เลนส์ Nikon CFI60-2 ที่ยอดเยี่ยมนั้นให้ภาพที่ยอดเยี่ยมทั้งเลนส์ใกล้ตาและกล้องถ่ายภาพดิจิทัลของ Nikon พร้อมซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ ด้วยการออกแบบการแยกส่วน กล้องจุลทรรศน์อย่างสากล ช่วยให้สามารถใช้เทคนิคความเปรียบต่างเชิงแสงเสริมบนขาตั้งกล้องจุลทรรศน์
กล้องจุลทรรศน์ที่มีไฟส่องเฉพาะจุดเหล่านี้มีไว้สำหรับการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ วัสดุอุตสาหกรรม และส่วนประกอบ นอกจากนี้ยังเหมาะสำหรับการวิจัยและพัฒนา
นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่
กล้อง Digital Sight ทั้งหมดของ Nikon สามารถจับภาพตัวอย่างและส่งไปยังซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพของชุด NIS-Elements ร่วมกับข้อมูลกล้องจุลทรรศน์บนเลนส์ใกล้วัตถุ การตั้งค่าการขยาย และความเข้มของแสงเมื่อใช้ LV-ECON E controller
Wafer loaders ของ Nikon ได้รับการยอมรับและไว้วางใจเป็นอย่างดีในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ และปัจจุบันมีการใช้งานและมีการติดตั้งจำนวนมาก
แสงสะท้อน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์รบกวนที่แตกต่างกัน (DIC), epi-fluorescence และ two-beam interferometry
ตั้งแต่ชุดส่องสว่างไปจนถึงช่องมองภาพ ส่วนประกอบจะถูกเลือกให้ตรงกับการใช้งานของผู้ใช้ ซึ่งรวมถึงขาตั้ง แท่นวาง เลนส์ใกล้วัตถุ แผ่นหมุนเลนส์ หัวออปติคอล เลนส์ใกล้ตา กล้องดิจิทัล ฟิลเตอร์ และอุปกรณ์เสริมสำหรับเทคนิคคอนทราสต์
ด้วยตัวควบคุม LV-ECON E กล้องจุลทรรศน์ LV150NA และ LV150N สามารถตรวจจับและควบคุมเลนส์ใกล้วัตถุ ความเข้มของแสง รูรับแสง และคอนทราสต์แบบ epi ผ่านซอฟต์แวร์ NIS-Elements ของ Nikon LV150N ตรวจจับและรายงานเกี่ยวกับเลนส์ใกล้วัตถุโดยใช้ LV-NU5I และ LV-INAD
การวางตำแหน่งที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการควบคุมของผู้ปฏิบัติงานด้วย eye-tube แบบปรับมุมได้ช่วยให้ทำงานได้อย่างไม่เมื่อยล้า ภาพทางขวาที่แสดงขึ้นมามีไว้สำหรับการตรวจสอบวัตถุต่างๆ เซมิคอนดักเตอร์ และส่วนประกอบทางอุตสาหกรรมอย่างถูกต้อง
Epi-illuminators พร้อมแหล่งกำเนิดแสง LED และฮาโลเจนมีไว้สำหรับการสร้างภาพอเนกประสงค์และการใช้งานฟังก์ชันแบบมอเตอร์
ตัวส่องสว่างแบบ epi-illuminator ใช้มอเตอร์ LV-UEPI2A เหมาะสำหรับวิธีการปรับคอนทราสต์ที่หลากหลาย เนื่องจากจะรักษาสภาพการถ่ายภาพด้วยแสงโดยอัตโนมัติ
ตัวเลือกฟังก์ชัน EDF (Extended Depth of Focus)
ฟังก์ชั่น EDF เลือกพื้นที่ที่อยู่ในโฟกัสจากภาพ Z-stack หลายภาพ และสร้างภาพที่อยู่ในโฟกัสทั้งหมดเป็นภาพเดียวโดยการโฟกัสภาพด้วยมอเตอร์หรือแบบแมนนวล
ตัวอย่างการใช้งานได้แก่ การตรวจสอบพื้นผิวเซมิคอนดักเตอร์และบรรจุภัณฑ์ของอุปกรณ์ จอรับภาพแบบแบน (FPD) ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ และวัสดุนวัตกรรมโดยใช้เทคนิคคอนทราสต์แบบ episcopic โดยเฉพาะ
| LV150N | LV150NA | |
