ECLIPSE LV150NA LED และ LV150N LED

กล้องจุลทรรศน์แบบ upright สำหรับการตรวจสอบแบบ episcopic ต่างๆ กล้องจุลทรรศน์นี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุต่างๆ

ช่วยเพิ่มขีดความสามารถในการใช้งานและปรับปรุงประสิทธิภาพอายุการใช้งาน

ด้วยการออกแบบแบบโมดูลาร์และแหล่งกำเนิดแสงที่ให้สีในระดับสูง กล้องจุลทรรศน์ LV150NA LED และ LV150N LED ทำให้สามารถใช้เทคนิคคอนทราสต์แสงแบบผสมผสานได้บนขาตั้งกล้องจุลทรรศน์เดียว ตัวอย่างการประยุกต์ใช้ ได้แก่ การตรวจสอบซับสเตรตของเซมิคอนดักเตอร์และบรรจุภัณฑ์อุปกรณ์ จอแสดงผลแบบแบน (FPD) ส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ และวัสดุที่เป็นนวัตกรรมใหม่โดยใช้เทคนิคความแตกต่างของไฟส่องสว่างแบบ episcopic โดยเฉพาะ

LV150NA LED

LV150N LED

จุดเด่นของผลิตภัณฑ์

วิธีการตรวจสอบต่างๆ

สามารถใช้งานแบบ Brightfield, Darkfield, Polarising (POL), Differential Interference Contrast (DIC), Epi-fluorescence และ Two-beam Interferometry ร่วมกับการใช้ LV150NA LED และ LV150N LED

การสื่อสารดิจิทัลอัจฉริยะ

สามารถตรวจหาเลนส์ใกล้วัตถุ ความเข้มแสง รูรับแสง และ epi-contrast ได้ทั้งหมดโดยใช้ตัวควบคุม LV-ECON และซอฟต์แวร์ NIS-Elements LV150N LED ใช้ LV-NU5IN และ LV-INAD ในการตรวจหาเลนส์ใกล้วัตถุและรายงานผล

ซีรีส์ Digital Sight

เมื่อใช้ร่วมกับกล้อง Digital Sight สำหรับกล้องจุลทรรศน์ จะสามารถจับภาพความละเอียดสูงได้อย่างมีประสิทธิภาพ สามารถประมวลผลภาพโดยใช้ซอฟต์แวร์ NIS-Elements เพื่อทำการวัดและวิเคราะห์ได้

อุปกรณ์เสริมหลากหลายประเภท

แผ่นหมุนเลนส์ใกล้วัตถุด้วยมือรุ่นล่าสุดให้ความแม่นยำในการหยุด* สูงกว่ารุ่นก่อน 50% สามารถเลือกอุปกรณ์เสริมอื่นๆ เช่น ขาตั้งกล้องจุลทรรศน์และโคมไฟ LED ได้ตามวิธีการและวัตถุประสงค์ในการสังเกตการณ์

ซีรีส์ CFI60-2 Optical

Nikon นำเสนอเลนส์ใกล้วัตถุหลากหลายชนิดที่ออกแบบมาเพื่อให้เหมาะสมกับการตรวจสอบที่กำหนดด้วยกล้องจุลทรรศน์  การแก้ไขการเบี่ยงเบนของสีในเลนส์ส่งผลให้การบิดเบือนของสีลดลงอย่างมากและให้คุณภาพของภาพที่ยอดเยี่ยม

การผสานเข้ากับเครื่องโหลดเวเฟอร์ NWL200

เมื่อผสานการทำงานกับ NWL200 จะทำให้ LV150N LED สามารถตอบสนองความต้องการในการตรวจสอบเวเฟอร์ เช่น การตรวจสอบระดับไมโครได้

