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NWL200 웨이퍼 로더 시리즈
모든 기능을 갖춘 니콘의 혁신적인 NWL200 웨이퍼 로더는 광학 현미경 또는 비디오 측정 시스템(예: 니콘 NEXIV)을 통해 6인치(150mm) 및 8인치(200mm) 직경의 반도체 웨이퍼 종합 검사를 지원합니다.
다양한 웨이퍼 처리를 위한 정교하고 신뢰할 수 있는 로더
NWL 시리즈는 니콘의 탁월한 반도체 웨이퍼 로더 제품군으로 6인치(150mm) 및 8인치(200mm) 직경의 웨이퍼를 두께 100마이크론(선택 사양)으로 전환하여 니콘 Eclipse L200N 및 LV150N 현미경 또는 NEXIV VMZ-S 비디오 측정 시스템으로 보낼 수 있습니다.
NEXIV와 통합 – 비디오 계측
니콘 NEXIV 비디오 측정 시스템과 통합한 NWL200 웨이퍼 로더는 생산 환경에 반도체 검사 시 요구되는 높은 정밀도와 정확도, 속도를 제공합니다.
제품 하이라이트
반도체 생산에서의 높은 안정성
전원 공급이 예기치 않게 중단되어도 매크로 암의 진공 척은 작동 상태를 유지하면서 웨이퍼를 안전하게 분리할 수 있습니다.
매크로 검사 기능
반도체 웨이퍼 전면 패턴, 후면 주변부 및 중앙 영역 검사를 지원합니다. 웨이퍼 회전 속도와 경사각은 자동 또는 수동식으로 설정 가능합니다.
처리량의 극대화를 위한 설계
비접촉식 센터링 메커니즘을 갖춘 고속 웨이퍼 카세트 엘리베이터는 최고의 정밀도로 웨이퍼를 로딩 및 언로딩하기 위한 다중 암 시스템을 사용하여 웨이퍼를 빠르고 정확하게 정렬합니다.
인체공학적 설계
NWL200은 인체공학적으로 설계되어 작동과 제어가 간편합니다. 왼쪽으로 35도 각도가 적용되어 있어 슬롯 내 웨이퍼 배치와 전체 카세트 교환이 용이합니다.
핵심 기능
효율적인 전면 프론트 패널 사용자 인터페이스
버튼 하나로 카세트 슬롯에서 웨이퍼를 선택할 수 있습니다. 대형 LCD 화면은 시스템 제어 및 레시피와의 빠른 상호 작용을 지원합니다. 구조화된 메뉴를 통해 사용자가 시스템과 쉽게 대화할 수 있습니다.
충돌 회피를 위한 웨이퍼 센싱 기능
얇은 웨이퍼의 경우 상당한 왜곡이 발생합니다. 센서가 효과적이지 않으면 이송 암에 의해 웨이퍼가 손상될 수 있습니다. 니콘의 센서 빔의 사양 및 배열은 카세트의 얇은 웨이퍼가 왜곡되어 수집이 중단되는지 여부를 정확하게 감지합니다.
클린룸 시스템 오염 방지 대책
진공 클램핑 영역의 마찰 또는 웨이퍼의 중심을 맞추거나 방향 플랫 또는 노치를 정렬할 때 발생하는 충격으로 인한 먼지는 중단 없는 공기 흐름을 사용하여 최소화됩니다. NWL200 커버는 스테인리스 스틸로 제작되어 정전기 발생을 방지합니다.
원격 접속 웹 서버 지원 도구
웹 브라우저 마법사 인터페이스를 통해 고객의 LAN에 연결하면 쉽게 상호 작용하여 검사 레시피를 만들고 백업할 수 있습니다. 최적화된 제어 레시피를 원격으로 작성하면 중단 없이 유동적인 워크플로우의 웨이퍼 기능을 확인할 수 있습니다.
100µm 초박형 웨이퍼 척
제조의 발전으로 칩은 점점 얇아지고 있으며, 극도로 얇은 웨이퍼를 취급해야 합니다. NWL200 시리즈는 초박형 웨이퍼를 표준 300µm 및 200µm 두께로 로드하거나 옵션으로 100µm 두께로 로드합니다.
관련 제품
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니콘의 ECLIPSE L300ND, L300N 및 L200ND, L200NA는 반도체 현미경 제품군으로 집적 회로(IC), 평판 디스플레이(FPD), 대규모집적회로(LSI) 전자 장치, 기타 응용 분야의 검사에 적합합니다.
제품 알아보기ECLIPSE LV150NA 및 LV150N
다양한 에피스코픽 광학 대비 기법(BF-DF-DIC-POL-형광-간섭법)을 위해 설계된 유연한 모듈형 정립 현미경 시리즈. 이 기기는 디지털 이미징 액세서리 및 대형 스테이지 X-Y 이동 기능을 함께 갖추어 반도체 및 재료 검사 활동에 사용하기에 이상적인 제품입니다.
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