Tilted CT: 고해상도 라미노그래피 검사

때때로 컴퓨터 라미노그래피(Computed Laminography, CL)라고도 하는 라미노그래피는 샘플의 회전축이 X선 빔(발생장치에서 검출기까지의 축)에 대해 비스듬한 각도로 기울어지는 엑스레이 단층 촬영의 한 가지 유형입니다. 라미노그래피 스캔은 CT와 유사한 방식으로, 샘플이 360도 회전하면서 획득한 수천 개의 엑스레이 방사선 사진 이미지를 사용하여 3D 볼륨을 재구성합니다. CT 데이터세트에서 수행된 동일한 분석을 라미노그래피 데이터세트에서 복제할 수 있습니다.

방사선 촬영과 라미노그래피 모두 샘플을 X선 발생장치에 매우 가깝게 배치할 수 있으므로 매우 높은 해상도의 이미지를 제공합니다. 하지만 2D 기술인 방사선 촬영은 이미지에 심도를 제공하지 않으며 구성품의 중첩으로 인해 복잡한 샘플을 이미지화하기 어려울 수 있습니다. 라미노그래피는 단층 촬영 기술로서 샘플 전반에서 수백 또는 수천 개의 평면을 통해 심도를 매핑합니다.

둘 다 일종의 X선 단층 촬영이지만, 획득하는 동안 샘플이 회전하는 방향에 차이가 있습니다. CT의 경우 샘플이 X선 빔(발생장치에서 검출기까지의 축)에 직각인 축을 중심으로 회전하는 반면, 라미노그래피의 경우에는 샘플이 엑스레이 빔에 대해 비스듬한 각도로 축을 중심으로 회전합니다.

이론적으로는 Tilted CT로 모든 크기의 구성품을 검사할 수 있으며, 구성품 크기와 구성품 검사 영역은 사용 중인 캐비닛의 크기와 샘플을 비스듬한 각도로 움직이지 않게 고정하는 것의 실용성에 따라 제한됩니다. 예를 들어, 0.5m 이상의 평면 샘플은 획득하는 동안 고정하기 어려울 수 있습니다.

Tilted CT로 모든 유형의 구성품을 검사할 수 있지만 이 기술은 평면 구성품에 가장 흔하게 적용됩니다. 이는 기존 CT에서 평면 구성품의 큰 종횡비 특성으로 인해 물체 평면을 따라 X선 경로 길이가 증가하고, 구성품의 크기로 인해 충돌을 피하기 위해 회전축이 X선 발생장치에서 더 멀리 위치하게 되기 때문입니다. Tilted CT는 두 가지 현상을 모두 극복하기 때문에 평면에 대해 인기가 있습니다.

Tilted CT 및 X선 현미경은 모두 큰 샘플에서 고해상도 3D 볼륨 생성 기능을 달성합니다. X선 현미경은 Tilted CT에서 가능한 더 높은 배율을 달성할 수 있지만, 데이터 획득 시간은 Tilted CT 스캔보다 몇 시간이 더 깁니다. X선 현미경은 비용이 상당히 비싼 전용 시스템이기도 하며, 실험실의 다른 응용 분야를 위한 솔루션을 제공하는 방사선 촬영 및 CT 획득 기술을 포함하여 니콘 X선 CT 시스템이 제공하는 모든 유연성을 제공하지는 않습니다.