*ความแม่นยำในการหยุด: ปริมาณการเปลี่ยนแปลงของขอบเขตการมองเห็น (FOV) เมื่อหมุนแผ่นหมุนเลนส์ใกล้วัตถุเพื่อเปลี่ยนเลนส์ใกล้วัตถุ แล้วกลับมาใช้เลนส์ใกล้วัตถุเดิม (เช่น ปริมาณการเปลี่ยนแปลงของขอบเขตการมองเห็นเมื่อเปลี่ยนจากกำลังขยาย 10 เท่าไปเป็นกำลังขยายอื่น แล้วกลับมาใช้ 10 เท่าอีกครั้ง)

ซีรีส์ Upright Microscopes LV-N

ซีรีส์ Digital Sight

ซีรีส์เครื่องโหลดเวเฟอร์ NWL200

LV150N LEDLV150NA LED
Base unitMaximum sample height: 38 mm (when used with LVNU5A U5A nosepiece and LV-S32 3x2 stage / LV-S64 6x4 stage)
*73 mm when used with one column riser
Coarse and fine adjustment knobs, Left: coarse and fine adjustment / Right: fine adjustment, 40 mm stroke
Coarse adjustment: 14 mm/turn (with torque adjustment, refocusing mechanism) Fine adjustment: 0.1 mm/turn (1 μm/graduation)
Stage mounting hole intervals: 70 x 94 (fixed by 4-M4 screw)
NosepiecesC-N6, LV-NU5N, LV-NBD5N, LV-NU5INLV-NU5A, LV-NU5AC, LV-NU5AI
Episcopic IlluminatorsLV-UEPI-N
High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1
Bright/darkfield switch and linked aperture stop (centerable), field diaphragm (centerable), accepts ø25 mm filter (LV-C-LCB, ND4, ND16), polarizer/analyzer; equipped with noise terminator

LV-UEPI2
High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1
Fluorescence LED light source D-LEDI (with light adjustment (PC controllable)) *option
Bright/darkfield switch and linked aperture stop (centerable), field diaphragm (centerable), automated optical element switching feature matched to brightfield, darkfield, and epi-fluorescence switch, accepts ø25 mm filter (LV-C-LCB, ND4, ND16), polarizer/analyzer, λ plate, excitation light balancer; equipped with noise terminator
Eyepiece tubesLV-TI3 trinocular eyepiece tube ESD (Erected image, FOV: 22/25)
LV-TT2 tilting trinocular eyepiece tube (Erected image, FOV: 22/25)
C-TB binocular tube (Inverted image, FOV: 22)
P-TBbinocular Tube (Inverted image, FOV: 22)
P-TT2 trinocular Tube (Inverted image, FOV: 22)
StagesLV-S32 3x2 stage (Stroke: 75 x 50 mm with glass plate)
LV-S64 6x4 stage (Stroke: 150 x 100 mm with glass plate)
LV-S6 6x6 stage (Stroke: 150 x 150 mm)
EyepiecesCFI eyepiece series
Objective lensesCFI60-2/CFI60 objective lens series: combination depends on observation method
ESD performance1000 to 10V, within 0.2 sec. (excluding certain accessories)
Power consumption1.2A/75W
WeightApprox. 9.0 kg

*1: มูลค่าโดยประมาณตามข้อกำหนดของ Nikon

LV150NA LED, LV150N LED (ยูนิต: มม.)

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง

NWL_L200N

ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader

NWL200 wafer loaders ที่เป็นนวัตกรรมใหม่ของ Nikon รองรับการตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอลหรือระบบการวัดขนาดสามมิติ เช่น Nikon NEXIV
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์

ส่วนประกอบของกล้องจุลทรรศน์ของ Nikon ใช้สำหรับรวมกล้องจุลทรรศน์เข้ากับอุปกรณ์การผลิตหรือระบบตรวจสอบที่ต้องการความแม่นยำสูงเป็นพิเศษ
ข้อมูลผลิตภัณฑ์

สอบถามเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้

หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราพร้อมที่จะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ หรือสามารถนัดหมายเพื่อให้เราเข้าพบคุณได้ แจ้งให้เราทราบเกี่ยวกับโครงการของคุณโดยละเอียด แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดและตรงกับความต้องการของคุณ กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้าง แล้วเราจะติดต่อคุณโดยเร็วที่สุด