
Products and promotions may differ based on your selected region.
เลนส์ Nikon CFI60-2 ที่ยอดเยี่ยมให้ภาพที่ยอดเยี่ยมทั้งเลนส์ใกล้ตาและกล้องถ่ายภาพดิจิทัลของ Nikon พร้อมซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ การรวมออปติคที่เหนือชั้นเหล่านี้เข้ากับระบบส่องสว่างที่ไม่ธรรมดา ทำให้ได้ภาพที่มีความเปรียบต่างและความละเอียดที่ยอดเยี่ยม
กล้องจุลทรรศน์เหล่านี้มีไว้สำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์ด้วยออปติคอลที่แม่นยำเป็นพิเศษ (200 มม. สำหรับรุ่น L200N และ 300 มม. สำหรับรุ่น L300N) reticules และพื้นผิวอื่นๆ
นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่
กล้อง Digital Sight ทั้งหมดของ Nikon จับภาพชิ้นงานได้อย่างมีประสิทธิภาพ และส่งไปยังซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพ NIS-Elements ร่วมกับข้อมูลกล้องจุลทรรศน์บนเลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้ การตั้งค่าการขยาย และความเข้มของแสง
Wafer loaders ของ Nikon ได้รับการยอมรับและไว้วางใจเป็นอย่างดีในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ และปัจจุบันมีการใช้งานและการติดตั้งจำนวนมาก
นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และความเปรียบต่างของออปติคอลของลำแสงคู่
แสงสะท้อน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์รบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) epi-fluorescence และ two-beam interferometry.
แสงที่ส่องผ่าน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) Interference คอนทราสต์ที่แตกต่างกันและ Phase คอนทราสต์
กล้องจุลทรรศน์จะตรวจจับและควบคุมเลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้งาน ความเข้มของแสง การส่องสว่างแบบ episcopic และรูรับแสงผ่านการเชื่อมต่อ USB กับซอฟต์แวร์ NIS-Elements ของ Nikon
การวางตำแหน่งที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการควบคุมของผู้ปฏิบัติงานด้วย eye-tube แบบปรับมุมได้ช่วยให้ทำงานได้อย่างไม่เมื่อยล้า ภาพทางขวาที่แสดงขึ้นมามีไว้สำหรับการตรวจสอบวัตถุต่างๆ เซมิคอนดักเตอร์ และส่วนประกอบทางอุตสาหกรรมอย่างถูกต้อง
การใช้งานเน้นไปที่การตรวจสอบในภาคอิเล็กทรอนิกส์และโทรคมนาคม
สายอากาศได้รับการวัดด้วยความแม่นยำสูงสุด เช่นเดียวกับส่วนประกอบอื่นๆ เช่น เวเฟอร์สำหรับเซมิคอนดักเตอร์หรือเซลล์โฟโตวอลเทอิก และระบบเครื่องกลไฟฟ้าขนาดเล็ก (MEMS) ที่ใช้ในสมาร์ทโฟน ไจโรสโคป และเครื่องวัดความเร่งเป็นต้น
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว