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ECLIPSE LV150NA und LV150N
Modulare, motorisierte und manuell aufrechte Mikroskope
Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Dank des modularen Aufbaus ermöglicht das Universalmikroskop ergänzende optische Kontrastverfahren auf einem Mikroskopstativ.
Nikon ECLIPSE LV150NA und LV150N
Diese Mikroskope mit episkopischer Beleuchtung finden Ihren Einsatz für die Prüfung von Halbleitern, industriellen Materialien und Komponenten. Sie eignen sich auch für Anwendungen in Forschung und Entwicklung.
Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie
Nikons innovatives Design ermöglicht kristallklare Abbildungen mit unterschiedlichen Kontrastverfahren, einschließlich kontrastreiche Hellfeld-, Dunkelfeld-, Polarisations- (POL), Interferenzkontrast- (DIC) und Zweistrahl-Interferometrie-Verfahren.
Nikon Digital Sight Kameras
Die gesamte Palette der Digital-Sight-Kameras von Nikon kann Bilder einer Probe aufnehmen und an die Bildverarbeitungs-Software der NIS-Elements-Suite übermitteln. Bei Verwendung des LV-ECON E-Controllers können auch Daten zu den verwendeten Objektiven, den eingestellten Vergrößerungen und Beleuchtungseinstellungen automatisch an die Software übermittelt und von ihr gesteuert werden.
Integration von LV150N und Wafer-Loader NWL200
Nikons Wafer-Loader sind in der gesamten Halbleiterindustrie anerkannt und bewährt, und viele Installationen sind heute im Einsatz.
Produkthighlights
Universelle optische Kontrastverfahren
Reflektiertes Licht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differenzieller Interferenzkontrast (DIC), Epi-Fluoreszenz und Zweistrahl-Interferometrie.
Modulares Komponentenzubehör
Vom Lampenhaus bis zum Okular werden die Komponenten so ausgewählt, dass sie der Anwendung des Benutzers entsprechen. Dazu gehören Stative, Tische, Objektive, Objektivrevolver, Einblicktuben, Okulare, Digitalkameras, Filter und Zubehör für Kontrastverfahren.
Intelligente digitale Kommunikation
Mit Hilfe eines LV-ECON E-Controllers können die Mikroskope LV150NA und LV150N die Objektive, die Lichtintensität, die Blende und den Epi-Kontrast über die Nikon-Software NIS-Elements erkennen und steuern. Das LV150N erkennt und meldet die Objektivlinse mit Hilfe des LV-NU5I und LV-INAD.
Ergonomisches Design
Die optimale Positionierung der Bedienelemente und der variable Winkel des Einblicktubus ermöglichen ein ermüdungsfreies Arbeiten. Seitenrichtige aufrechte Bilder ermöglichen die korrekte Beobachtung von Rohstoffen, Halbleitern und industriellen Komponenten.
Wesentliche Eigenschaften
Bild-Stitching (Großes Bild)
Bei der Aufnahme von großen zusammengesetzten Bildern wird ein einziges Bild mit hoher Vergrößerung und großem Sichtfeld generiert, indem benachbarte Bilder aus einer Reihe von Einzelaufnahmen automatisch zusammengefügt werden.
EDF (Erweiterte Tiefenschärfe)
Option für motorisierte und manuelle Fokussierung Die EDF-Funktion wählt den fokussierten Bereich aus mehreren Z-Stapel-Bildern aus und erzeugt durch motorisierte oder manuelle Fokussierung einzelner Bilder von verschiedenen Ebenen ein tiefenscharfes Gesamtbild.
Inspektionen von Materialien und Halbleitersubstraten
Zu den Anwendungsbeispielen gehören die Inspektion von Halbleitersubstraten und -gehäusen, Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen und innovativen Materialien mit speziellen episkopischen Kontrastverfahren.
