画像測定システム

スタンダードタイプ
NEXIV VMZ-Sシリーズ

さまざまなサンプルをカバーする汎用モデルです。μm台の公差管理を高速/高精度/使いやすく行えます。

広視野タイプ
iNEXIV VMA シリーズ

広視野と長作動距離で、高さや段差のあるサンプルの測定に適したエントリーモデルです。

コンフォーカルタイプ
NEXIV VMZ-Kシリーズ

明視野+コンフォーカルの2系統の光学系を搭載。2次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。

高精度タイプ
NEXIV VMZ-H3030

精密なステージ動作と高性能光学系によりNEXIVシリーズ最高精度での測定を実現します。

ソフトウェア

簡単操作と豊富な機能で、高速・高精度・使いやすさを実現します。

NEXIV VMZ-NWL200

VMZ-NWL200は、画像測定システム「NEXIV」とウェハローダ「NWL200」を統合した自動ウェハ測定システムです。高度な画像処理技術を搭載したNEXIVは、キャリアに収納された6インチまたは8インチのウェハの高速かつ高精度の測定を自動で実行します。

用途に応じた最適なソリューションを選択可能

電子部品、樹脂成型品、金属加工部品など、幅広い業種での製造現場から品質管理部門まで、ニーズに合わせてお選びいただけます。