CFI60-2, 위상 프레넬 렌즈 요소
색수차 보정: 위상 프레넬 방식과 기존 디자인의 두 가지 렌즈 유형의 조합을 사용하여 각 요소의 색수차를 보정하므로 색상 왜곡이 크게 감소하고 우수한 품질의 이미지를 얻을 수 있습니다.
Products and promotions may differ based on your selected region.
ECLIPSE L300ND, L300N 및 L200ND, L200N
최신 제작품 검사를 위한 고급 반도체 현미경
탁월한 니콘 CFI60-2 광학 장치는 분석 소프트웨어를 이용하여 접안렌즈와 니콘의 디지털 이미징 카메라 모두에 우수한 이미지를 전달합니다. 이러한 우수한 광학 장치를 탁월한 조명 시스템과 결합하면 대비와 해상도가 뛰어난 이미지를 얻을 수 있습니다.
니콘 ECLIPSE L300N(D) 및 L200N(D)
이 현미경은 웨이퍼(L200N 시리즈의 경우 200mm, L300N 시리즈의 경우 300mm), 레티큘, 기타 기판의 정밀한 광학 검사에 사용합니다.
니콘 CFI60-2 광학 시리즈
니콘의 혁신적인 설계로 고대비, 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 이중 빔 간섭측정 광학 대비를 포함한 선명한 영상 기법을 이용할 수 있습니다.
니콘 Digital Sight 카메라
모든 니콘 Digital Sight 카메라 제품은 샘플의 이미지를 효율적인 방식으로 캡처한 다음, 이를 사용된 대물렌즈, 배율 설정값, 광도 등의 현미경 데이터와 함께 NIS-Elements 제품군의 이미지 처리 소프트웨어에 전달합니다.
L200N과 웨이퍼 로더 NWL200의 통합
니콘의 웨이퍼 로더는 반도체 산업에서 인정과 신뢰를 받고 있으며 오늘날 많은 현장에서 사용되고 있습니다.
제품 하이라이트
니콘 CFI60-2 광학 시리즈
니콘의 혁신적인 설계로 고대비, 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 이중 빔 간섭측정 광학 대비를 포함한 선명한 영상 기법을 이용할 수 있습니다.
범용 광학 대비 방법
반사광: 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 에피 형광 및 이중 빔 간섭계. 투과광: 명시야, 암시야, 편광, 차등 간섭 대비 및 위상차.
지능형 디지털 커뮤니케이션
이 현미경은 USB를 통해 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어에 연결하면 사용 중인 대물렌즈, 광도, 에피스코픽 조명, 조리개를 감지하고 제어합니다.
인체공학적 설계 컨셉
사용자 제어장치의 최적 위치 설정과 가변각 아이 튜브를 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.
핵심 기능
현미경 전면에 배치된 컨트롤
용이한 접근을 위해 기능 제어 버튼이 현미경 전면에 배치되어 빠르고 편리하게 작업할 수 있습니다. 컨트롤이 현미경 베이스에 위치하므로, 손 동작이 최소화되어 검사에만 집중할 수 있습니다.
간편하고 정확한 초점 조정을 위한 광학 목표물
조명 경로에 있는 광학 목표물을 사용하면 베어 웨이퍼(bare wafer) 등의 저대비 샘플에 빠르고 정확하게 초점을 맞출 수 있습니다. 이는 사용자에게 샘플이 정확한 초점 위치에 있다는 확신을 주므로 상당한 시간을 절약할 수 있습니다.
CFI60-2, 위상 프레넬, 긴 작동 거리 표준
긴 작동거리: 위상 프레넬 렌즈 요소와 기존 렌즈 요소 간의 거리가 매우 짧기 때문에 기존 디자인에 비해 훨씬 긴 작동 거리가 확보됩니다.
인체공학적 XY 정밀 스테이지 이동 제어
정밀 XY 이동을 위한 스테이지 하강 조절은 현미경의 정밀 초점조절 나사와 연동되어 고정된 상태로 유지됩니다. 이를 통해 작업자는 손을 움직이지 않고도 이미지에 초점을 맞추고 스테이지 위치를 조정할 수 있습니다.
재료 오염 방지
L-시리즈는 관찰되는 재료에 대한 작업자 오염을 최소화하도록 설계되었습니다. 주요 특징에는 본체, 스테이지, 접안 경통 및 기타 액세서리에 적용된 정전기 방지 코팅이 포함됩니다. 노즈피스 디자인은 사용 중에 생성되는 재료 파편도 잡아냅니다.
관련 제품
NWL200 웨이퍼 로더 시리즈
모든 기능을 갖춘 니콘의 혁신적인 NWL200 웨이퍼 로더는 광학 현미경 또는 비디오 측정 시스템(예: 니콘 NEXIV)을 통해 6인치(150mm) 및 8인치(200mm) 직경의 반도체 웨이퍼 종합 검사를 지원합니다.
제품 알아보기
문의하기
이 제품에 대한 자세한 설명이 필요한 경우 당사 전문팀이 추가 정보를 제공하며 필요한 경우 현장 방문도 가능합니다. 귀하의 프로젝트에 대해 자세히 알려주시면 요구사항에 맞는 최상의 검사 시스템에 대해 조언할 것입니다. 맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.