XT Hシリーズ

適応性の高いニコンのマイクロフォーカスCTシステムは、小型のプラスチック製コネクターからアルミニウム鋳造品まで、さまざまなコンポーネントの研究開発、故障解析、品質管理で高解像度検査を実現します。

最も要求の厳しい検査アプリケーションに適応するソリューション

研究機関で求められる適応性に加え、225 kVのRotating.Target 2.0、Half.Turn CT取得モード、Auto.Filament Controlなど、ニコン独自の機能を搭載しています。生産現場での検査に使用することで、検査時間の短縮と稼働率の向上を実現します。

主な特長

豊富な製品ラインナップ

用途に応じて本体、X線源やディテクタ等を選択可能。また、測定ニーズに対応した精度保証タイプもご用意。

X.TendヘリカルCT

コーンビームとマルチスキャン・スティッチングによって、アーチファクトを排除することで、背の高い被検物を1回の撮像プロセスでスキャンできます。また、被検物を高倍率でスキャンすることで、解像度が大幅に向上するという利点もあります。

世界唯一の産業用225 kV反射型回転ターゲット

世界唯一の産業用225 kV反射型回転ターゲットも選択可能。最大450Wまでの高出力領域での高分解撮影を実現し、高速撮像や高密度サンプルの撮像に最適です。

特長・機能

製造現場向けのデュアル.マテリアル CT

2種類の材料を用いたサンプルに対して、生産環境における自動検査を実現する革新的な再構成テクニック。高密度材料におけるアーチファクトの軽減について競合製品を圧倒する性能を誇り、高品質の画像を実現。

OPC UAによる生産システムの統合

業界標準のプロトコルであるOPC UAにより、生産現場でのCT検査ならびに、ニコンX線システムとMES（製造実行システム）との統合、という弊社のコミットメントを実現します。

オートフィラメントコントロール

X線源の制御を最適化し、フィラメントの寿命を2倍に伸ばすことで、フィラメント交換に伴う装置のダウンタイムを削減。また、事前調整済みフィラメントカップにより、誰でも簡単・短時間の交換作業を実現します。

ハーフターンCT

通常の半分である180度回転での計測を可能にし、計測時間を大幅に短縮。ニコン独自の再構築アルゴリズムにより、
ハーフスキャン時に発生しやすいアーチファクトを軽減させることが可能となります。

ヘリカルスキャン

縦方向に長いサンプルでも一括で高倍率撮像を実現。また、コーンビームアーティファクトを低減するため、低ノイズなCTデータの取得も可能です。
（対応機種：MCT225 *オプション）

より広範囲かつ高解像度なスキャンを実現するオフセットCT

大きいサンプルはもちろん、検出器より幅の広いサンプルの計測を実現。サンプルを線源に近づけることで、解像度を向上させることも可能です。

計測用CT装置/ローカルキャリブレーション

MCT225はVDI/VDE 2630に準拠した計測用CT装置です。既存の測定機では測定困難な内部・外部寸法を非破壊で効率よく高精度に計測できます。
また、MCT225以外のＸ線ＣＴ検査装置においても、ローカルキャリブレーションを実行することで、お客様で対応可能な簡易校正プログラムにより、測定結果の信頼性を大幅に向上します。

業界最高レベルのイメージ品質

小さいピクセルサイズと高速露出に対応する、業界最高レベルの大面積フラットパネル検出器に、ニコン独自のマイクロフォーカスX線源を組み合わせることで、高品質かつ高解像度のデータセットが生成できます。

産業

XT Hシリーズ

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XT H225 検査用X線CT装置	XT H225 ST 2x 万能型検査用X線CT装置
搭載可能なワークサイズ	搭載可能なワークサイズ
透過厚	透過厚
精度	精度
最大出力	最大出力
汎用性	汎用性
設置寸法	設置寸法

AI Reconstruction（AI再構成）

ニコンのAI Reconstruction（AI再構成）は、人工知能（AI）を活用した画像強調の自動化によって、コンピュータ断層撮影法（CT）スキャンに変革をもたらします。お客様のニーズに合わせてカスタマイズされ、新次元のスピードと画質で卓越した欠陥検出を実現し、生産性を高めます。

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