| ฐานกล้อง: | ความสูงชิ้นงานสูงสุด: 38 มม. (เมื่อใช้กับจานหมุน LVNU5A U5A และแท่นวาง LV-S32 3x2 / แท่นวาง LV-S64 6x4) *73 มม. เมื่อใช้กับตัวยกแบบคอลัมน์เดียว แหล่งพลังงานภายใน 12V50W สำหรับปุ่มปรับหรี่ หยาบ และละเอียด ซ้าย: ปรับหยาบและละเอียด / ขวา: ปรับละเอียด ระยะสโตรก 40 มม. การปรับหยาบ: 14 มม./รอบ (พร้อมการปรับแรงบิด, กลไกการโฟกัสใหม่) การปรับละเอียด: 0.1 มม./รอบ (1 ไมโครเมตร/การไล่ระดับ) ระยะห่างของรูยึดสเตจ: 70 x 94 (ยึดด้วยสกรู M4 จำนวน 4 ตัว) |
|
| จานหมุน: | C-N6 ESD Sextuple Nosepiece ESD LV-NU5 Universal Quintuple Nosepiece ESD LV-NBD5 BD Quintuple Nosepiece ESD LV-NU5I Intelligent Universal Quintuple Nosepiece ESD | LV-NU5A Motorized Universal Quintuple Nosepiece ESD LV-NU5AC Motorized Universal Quintuple Nosepiece ESD |
| ไฟส่องสว่าง Episcopic : | LV-UEPI-N LV-LH50PC 12V50W โคมไฟแบบตั้งศูนย์กลาง, LV-LL LED โคมไฟ สวิตช์ Bright/darkfield และ linked aperture stop (อยู่ตรงกลาง), field diaphragm (อยู่ตรงกลาง) ยอมรับ ฟิลเตอร์ ø 25 มม. (NCB11, ND16, ND4), polarizer/analyzer, แผ่น λ , บาลานเซอร์แสงกระตุ้น พร้อมกับเครื่องป้องกันเสียงรบกวน LV-UEPI2 LV-LH50PC 12V50W โคมไฟแบบตั้งศูนย์กลาง, LV-LL LED โคมไฟ HG ไฟส่องสว่างไฟเบอร์แบบตั้งศูนย์กลาง: C-HGFIE (พร้อมระบบปรับแสง) *ตัวเลือกเสริม Fluorescence LED Light Source D-LEDI (พร้อมระบบปรับแสง (ควบคุมด้วย PC ได้) *เฉพาะ LV150N เท่านั้น) สวิตช์ Bright/darkfield และ linked aperture stop (อยู่ตรงกลาง), field diaphragm (อยู่ตรงกลาง), คุณสมบัติการสลับองค์ประกอบแสงอัตโนมัติที่จับคู่กับสวิตช์ brightfield, darkfield, และ epi-fluorescence ยอมรับ ฟิลเตอร์ ø 25 มม. (NCB11, ND16, ND4), polarizer/analyzer, แผ่น λ , บาลานเซอร์แสงกระตุ้น พร้อมกับเครื่องป้องกันเสียงรบกวน |
|
| ลำกล้องเลนส์: | LV-TI3 ลำกล้องเลนส์ใกล้ตา trinocular ESD (ภาพที่ถูกสร้างขึ้น, FOV: 22/25) LV-TT2 TT2 ลำกล้องเลนส์ใกล้ตา trinocular แบบปรับเอียงได้ (ภาพที่ถูกสร้างขึ้น, FOV: 22/25) C-TB binocular tube (ภาพกลับหัว, FOV: 22) P-TB Binocular Tube (ภาพกลับหัว, FOV: 22) P-TT2 Trinocular Tube (ภาพกลับหัว, FOV: 22) |
|
| แท่นวางชิ้นงาน: | LV-S32 3x2 stage (Stroke: 75 x 50 มม. พร้อมแผ่นกระจก) รองรับ ESD LV-S64 6x4 stage (Stroke: 150 x 100 มม. พร้อมแผ่นกระจก) รองรับ ESD LV-S6 6x6 stage (Stroke: 150 x 150 มม.) รองรับ ESD |
|
| เลนส์ใกล้ตา: | เลนส์ใกล้ตาซีรีส์ CFI | |
| เลนส์ใกล้วัตถุ: | กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม CFI60-2/CFI60 ระบบออปติคอลเลนส์ใกล้วัตถุซีรีส์: การใช้งานร่วมกันตามวิธีการตรวจสอบ | |
| ประสิทธิภาพของ ESD: | 1000 ถึง 10V, ภายใน 0.2 วินาที (ไม่รวมอุปกรณ์เสริมบางอย่าง) การใช้พลังงาน: 1.2A/75W |
|
| น้ำหนัก: | 8.6 กก. โดยประมาณ | 8.7 กก. โดยประมาณ |
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว
