ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200N

ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200NA ของ Nikon คือกลุ่มผลิตภัณฑ์กล้องจุลทรรศน์เซมิคอนดักเตอร์ที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบวงจรรวม (IC) จอรับภาพแบบแบน (FPD) อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีการผสานรวมขนาดใหญ่ (LSI) และการใช้งานอื่นๆ อีกมากมาย
ECLIPSE-L300nd-l300n-l200nd-l200n_L300Na

กล้องจุลทรรศน์เซมิคอนดักเตอร์ขั้นสูงสำหรับการตรวจสอบการผลิตล่าสุด

เลนส์ Nikon CFI60-2 ที่ยอดเยี่ยมให้ภาพที่ยอดเยี่ยมทั้งเลนส์ใกล้ตาและกล้องถ่ายภาพดิจิทัลของ Nikon พร้อมซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ การรวมออปติคที่เหนือชั้นเหล่านี้เข้ากับระบบส่องสว่างที่ไม่ธรรมดา ทำให้ได้ภาพที่มีความเปรียบต่างและความละเอียดที่ยอดเยี่ยม

Nikon ECLIPSE L300N(D) และ L200N(D)

กล้องจุลทรรศน์เหล่านี้มีไว้สำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์ด้วยออปติคอลที่แม่นยำเป็นพิเศษ (200 มม. สำหรับรุ่น L200N และ 300 มม. สำหรับรุ่น L300N) reticules และพื้นผิวอื่นๆ

Nikon CFI60-2 ซีรีส์ออปติคอล

นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่

กล้อง Nikon Digital Sight

กล้อง Digital Sight ทั้งหมดของ Nikon จับภาพชิ้นงานได้อย่างมีประสิทธิภาพ และส่งไปยังซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพ NIS-Elements ร่วมกับข้อมูลกล้องจุลทรรศน์บนเลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้ การตั้งค่าการขยาย และความเข้มของแสง

บูรณาการของ  L200N และ Wafer Loader NWL200

Wafer loaders ของ Nikon ได้รับการยอมรับและไว้วางใจเป็นอย่างดีในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ และปัจจุบันมีการใช้งานและการติดตั้งจำนวนมาก

จุดเด่นของผลิตภัณฑ์

Nikon CFI60-2 ซีรีส์ออปติคอล

นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่

วิธีการ Universal Optical Contrast

แสงสะท้อน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์รบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) epi-fluorescence และ two-beam interferometry.
แสงที่ส่องผ่าน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) Interference คอนทราสต์ที่แตกต่างกันและ Phase คอนทราสต์

การสื่อสารดิจิทัลอัจฉริยะ

กล้องจุลทรรศน์จะตรวจจับและควบคุมเลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้งาน ความเข้มของแสง การส่องสว่างแบบ episcopic และรูรับแสงผ่านการเชื่อมต่อ USB กับซอฟต์แวร์ NIS-Elements ของ Nikon

แนวคิดการออกแบบตามหลักการยศาสตร์

การวางตำแหน่งที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการควบคุมของผู้ปฏิบัติงานด้วย eye-tube แบบปรับมุมได้ช่วยให้ทำงานได้อย่างไม่เมื่อยล้า ภาพทางขวาที่แสดงขึ้นมามีไว้สำหรับการตรวจสอบวัตถุต่างๆ เซมิคอนดักเตอร์ และส่วนประกอบทางอุตสาหกรรมอย่างถูกต้อง

คุณสมบัติหลัก

อุตสาหกรรม

การใช้งานเน้นไปที่การตรวจสอบในภาคอิเล็กทรอนิกส์และโทรคมนาคม

สายอากาศได้รับการวัดด้วยความแม่นยำสูงสุด เช่นเดียวกับส่วนประกอบอื่นๆ เช่น เวเฟอร์สำหรับเซมิคอนดักเตอร์หรือเซลล์โฟโตวอลเทอิก และระบบเครื่องกลไฟฟ้าขนาดเล็ก (MEMS) ที่ใช้ในสมาร์ทโฟน ไจโรสโคป และเครื่องวัดความเร่งเป็นต้น

รวมรุ่นกล้องจุลทรรศน์ Upright L

รวมรุ่น Digital Sight

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง

NWL_L200N

ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader

NWL200 wafer loaders ที่เป็นนวัตกรรมใหม่ของ Nikon รองรับการตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอลหรือระบบการวัดขนาดสามมิติ เช่น Nikon NEXIV
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์

ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์ของ Nikon ใช้สำหรับรวมกล้องจุลทรรศน์เข้ากับอุปกรณ์การผลิตหรือระบบตรวจสอบที่ต้องการความแม่นยำสูงเป็นพิเศษ
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

พูดคุยกับเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้

หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ

พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ

กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว