กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม

ECLIPSE-L300nd-l300n-l200nd-l200n_L300Na
UPRIGHT MICROSCOPES

ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200N

กล้องจุลทรรศน์เซมิคอนดักเตอร์ในช่วงต่างๆ ที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบวงจรรวม (IC) จอแสดงผลแบบแบน (FPD) อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีการรวมสเกลขนาดใหญ่ (LSI) และการใช้งานอื่นๆ อีกมากมาย

ECLIPSE-LV150NA-and-150N_LEDlamp+LV150
UPRIGHT MICROSCOPES

ECLIPSE LV150NA และ LV150N

ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นสำหรับเทคนิคคอนทราสต์ออปติคอลแบบ episcopic ต่างๆ (BF-DF-DIC-POL-Fluorescence-Interferometry) ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัลและแท่นวางที่เคลื่อนที่ในแกน XY ขนาดใหญ่ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุต่างๆ

ECLIPSE-LV100NDA-LV100ND_LEDlamp+LV100ND
UPRIGHT MICROSCOPES

ECLIPSE LV100NDA และ LV100ND

ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นนี้มีความสามารถในการใช้เทคนิคคอนทราสต์แบบออปติคอลทั้ง episcopic และ diascopic อย่างกว้างขวาง และด้วยกล้องถ่ายภาพดิจิทัลที่เป็นอุปกรณ์เสริม เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบวัสดุในการใช้งานในอุตสาหกรรมหลายประเภท

INVERTED MICROSCOPES

ECLIPSE MA200

ECLIPSE MA200 ใช้แนวคิดการออกแบบที่เป็นนวัตกรรมใหม่ โดยนำเสนอกล้องจุลทรรศน์หัวกลับแบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นสำหรับการตรวจสอบความเปรียบต่างของแสงแบบ episcopic เมื่อใช้ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัล จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบวัสดุโลหะในงานอุตสาหกรรมหลายประเภท

MA100N
INVERTED MICROSCOPES

ECLIPSE MA100N

กล้องจุลทรรศน์หัวกลับแบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่น กะทัดรัด ราคาไม่แพงสำหรับเทคนิคความเปรียบต่างทางแสงแบบ episcopic เมื่อรวมกับอุปกรณ์เสริมกล้องถ่ายภาพดิจิทัล จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบวัสดุโลหะในงานอุตสาหกรรมหลายประเภท

ECLIPSE LV100N POL และ Ci-POL

ชุดกล้องจุลทรรศน์โพลาไรซ์ที่ใช้ในการสังเกตคุณสมบัติ birefringent ของตัวอย่าง anisotropic โดยการสังเกตคอนทราสต์ของภาพและการเปลี่ยนแปลงของสี Nikon ได้นำเสนอระบบสำหรับการศึกษาทั้งเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ

NWL_L200N

ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader

รุ่น NWL200 ที่มีคุณสมบัติครบครันที่รองรับข้อกำหนดการตรวจสอบอย่างครบถ้วนสำหรับเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) โดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอลหรือเครื่องมือวัดขนาดสามมิติ เช่น Nikon NEXIV

Software_LV150N+DSFi3+PC

ซอฟต์แวร์

ซอฟต์แวร์ NIS Elements เป็นตัวควบคุมกล้อง Nikon Digital Sight เพื่อจับภาพที่ดีที่สุดสำหรับการประมวลผล จัดระเบียบรูปภาพ ประมวลผลอย่างมีเหตุผลและการดำเนินงานที่ราบรื่น