製造現場向けのデュアル.マテリアル CT
2種類の材料を用いたサンプルに対して、生産環境における自動検査を実現する革新的な再構成テクニック。高密度材料におけるアーチファクトの軽減について競合製品を圧倒する性能を誇り、高品質の画像を実現。
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検査用CT装置 XT H 450
高出力CT検査の限界を超越
世界で唯一、450 kVのマイクロフォーカスX線源を搭載。450 kV線源のスポットサイズは、ミニフォーカスよりも桁違いに小さいため、測定できる部品の種類が広く、より高解像、高精度での検査が可能です。ニコン独自の湾曲型ラインセンサと組み合わせることにより、シャープで散乱のない画像生成が可能です。
主な特長
ニコン独自の450 kVマイクロフォーカスX線源
世界で唯一、450 kVのマイクロフォーカスX線源を搭載。透過力と高分解能を両立し、高密度サンプル及び大型サンプルの微細欠陥の検査や形状評価を可能にします。
最高の解像度を実現する回転ターゲット
450 kVのX線源のターゲットを回転させて効率的に冷却することにより、450 Wでわずか120 μmのスポットサイズを実現。高出力領域での高分解撮影を可能にし、高速撮像や高密度サンプルの撮像に最適です。
ニコン独自のラインセンサ
ニコン独自の湾曲型ラインセンサ（CLDA：Curved Linear Detector Array）は、ノイズを低減し、X線画像の鮮明度を大幅に向上させます。
特長・機能
フラットパネル/ラインセンサ
フラットパネル/ラインセンサの選択・同時搭載も可能。フラットパネルでは超高精細パネルや高速パネルを選択できます。ラインセンサと組み合わせることで、用途に応じ、高速または高画質画像取得を一つの装置で実現します。
自動検出器評価
フラットパネル検出器はASTM E2597に準拠。ASTM E2737に準拠して性能の評価・追跡ができ、信頼性の高い検査効率と精度が長い期間にわたり保証されます。
ハーフターンCT
通常の半分である180度回転での計測を可能にし、計測時間を大幅に短縮。ニコン独自の再構築アルゴリズムにより、
ハーフスキャン時に発生しやすいアーチファクトを軽減させることが可能となります。
オフセットCT
撮像領域の半分がスキャンエリアに収まれば全体撮像が可能で、より大きな範囲でのデータ取得や、倍率を高めた撮像による高精細な画像が得られるようになります。また、デュアルオフセットCT機能により、データ欠損のない高精細なオフセットCT画像が得られます。
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