่านซอฟต์แวร์ NIS-Elements ของ Nikon LV150N ตรวจจับและรายงานเกี่ยวกับเลนส์ใกล้วัตถุโดยใช้ LV-NU5I และ LV-INAD

ออกแบบตามหลักการยศาสตร์

การวางตำแหน่งที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการควบคุมของผู้ปฏิบัติงานด้วย eye-tube แบบปรับมุมได้ช่วยให้ทำงานได้อย่างไม่เมื่อยล้า ภาพทางขวาที่แสดงขึ้นมามีไว้สำหรับการตรวจสอบวัตถุต่างๆ เซมิคอนดักเตอร์ และส่วนประกอบทางอุตสาหกรรมอย่างถูกต้อง

คุณสมบัติหลัก

การตรวจสอบพื้นผิววัสดุและเซมิคอนดักเตอร์

ตัวอย่างการใช้งานได้แก่ การตรวจสอบพื้นผิวเซมิคอนดักเตอร์และบรรจุภัณฑ์ของอุปกรณ์ จอรับภาพแบบแบน (FPD) ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ และวัสดุนวัตกรรมโดยใช้เทคนิคคอนทราสต์แบบ episcopic โดยเฉพาะ

รวมรุ่นกล้องจุลทรรศน์ Upright LV-N

รวมรุ่น Digital Sight

รวมรุ่น NWL200 Wafer Loader

LV150NLV150NA
ฐานกล้อง:ความสูงชิ้นงานสูงสุด: 38 มม. (เมื่อใช้กับจานหมุน LVNU5A U5A และแท่นวาง LV-S32 3x2 / แท่นวาง LV-S64 6x4)
*73 มม. เมื่อใช้กับตัวยกแบบคอลัมน์เดียว
แหล่งพลังงานภายใน 12V50W สำหรับปุ่มปรับหรี่ หยาบ และละเอียด
ซ้าย: ปรับหยาบและละเอียด / ขวา: ปรับละเอียด ระยะสโตรก 40 มม.
การปรับหยาบ: 14 มม./รอบ (พร้อมการปรับแรงบิด, กลไกการโฟกัสใหม่) การปรับละเอียด: 0.1 มม./รอบ (1 ไมโครเมตร/การไล่ระดับ)
ระยะห่างของรูยึดสเตจ: 70 x 94 (ยึดด้วยสกรู M4 จำนวน 4 ตัว)
จานหมุน:C-N6 ESD Sextuple Nosepiece ESD
LV-NU5 Universal Quintuple Nosepiece ESD
LV-NBD5 BD Quintuple Nosepiece ESD
LV-NU5I Intelligent Universal Quintuple Nosepiece ESD
LV-NU5A Motorized Universal Quintuple Nosepiece ESD
LV-NU5AC Motorized Universal Quintuple Nosepiece ESD
ไฟส่องสว่าง Episcopic :LV-UEPI-N
LV-LH50PC 12V50W โคมไฟแบบตั้งศูนย์กลาง, LV-LL LED โคมไฟ สวิตช์
Bright/darkfield และ linked aperture stop (อยู่ตรงกลาง), field diaphragm (อยู่ตรงกลาง)
ยอมรับ ฟิลเตอร์ ø 25 มม. (NCB11, ND16, ND4), polarizer/analyzer, แผ่น λ , บาลานเซอร์แสงกระตุ้น พร้อมกับเครื่องป้องกันเสียงรบกวน

LV-UEPI2
LV-LH50PC 12V50W โคมไฟแบบตั้งศูนย์กลาง, LV-LL LED โคมไฟ
HG ไฟส่องสว่างไฟเบอร์แบบตั้งศูนย์กลาง: C-HGFIE (พร้อมระบบปรับแสง) *ตัวเลือกเสริม
Fluorescence LED Light Source D-LEDI (พร้อมระบบปรับแสง (ควบคุมด้วย PC ได้) *เฉพาะ LV150N เท่านั้น)
สวิตช์ Bright/darkfield และ linked aperture stop (อยู่ตรงกลาง), field diaphragm (อยู่ตรงกลาง),
คุณสมบัติการสลับองค์ประกอบแสงอัตโนมัติที่จับคู่กับสวิตช์ brightfield, darkfield, และ epi-fluorescence
ยอมรับ ฟิลเตอร์ ø 25 มม. (NCB11, ND16, ND4), polarizer/analyzer, แผ่น λ , บาลานเซอร์แสงกระตุ้น พร้อมกับเครื่องป้องกันเสียงรบกวน
ลำกล้องเลนส์:
LV-TI3 ลำกล้องเลนส์ใกล้ตา trinocular ESD (ภาพที่ถูกสร้างขึ้น, FOV: 22/25)
LV-TT2 TT2 ลำกล้องเลนส์ใกล้ตา trinocular แบบปรับเอียงได้ (ภาพที่ถูกสร้างขึ้น, FOV: 22/25)
C-TB binocular tube (ภาพกลับหัว, FOV: 22)
P-TB Binocular Tube (ภาพกลับหัว, FOV: 22)
P-TT2 Trinocular Tube (ภาพกลับหัว, FOV: 22)
แท่นวางชิ้นงาน:LV-S32 3x2 stage (Stroke: 75 x 50 มม. พร้อมแผ่นกระจก) รองรับ ESD
LV-S64 6x4 stage (Stroke: 150 x 100 มม. พร้อมแผ่นกระจก) รองรับ ESD
LV-S6 6x6 stage (Stroke: 150 x 150 มม.) รองรับ ESD
เลนส์ใกล้ตา:เลนส์ใกล้ตาซีรีส์ CFI
เลนส์ใกล้วัตถุ:กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม CFI60-2/CFI60 ระบบออปติคอลเลนส์ใกล้วัตถุซีรีส์: การใช้งานร่วมกันตามวิธีการตรวจสอบ
ประสิทธิภาพของ ESD:1000 ถึง 10V, ภายใน 0.2 วินาที (ไม่รวมอุปกรณ์เสริมบางอย่าง)
การใช้พลังงาน:
1.2A/75W
น้ำหนัก:8.6 กก. โดยประมาณ8.7 กก. โดยประมาณ
LV150N, LV150NA

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง

ซอฟต์แวร์

ซอฟต์แวร์ NIS-Elements จัดการกล้อง Nikon Digital Sight ร่วมกับกล้องจุลทรรศน์ Nikon เพื่อจับภาพที่ดีที่สุดสำหรับการประมวลผล โดยจะจัดระเบียบภาพที่ถ่ายไว้และประมวลผลอย่างมีเหตุผลในกระบวนการทำงานที่ราบรื่น
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์

ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์ของ Nikon ใช้สำหรับรวมกล้องจุลทรรศน์เข้ากับอุปกรณ์การผลิตหรือระบบตรวจสอบที่ต้องการความแม่นยำสูงเป็นพิเศษ
ข้อมูลผลิตภัณฑ์
NWL_L200N

ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader

NWL200 wafer loaders ที่เป็นนวัตกรรมใหม่ของ Nikon รองรับการตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอลหรือระบบการวัดขนาดสามมิติ เช่น Nikon NEXIV
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

พูดคุยกับเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้

หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ

พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ

กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว