Products and promotions may differ based on your selected region.
ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200N
กล้องจุลทรรศน์เซมิคอนดักเตอร์ขั้นสูงสำหรับการตรวจสอบการผลิตล่าสุด
เลนส์ Nikon CFI60-2 ที่ยอดเยี่ยมให้ภาพที่ยอดเยี่ยมทั้งเลนส์ใกล้ตาและกล้องถ่ายภาพดิจิทัลของ Nikon พร้อมซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ การรวมออปติคที่เหนือชั้นเหล่านี้เข้ากับระบบส่องสว่างที่ไม่ธรรมดา ทำให้ได้ภาพที่มีความเปรียบต่างและความละเอียดที่ยอดเยี่ยม
Nikon ECLIPSE L300N(D) และ L200N(D)
กล้องจุลทรรศน์เหล่านี้มีไว้สำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์ด้วยออปติคอลที่แม่นยำเป็นพิเศษ (200 มม. สำหรับรุ่น L200N และ 300 มม. สำหรับรุ่น L300N) reticules และพื้นผิวอื่นๆ
Nikon CFI60-2 ซีรีส์ออปติคอล
นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่
กล้อง Nikon Digital Sight
กล้อง Digital Sight ทั้งหมดของ Nikon จับภาพชิ้นงานได้อย่างมีประสิทธิภาพ และส่งไปยังซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพ NIS-Elements ร่วมกับข้อมูลกล้องจุลทรรศน์บนเลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้ การตั้งค่าการขยาย และความเข้มของแสง
บูรณาการของ L200N และ Wafer Loader NWL200
Wafer loaders ของ Nikon ได้รับการยอมรับและไว้วางใจเป็นอย่างดีในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ และปัจจุบันมีการใช้งานและการติดตั้งจำนวนมาก
จุดเด่นของผลิตภัณฑ์
Nikon CFI60-2 ซีรีส์ออปติคอล
นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่
วิธีการ Universal Optical Contrast
แสงสะท้อน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์รบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) epi-fluorescence และ two-beam interferometry.
แสงที่ส่องผ่าน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) Interference คอนทราสต์ที่แตกต่างกันและ Phase คอนทราสต์
การสื่อสารดิจิทัลอัจฉริยะ
กล้องจุลทรรศน์จะตรวจจับและควบคุมเลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้งาน ความเข้มของแสง การส่องสว่างแบบ episcopic และรูรับแสงผ่านการเชื่อมต่อ USB กับซอฟต์แวร์ NIS-Elements ของ Nikon
แนวคิดการออกแบบตามหลักการยศาสตร์
การวางตำแหน่งที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการควบคุมของผู้ปฏิบัติงานด้วย eye-tube แบบปรับมุมได้ช่วยให้ทำงานได้อย่างไม่เมื่อยล้า ภาพทางขวาที่แสดงขึ้นมามีไว้สำหรับการตรวจสอบวัตถุต่างๆ เซมิคอนดักเตอร์ และส่วนประกอบทางอุตสาหกรรมอย่างถูกต้อง
คุณสมบัติหลัก
อุตสาหกรรม
การใช้งานเน้นไปที่การตรวจสอบในภาคอิเล็กทรอนิกส์และโทรคมนาคม
สายอากาศได้รับการวัดด้วยความแม่นยำสูงสุด เช่นเดียวกับส่วนประกอบอื่นๆ เช่น เวเฟอร์สำหรับเซมิคอนดักเตอร์หรือเซลล์โฟโตวอลเทอิก และระบบเครื่องกลไฟฟ้าขนาดเล็ก (MEMS) ที่ใช้ในสมาร์ทโฟน ไจโรสโคป และเครื่องวัดความเร่งเป็นต้น
ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง
ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader
ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์
กล้องดิจิทัลสำหรับกล้องจุลทรรศน์
พูดคุยกับเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว