Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Dank des modularen Aufbaus ermöglicht das Universalmikroskop ergänzende optische Kontrastverfahren auf einem Mikroskopstativ.
Diese Mikroskope mit episkopischer Beleuchtung finden Ihren Einsatz für die Prüfung von Halbleitern, industriellen Materialien und Komponenten. Sie eignen sich auch für Anwendungen in Forschung und Entwicklung.
Nikons innovatives Design ermöglicht kristallklare Abbildungen mit unterschiedlichen Kontrastverfahren, einschließlich kontrastreiche Hellfeld-, Dunkelfeld-, Polarisations- (POL), Interferenzkontrast- (DIC) und Zweistrahl-Interferometrie-Verfahren.
Die gesamte Palette der Digital-Sight-Kameras von Nikon kann Bilder einer Probe aufnehmen und an die Bildverarbeitungs-Software der NIS-Elements-Suite übermitteln. Bei Verwendung des LV-ECON E-Controllers können auch Daten zu den verwendeten Objektiven, den eingestellten Vergrößerungen und Beleuchtungseinstellungen automatisch an die Software übermittelt und von ihr gesteuert werden.
Nikons Wafer-Loader sind in der gesamten Halbleiterindustrie anerkannt und bewährt, und viele Installationen sind heute im Einsatz.
Reflektiertes Licht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differenzieller Interferenzkontrast (DIC), Epi-Fluoreszenz und Zweistrahl-Interferometrie.
Vom Lampenhaus bis zum Okular werden die Komponenten so ausgewählt, dass sie der Anwendung des Benutzers entsprechen. Dazu gehören Stative, Tische, Objektive, Objektivrevolver, Einblicktuben, Okulare, Digitalkameras, Filter und Zubehör für Kontrastverfahren.
Mit Hilfe eines LV-ECON E-Controllers können die Mikroskope LV150NA und LV150N die Objektive, die Lichtintensität, die Blende und den Epi-Kontrast über die Nikon-Software NIS-Elements erkennen und steuern. Das LV150N erkennt und meldet die Objektivlinse mit Hilfe des LV-NU5I und LV-INAD.
Die optimale Positionierung der Bedienelemente und der variable Winkel des Einblicktubus ermöglichen ein ermüdungsfreies Arbeiten. Seitenrichtige aufrechte Bilder ermöglichen die korrekte Beobachtung von Rohstoffen, Halbleitern und industriellen Komponenten.
EDF (Erweiterte Tiefenschärfe)
Option für motorisierte und manuelle Fokussierung Die EDF-Funktion wählt den fokussierten Bereich aus mehreren Z-Stapel-Bildern aus und erzeugt durch motorisierte oder manuelle Fokussierung einzelner Bilder von verschiedenen Ebenen ein tiefenscharfes Gesamtbild.
Bild-Stitching (Großes Bild)
Bei der Aufnahme von großen zusammengesetzten Bildern wird ein einziges Bild mit hoher Vergrößerung und großem Sichtfeld generiert, indem benachbarte Bilder aus einer Reihe von Einzelaufnahmen automatisch zusammengefügt werden.
Zu den Anwendungsbeispielen gehören die Inspektion von Halbleitersubstraten und -gehäusen, Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen und innovativen Materialien mit speziellen episkopischen Kontrastverfahren.
