ECLIPSE L300ND, L300N 및 L200ND, L200N

니콘의 ECLIPSE L300ND, L300N 및 L200ND, L200NA는 반도체 현미경 제품군으로 집적 회로(IC), 평판 디스플레이(FPD), 대규모집적회로(LSI) 전자 장치, 기타 응용 분야의 검사에 적합합니다.

최신 제작품 검사를 위한 고급 반도체 현미경

탁월한 니콘 CFI60-2 광학 장치는 분석 소프트웨어를 이용하여 접안렌즈와 니콘의 디지털 이미징 카메라 모두에 우수한 이미지를 전달합니다. 이러한 우수한 광학 장치를 탁월한 조명 시스템과 결합하면 대비와 해상도가 뛰어난 이미지를 얻을 수 있습니다.

니콘 ECLIPSE L300N(D) 및 L200N(D)

이 현미경은 웨이퍼(L200N 시리즈의 경우 200mm, L300N 시리즈의 경우 300mm), 레티큘, 기타 기판의 정밀한 광학 검사에 사용합니다.

니콘 CFI60-2 광학 시리즈

니콘의 혁신적인 설계로 고대비, 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 이중 빔 간섭측정 광학 대비를 포함한 선명한 영상 기법을 이용할 수 있습니다.

니콘 Digital Sight 카메라

모든 니콘 Digital Sight 카메라 제품은 샘플의 이미지를 효율적인 방식으로 캡처한 다음, 이를 사용된 대물렌즈, 배율 설정값, 광도 등의 현미경 데이터와 함께 NIS-Elements 제품군의 이미지 처리 소프트웨어에 전달합니다.

L200N과 웨이퍼 로더 NWL200의 통합

니콘의 웨이퍼 로더는 반도체 산업에서 인정과 신뢰를 받고 있으며 오늘날 많은 현장에서 사용되고 있습니다.

제품 하이라이트

니콘 CFI60-2 광학 시리즈

니콘의 혁신적인 설계로 고대비, 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 이중 빔 간섭측정 광학 대비를 포함한 선명한 영상 기법을 이용할 수 있습니다.

범용 광학 대비 방법

반사광: 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 에피 형광 및 이중 빔 간섭계. 투과광: 명시야, 암시야, 편광, 차등 간섭 대비 및 위상차.

지능형 디지털 커뮤니케이션

이 현미경은 USB를 통해 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어에 연결하면 사용 중인 대물렌즈, 광도, 에피스코픽 조명, 조리개를 감지하고 제어합니다.

인체공학적 설계 컨셉

사용자 제어장치의 최적 위치 설정과 가변각 아이 튜브를 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.

핵심 기능

정립 현미경 L 시리즈

Digital Sight 시리즈

NIS Elements

관련 제품

현미경 부품

니콘의 현미경 부품은 최고의 정밀도를 요구하는 제조 장비 또는 검사 시스템에 현미경을 통합하는 데 사용됩니다.
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소프트웨어

NIS-Elements 소프트웨어는 니콘 Digital Sight 카메라 및 니콘 현미경을 관리하여 최고의 이미지를 캡처하고 처리합니다. 캡처한 이미지를 정렬하고 원활한 워크플로를 따라 논리적으로 처리합니다.
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문의하기

이 제품에 대한 자세한 설명이 필요한 경우 당사 전문팀이 추가 정보를 제공하며 필요한 경우 현장 방문도 가능합니다. 귀하의 프로젝트에 대해 자세히 알려주시면 요구사항에 맞는 최상의 검사 시스템에 대해 조언할 것입니다. 맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.