Products and promotions may differ based on your selected region.
ECLIPSE MA200
กล้องจุลทรรศน์หัวกลับทางโลหะวิทยาแบบแยกส่วน หลักการยศาสตร์ และทันสมัยที่สุดของ Nikon
เลนส์ Nikon CFI60-2 ที่ยอดเยี่ยมนั้นให้ภาพที่ยอดเยี่ยมทั้งเลนส์ใกล้ตาและกล้องถ่ายภาพดิจิทัลของ Nikon พร้อมซอฟต์แวร์การวิเคราะห์ ด้วยการออกแบบการแยกส่วน กล้องจุลทรรศน์อย่างสากล ช่วยให้สามารถใช้เทคนิคความเปรียบต่างเชิงแสงเสริมบนขาตั้งกล้องจุลทรรศน์ตัวเดียวได้ด้วยโปรแกรมส่วนประกอบแบบแยกส่วน
Nikon ECLIPSE MA200
กล้องจุลทรรศน์หัวกลับพร้อมไฟส่องเฉพาะจุดสำหรับตรวจสอบวัสดุและส่วนประกอบทางอุตสาหกรรม ตลอดจนเพื่อการวิจัยและพัฒนา
Nikon CFI60-2 Optical Series
นวัตกรรมการออกแบบของ Nikon ทำให้ได้เทคนิคการถ่ายภาพที่ชัดเจน รวมถึงความเปรียบต่างสูง brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) คอนทราสต์ของการรบกวนที่แตกต่างกัน (DIC) และเทคนิคการถ่ายภาพด้วยคอนทราสต์
Nikon Digital Sight Cameras
กล้อง Digital Sight ของ Nikon ทุกรุ่นสามารถจับภาพตัวอย่างและส่งไปยังซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพ NIS-Elements ร่วมกับข้อมูลกล้องจุลทรรศน์บนเลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้ตัวเปลี่ยนกำลังขยายระดับกลาง และความเข้มของแสง
จุดเด่นของผลิตภัณฑ์
วิธีการ Universal Optical Contrast
แสงสะท้อน: brightfield darkfield โพลาไรซ์ (POL) และคอนทราสต์ของสัญญาณรบกวน (DIC) โดยไม่จำเป็นต้องปรับระดับตัวอย่างเนื่องจากการออกแบบกล้องจุลทรรศน์ชนดหัวกลับ
อุปกรณ์เสริมและชิ้นส่วนต่างๆ
ตั้งแต่ชุดส่องสว่างไปจนถึงช่องมองภาพ ส่วนประกอบจะถูกเลือกให้ตรงกับการใช้งานของผู้ใช้ ซึ่งรวมถึงขาตั้ง แท่นวาง เลนส์ใกล้วัตถุ แผ่นหมุนเลนส์ หัวออปติคอล เลนส์ใกล้ตา กล้องดิจิทัล ฟิลเตอร์ และอุปกรณ์เสริมสำหรับเทคนิคคอนทราสต์
การสื่อสารดิจิทัลอัจฉริยะ
MA200 ตรวจจับค่าเลนส์ใกล้วัตถุ ตำแหน่งตัวเปลี่ยนกำลังขยาย และความเข้มของแสงผ่านซอฟต์แวร์ของ Nikon การควบคุมระยะไกลของแผ่นหมุนเลนส์แบบใช้มอเตอร์และความเข้มของแสงก็สามารถทำได้เช่นกัน
แนวคิดการออกแบบตามหลักการยศาสตร์
การวางตำแหน่งที่เหมาะสมที่สุดของส่วนควบคุมของผู้ปฏิบัติงานและ eye-tube แบบปรับมุมได้ช่วยให้ทำงานได้อย่างไม่เมื่อยล้า
ใช้ประโยชน์จากการออกแบบขาตั้งที่กะทัดรัดและมีประสิทธิภาพ ส่องภาพตัวอย่างได้โดยไม่ต้องปรับระดับล่วงหน้า
คุณสมบัติหลัก
การวิจัยและการพัฒนาด้านโลหะวิทยา
