Products and promotions may differ based on your selected region.
กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม

UPRIGHT MICROSCOPES
ECLIPSE L300ND, L300N และ L200ND, L200N
กล้องจุลทรรศน์เซมิคอนดักเตอร์ในช่วงต่างๆ ที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบวงจรรวม (IC) จอแสดงผลแบบแบน (FPD) อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีการรวมสเกลขนาดใหญ่ (LSI) และการใช้งานอื่นๆ อีกมากมาย

UPRIGHT MICROSCOPES
ECLIPSE LV150NA และ LV150N
ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นสำหรับเทคนิคคอนทราสต์ออปติคอลแบบ episcopic ต่างๆ (BF-DF-DIC-POL-Fluorescence-Interferometry) ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัลและแท่นวางที่เคลื่อนที่ในแกน XY ขนาดใหญ่ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุต่างๆ

UPRIGHT MICROSCOPES
ECLIPSE LV100NDA และ LV100ND
ชุดกล้องจุลทรรศน์ upright แบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นนี้มีความสามารถในการใช้เทคนิคคอนทราสต์แบบออปติคอลทั้ง episcopic และ diascopic อย่างกว้างขวาง และด้วยกล้องถ่ายภาพดิจิทัลที่เป็นอุปกรณ์เสริม เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบวัสดุในการใช้งานในอุตสาหกรรมหลายประเภท

INVERTED MICROSCOPES
ECLIPSE MA200
ECLIPSE MA200 ใช้แนวคิดการออกแบบที่เป็นนวัตกรรมใหม่ โดยนำเสนอกล้องจุลทรรศน์หัวกลับแบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่นสำหรับการตรวจสอบความเปรียบต่างของแสงแบบ episcopic เมื่อใช้ร่วมกับอุปกรณ์เสริมเกี่ยวกับภาพดิจิทัล จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับกิจกรรมการตรวจสอบวัสดุโลหะในงานอุตสาหกรรมหลายประเภท

INVERTED MICROSCOPES
ECLIPSE MA100N
กล้องจุลทรรศน์หัวกลับแบบแยกส่วนที่มีความยืดหยุ่น กะทัดรัด ราคาไม่แพงสำหรับเทคนิคความเปรียบต่างทางแสงแบบ episcopic เมื่อรวมกับอุปกรณ์เสริมกล้องถ่ายภาพดิจิทัล จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบวัสดุโลหะในงานอุตสาหกรรมหลายประเภท

ECLIPSE LV100N POL และ Ci-POL
ชุดกล้องจุลทรรศน์โพลาไรซ์ที่ใช้ในการสังเกตคุณสมบัติ birefringent ของตัวอย่าง anisotropic โดยการสังเกตคอนทราสต์ของภาพและการเปลี่ยนแปลงของสี Nikon ได้นำเสนอระบบสำหรับการศึกษาทั้งเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ

ซีรีส์ NWL200 Wafer Loader
รุ่น NWL200 ที่มีคุณสมบัติครบครันที่รองรับข้อกำหนดการตรวจสอบอย่างครบถ้วนสำหรับเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์ขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 6 นิ้ว (150 มม.) และ 8 นิ้ว (200 มม.) โดยใช้กล้องจุลทรรศน์แบบออปติคอลหรือเครื่องมือวัดขนาดสามมิติ เช่น Nikon NEXIV

ซอฟต์แวร์
ซอฟต์แวร์ NIS Elements เป็นตัวควบคุมกล้อง Nikon Digital Sight เพื่อจับภาพที่ดีที่สุดสำหรับการประมวลผล จัดระเบียบรูปภาพ ประมวลผลอย่างมีเหตุผลและการดำเนินงานที่ราบรื่น