製造現場向けのデュアル.マテリアル CT
2種類の材料を用いたサンプルに対して、生産環境における自動検査を実現する革新的な再構成テクニック。高密度材料におけるアーチファクトの軽減について競合製品を圧倒する性能を誇り、高品質の画像を実現。
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検査用CT装置/計測用CT装置 XT H 225シリーズ・XT H 320 / MCT225
さまざまな検査用途に対応可能な万能型X線CT検査装置
研究機関で求められる万能性に加え、回転ターゲット、ハーフターンCT、オートフィラメントコントロールなど、検査時間短縮を可能にするニコン独自の機能を搭載。生産現場でのCT検査ニーズに対応します。
主な特長
豊富な製品ラインナップ
用途に応じて本体、X線源やディテクタ等を選択可能。また、測定ニーズに対応した精度保証タイプもご用意。
多彩なマイクロフォーカスX線源
180 kVから320 kVまでのニコン独自のマイクロフォーカスX線源を、お客様の要望に合わせて選択することが可能です。また、全ての線源で開放管方式を採用。フィラメントのみの交換で長期利用が可能で、ランニングコストの低減を実現します。
世界唯一の産業用225 kV反射型回転ターゲット
世界唯一の産業用225 kV反射型回転ターゲットも選択可能。最大450Wまでの高出力領域での高分解撮影を実現し、高速撮像や高密度サンプルの撮像に最適です。
特長・機能
OPC UAによる生産システムの統合
業界標準のプロトコルであるOPC UAにより、生産現場でのCT検査ならびに、ニコンX線システムとMES（製造実行システム）との統合、という弊社のコミットメントを実現します。
オートフィラメントコントロール
X線源の制御を最適化し、フィラメントの寿命を2倍に伸ばすことで、フィラメント交換に伴う装置のダウンタイムを削減。また、事前調整済みフィラメントカップにより、誰でも簡単・短時間の交換作業を実現します。
ハーフターンCT
通常の半分である180度回転での計測を可能にし、計測時間を大幅に短縮。ニコン独自の再構築アルゴリズムにより、
ハーフスキャン時に発生しやすいアーチファクトを軽減させることが可能となります。
ヘリカルスキャン
縦方向に長いサンプルでも一括で高倍率撮像を実現。また、コーンビームアーティファクトを低減するため、低ノイズなCTデータの取得も可能です。
（対応機種：MCT225 *オプション）
より広範囲かつ高解像度なスキャンを実現するオフセットCT
大きいサンプルはもちろん、検出器より幅の広いサンプルの計測を実現。サンプルを線源に近づけることで、解像度を向上させることも可能です。
計測用CT装置/ローカルキャリブレーション
MCT225はVDI/VDE 2630に準拠した計測用CT装置です。既存の測定機では測定困難な内部・外部寸法を非破壊で効率よく高精度に計測できます。
また、MCT225以外のＸ線ＣＴ検査装置においても、ローカルキャリブレーションを実行することで、お客様で対応可能な簡易校正プログラムにより、測定結果の信頼性を大幅に向上します。
業界最高レベルのイメージ品質
小さいピクセルサイズと高速露出に対応する、業界最高レベルの大面積フラットパネル検出器に、ニコン独自のマイクロフォーカスX線源を組み合わせることで、高品質かつ高解像度のデータセットが生成できます。
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XT Hシリーズ用Inspect-X
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