| LV150N | LV150NA | |
| Grundeinheit: | Maximale Objekthöhe: 38 mm (bei Verwendung mit Objektivrevolver LVNU5A U5A und Objekttisch LV-S32 3x2 / LV-S64 6x4) *73 mm bei Verwendung mit einer Stativerhöhung 12V50W interne Stromquelle für Dimmer, Grob- und Feineinstellknöpfe Links: Grob- und Feineinstellung / Rechts: Feineinstellung, 40 mm Hub Grobeinstellung: 14 mm/Umdrehung (mit Drehmomenteinstellung, Nachfokussierungsmechanismus) Feineinstellung: 0,1 mm/Umdrehung (1 u03bcm/Abstufung) Abstand der Befestigungslöcher für den Tisch: 70 x 94 (mit 4-M4-Schraube befestigt) |
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| Objektivrevolver: | C-N6 ESD Sextuple Objektivrevolver ESD LV-NU5 Universal fünffach Objektivrevolver ESD LV-NBD5 BD fünffach Objektivrevolver ESD LV-NU5I Intelligenter Universal fünffachObjektivrevolver ESD | LV-NU5A Motorisierter Universal fünffach Objektivrevolver ESD LV-NU5A Motorisierter Universal fünffach Objektivrevolver ESD |
| Episkopisches Beleuchtungsmodul: | LV-UEPI-N LV-LH50PC 12V50W Vorzentriertes Lampenhaus, LV-LL LED-Lampenhaus Hell-/Dunkelfeldumschalter und verbundene Aperturblende (zentrierbar), Leuchtfeldblende (zentrierbar) Geeignet für u00f8 25-mm-Filter (NCB11, ND16, ND4), Polarisator/Analysator, u03bb Lambdaplatte, Anregungslichtbalancer; ausgestattet mit Rauschunterdrücker LV-UEPI2 LV-LH50PC 12V50W Vorzentriertes Lampenhaus, LV-LL LED-Lampenhaus HG vorzentrierte Faser-Beleuchtung: C-HGFIE (mit Lichteinstellung) *Option Fluoreszenz-LED-Lichtquelle D-LEDI (mit Lichteinstellung (PC-steuerbar) *nur LV150N) Hell-/Dunkelfeldumschalter und verbundene Aperturblende (zentrierbar), Leuchtfeldblende (zentrierbar), Automatischer Wechsel der optischen Elemente für Hellfeld, Dunkelfeld und Epi-Fluoreszenz Geeignet für u00f8 25-mm-Filter (NCB11, ND16, ND4), Polarisator/Analysator, u03bb Lambdaplatte, Anregungslichtbalancer; ausgestattet mit Rauschunterdrücker |
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| Okulartuben: | LV-TI3 trinokularer Okulartubus ESD (aufrechtes Bild, FOV: 22/25) LV-TT2 TT2 schwenkbarer trinokularer Okulartubus (aufrechtes Bild, FOV: 22/25) C-TB Binokulartubus (Inverses Bild, FOV: 22) P-TB Binokulartubus (Inverses Bild, FOV: 22) P-TT2 Trinokulartubus (Inverses Bild, FOV: 22) |
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| Objekttische: | LV-S32 3x2 Tisch (Hub: 75 x 50 mm mit Glasplatte) ESD-kompatibel LV-S64 6x4 Tisch (Hub: 150 x 100 mm mit Glasplatte) ESD-kompatibel LV-S6 6x6 Tisch (Hub: 150 x 150 mm) ESD-kompatibel |
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| Okulare: | CFI Okular Serie | |
| Objektive: | CFI60-2/CFI60 Objektivserie für Industriemikroskope: Kombinationen in Übereinstimmung mit der Beobachtungsmethode | |
| ESD Performance: | 1000 bis 10V, innerhalb von 0,2 Sek. (ohne bestimmtes Zubehör) Stromverbrauch: 1,2 A/75 W |
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| Gewicht: | Ca. 8,6 kg | Ca. 8,7 kg |
Wenn Sie weitere Einzelheiten zu diesem Produkt oder eine ausführlichere Beschreibung wünschen, stellt Ihnen unser Expertenteam zusätzliche Informationen zur Verfügung und arrangiert falls erforderlich einen Besuch vor Ort. Sprechen Sie mit uns im Detail über Ihr Projekt und unsere Experten werden Sie über das beste Prüfsystem für Ihre Anforderungen beraten. Bitte füllen Sie das nebenstehende Formular aus und wir werden uns in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.