LV150N | LV150NA | |
Grundeinheit: | Maximale Objekthöhe: 38 mm (bei Verwendung mit Objektivrevolver LVNU5A U5A und Objekttisch LV-S32 3x2 / LV-S64 6x4) *73 mm bei Verwendung mit einer Stativerhöhung 12V50W interne Stromquelle für Dimmer, Grob- und Feineinstellknöpfe Links: Grob- und Feineinstellung / Rechts: Feineinstellung, 40 mm Hub Grobeinstellung: 14 mm/Umdrehung (mit Drehmomenteinstellung, Nachfokussierungsmechanismus) Feineinstellung: 0,1 mm/Umdrehung (1 u03bcm/Abstufung) Abstand der Befestigungslöcher für den Tisch: 70 x 94 (mit 4-M4-Schraube befestigt) |
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Objektivrevolver: | C-N6 ESD Sextuple Objektivrevolver ESD LV-NU5 Universal fünffach Objektivrevolver ESD LV-NBD5 BD fünffach Objektivrevolver ESD LV-NU5I Intelligenter Universal fünffachObjektivrevolver ESD | LV-NU5A Motorisierter Universal fünffach Objektivrevolver ESD LV-NU5A Motorisierter Universal fünffach Objektivrevolver ESD |
Episkopisches Beleuchtungsmodul: | LV-UEPI-N LV-LH50PC 12V50W Vorzentriertes Lampenhaus, LV-LL LED-Lampenhaus Hell-/Dunkelfeldumschalter und verbundene Aperturblende (zentrierbar), Leuchtfeldblende (zentrierbar) Geeignet für u00f8 25-mm-Filter (NCB11, ND16, ND4), Polarisator/Analysator, u03bb Lambdaplatte, Anregungslichtbalancer; ausgestattet mit Rauschunterdrücker LV-UEPI2 LV-LH50PC 12V50W Vorzentriertes Lampenhaus, LV-LL LED-Lampenhaus HG vorzentrierte Faser-Beleuchtung: C-HGFIE (mit Lichteinstellung) *Option Fluoreszenz-LED-Lichtquelle D-LEDI (mit Lichteinstellung (PC-steuerbar) *nur LV150N) Hell-/Dunkelfeldumschalter und verbundene Aperturblende (zentrierbar), Leuchtfeldblende (zentrierbar), Automatischer Wechsel der optischen Elemente für Hellfeld, Dunkelfeld und Epi-Fluoreszenz Geeignet für u00f8 25-mm-Filter (NCB11, ND16, ND4), Polarisator/Analysator, u03bb Lambdaplatte, Anregungslichtbalancer; ausgestattet mit Rauschunterdrücker |
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Okulartuben: | LV-TI3 trinokularer Okulartubus ESD (aufrechtes Bild, FOV: 22/25) LV-TT2 TT2 schwenkbarer trinokularer Okulartubus (aufrechtes Bild, FOV: 22/25) C-TB Binokulartubus (Inverses Bild, FOV: 22) P-TB Binokulartubus (Inverses Bild, FOV: 22) P-TT2 Trinokulartubus (Inverses Bild, FOV: 22) |
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Objekttische: | LV-S32 3x2 Tisch (Hub: 75 x 50 mm mit Glasplatte) ESD-kompatibel LV-S64 6x4 Tisch (Hub: 150 x 100 mm mit Glasplatte) ESD-kompatibel LV-S6 6x6 Tisch (Hub: 150 x 150 mm) ESD-kompatibel |
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Okulare: | CFI Okular Serie | |
Objektive: | CFI60-2/CFI60 Objektivserie für Industriemikroskope: Kombinationen in Übereinstimmung mit der Beobachtungsmethode | |
ESD Performance: | 1000 bis 10V, innerhalb von 0,2 Sek. (ohne bestimmtes Zubehör) Stromverbrauch: 1,2 A/75 W |
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Gewicht: | Ca. 8,6 kg | Ca. 8,7 kg |
Zugehörige Produkte
Mikroskop-Komponenten
Digitalkameras für Mikroskope
NWL200 Wafer Loader Serie
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