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LiB.Overhang Analysis

최첨단 AI 기술로 이제 양극 오버행 측정을 3D로 더 빠르고 정확하게 수행할 수 있습니다. 당사의 전문가들은 니콘 하드웨어 및 소프트웨어를 최적화하여 엔드 투 엔드 솔루션을 제공합니다.

제품 하이라이트

전자동 구현

자동 분석은 처음부터 끝까지 수치로 된 결과를 제공함으로써 재현성을 향상시킬 수 있고, 장비의 운전자가 필요하지 않습니다.

생산성 향상

AI 분석 기술은 노이즈에 강하고, 고속 처리되는 CT 데이터 세트에서도 안정적으로 작동합니다.

생산 현장에 맞는 성능

공정제어 시스템과의 통합에 필요한 기계 판독이 가능한 형태의 출력으로 생산 공정을 최적화합니다.

핵심 기능

LiB.Overhang Analysis

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XT H 시리즈

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XT H 225 ST 2x

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대형 검사용 CT 시스템

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문의하기

이 제품에 대한 자세한 내용이나 깊이 있는 설명이 필요한 경우 당사 전문가 팀이 추가 정보를 제공하며, 필요한 경우 현장 방문도 합니다.

귀하의 프로젝트에 대해 자세히 문의하면 당사 전문가가 귀하의 요구사항에 맞는 최상의 검사 시스템에 대해 조언할 것입니다.

맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.