การใช้งาน MA200 มีตั้งแต่การวิจัยและพัฒนาวัสดุไปจนถึงการผลิตและการใช้วัสดุที่เป็นนวัตกรรมใหม่รวมถึงขั้นตอนการประกันคุณภาพสูงสุดในด้านโลหะวิทยา
ตัวเครื่องหลัก | กลไกการโฟกัส จานหมุนโฟกัส (ระยะตายตัว) ปุ่มปรับหยาบ/ละเอียดแบบ Coaxial (ปรับแรงบิดได้) การปรับหยาบ 4.0 มม. ต่อการหมุน การปรับแบบละเอียด 0.2 มม. ต่อการหมุน |
การส่องสว่าง พร้อมระบบป้องกันแสงแฟลร์ มีฟิลเตอร์ตัดแสง UV ในตัว ไดอะแฟรมฟิลด์: การหมุนหมายเลขแบบแปรผันต่อเนื่อง (อยู่ตรงกลาง) ไดอะแฟรมรูรับแสง: การหมุนหมายเลขแบบแปรผันต่อเนื่อง (อยู่ตรงกลาง) ฟิลเตอร์: Double turret (ND16, ND4/GIF, NCB, เป็นตัวเลือกเพิ่มเติมที่มีให้เลือก), บล็อกโพลาไรซ์ (เลือกได้โดยมีหรือไม่มีเพลต 1/4) บล็อกฟิลเตอร์ Fluorescence: B/G/V/BV, หลอดฮาโลเจนในตัว 12 V 50 W, ไฟเรืองแสงไฟเบอร์ C-HGFI HG |
|
การกระจายแสง ลำกล้องเลนส์ใกล้ตา/พอร์ตด้านหลัง: 100/0, 55/45 |
|
ออปติคอล | ระบบ CFI60 /CFI60-2 |
ภาพในการตรวจสอบ | ภาพพื้นผิว |
วิธีการตรวจสอบ | Bright/Darkfield/Simple Polarizing/DIC/Epi-Fluorescence |
จานหมุน Resolving | MA2-NUI5: Bright/Darkfield/ จานหมุน DIC 5 ตำแหน่ง, LV-NU5A: Motorized Bright/Darkfield/จานหมุน DIC 5 ตำแหน่ง D-NID6: จานหมุน Brightfield 6 ตำแหน่ง (Intelligent), D-NI7: จานหมุน Brightfield 7 ตำแหน่ง (Intelligent) |
แท่นวางชิ้นงาน | แท่นวาง MA-SR แผ่นสี่เหลี่ยม 3 แผ่น ระยะสโตรก 50 x 50 มม. (รวมส่วนเสริมแท่นวาง 2 ชิ้น (ช่องเปิด ø20 มม. และ 40 มม.) และด้ามจับควบคุม coaxial ทางด้านขวา ขนาด: 295 x 215 มม., ระยะสโตรก: 50 มม. x 50 มม. (พร้อมระยะ graduation), อุปกรณ์เสริมมาตรฐาน: ตัวยึดชิ้นงานอเนกประสงค์ ø22 (พร้อมตัวหนีบชิ้นงาน) |
เลนส์ใกล้ตา Trinocular | Seidentopf ปรับระยะห่างระหว่างรูม่านตา 50-75 mm |
กำลังไฟฟ้าขาเข้า | 100-240 V, 50-60 Hz |
การใช้พลังงานไฟฟ้า | 1.2 A 75 W |
น้ำหนัก | 26 กก. โดยประมาณ (ขึ้นอยู่กับการรวมกันของชิ้นส่วนต่างๆ) |
ตัวเลือกเสริม | กำลังขยายระดับกลาง Turret (1x, 1.5x, 2x), การตรวจจับสถานะ (ข้อมูลกำลังขยายเอาต์พุตไปยังยูนิตหลัก) |
มาตราส่วน MA2-GR Grain Reticle (ASTM E112-63 ขนาดเกรนหมายเลข 1 ถึง 8), Grid Reticle (20 เส้น, 0.5 มม.) เส้นเล็งสเกล MA2-MR (เข้ากันได้กับ 5-100x, อ่านในหน่วย ไมโครเมตร, ระบบ Dialing) |
ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง
ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์
ECLIPSE MA100N
กล้องดิจิทัลสำหรับกล้องจุลทรรศน์
ซอฟต์แวร์
พูดคุยกับเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว