Analyse der Korngröße
Körner in ein- und zweiphasigen Materialproben können gemäß den Normen JIS G0551, ASTM E112-13, E1382-97, ISO643 und GB/T 6394 erkannt und gemessen werden.

Die verbesserten Mikroskope erweitern das umfassende Angebot an industriellen Mikroskopielösungen durch die Verwendung einer LED-Lichtquelle mit hoher Farbtreue.
Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentiellem Interferenzkontrast (DIC) und Zweistrahlinterferometrie mit hohem Kontrast.
Alle Nikon Digital Sight Kameras nehmen effizient Bilder einer Probe auf und liefern sie an die Bildverarbeitungssoftware der NIS-Elements Suite, zusammen mit Mikroskopdaten über das verwendete Objektiv, die Vergrößerungseinstellung und die Lichtintensität.
Reflektiertes Licht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differenzieller Interferenzkontrast (DIC), Epi-Fluoreszenz und Zweistrahl-Interferometrie. Durchlicht: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentieller Interferenzkontrast (DIC) und Phasenkontrast.
Vom Lampenhaus bis zum Okular werden die Komponenten so ausgewählt, dass sie der Anwendung des Benutzers entsprechen. Dazu gehören Stative, Tische, Objektive, Objektivrevolver, Einblicktuben, Okulare, Digitalkameras, Filter und Zubehör für Kontrastverfahren.
Das LV100NDA LED erkennt und steuert Objektivdaten, Position, Lichtstärke, Blende und Kontrast über die Nikon-Software. Das LV100ND LED erkennt und meldet das vom LV-NU5I und LV-INAD verwendete Objektiv.
Die optimale Positionierung der Bedienelemente und ein Einblicktubus mit variablem Winkel ermöglichen ein ermüdungsfreies Arbeiten und bieten ein seitenrichtiges, aufrechtes Bild, um Materialien, Halbleiter und industrielle Komponenten korrekt zu betrachten.
Analyse der Korngröße
Körner in ein- und zweiphasigen Materialproben können gemäß den Normen JIS G0551, ASTM E112-13, E1382-97, ISO643 und GB/T 6394 erkannt und gemessen werden.
LV100ND LED | LV100NDA LED | |
Base unit | Maximum sample height: 38 mm (when used with LV-NU5 U5 nosepiece and LV-S32 3x2 stage / LV-S64 6x4 stage) 12V50W internal power source for dimmer, coarse and fine adjustment knobs Left: coarse and fine adjustment / Right: fine adjustment, 40 mm stroke Coarse adjustment: 14 mm/turn (with torque adjustment, refocusing mechanism) Fine adjustment: 0.1 mm/turn (1 µm/graduation) | Maximum sample height: 33 mm (when used with LVNU5AI U5AI nosepiece and LV-S32 3x2 stage / LV-S64 6x4 stage) 12V50W internal power source for dimmer, coarse and fine adjustment knobs Left: coarse and fine adjustment / Right: fine adjustment, 40 mm stroke Coarse adjustment: 14 mm/turn (with torque adjustment, refocusing mechanism) Fine adjustment: 0.1 mm/turn (1 µm/graduation) |
Nosepieces | C-N6 ESD Sextuple Nosepiece ESD, LV-NU5 Universal Quintuple Nosepiece ESD LV-NBD5 BD Quintuple Nosepiece ESD, LV-NU5I Intelligent Universal Quintuple Nosepiece ESD D-ND6 Sextuple DIC Nosepiece | LV-NU5AI Motorized Universal Quintuple Nosepiece (High-durability motorized 5-hole universal nosepiece) |
Episcopic Illuminators | LV-UEPI-N High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1 Bright/darkfield switch and linked aperture stop (centerable), field diaphragm (centerable), accepts ø 25 mm filter (LV-C-LCB), polarizer/analyzer; equipped with noise terminator LV-UEPI2 High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1 Fluorescence LED light source D-LEDI (with light adjustment (PC controllable)) *option Bright/darkfield switch and linked aperture stop (centerable), field diaphragm (centerable), automated optical element switching feature matched to brightfield, darkfield, and epi-fluorescence switch Accepts ø 25 mm filter (LV-C-LCB), polarizer/analyzer, λ plate, excitation light balancer; equipped with noise terminator | LV-UEPI2A High color-rendering LED Lamphouse C-LL-I: 50,000 hours of life *1 Fluorescence LED light source D-LEDI (with light adjustment (PC controllable)) *option Motorized operation and control of illumination selector turret Motorized aperture stop linked to bright/darkfield selector (automatic optimization matched to objective lens), field diaphragm (centerable) Accepts ø 25 mm filter (LV-C-LCB), polarizer/analyzer, λ plate, excitation light balancer; equipped with noise terminator |
Diascopic Illuminator | Built-in high color-rendering LED Lamphouse C-LL-I (50,000 hours of life) (Fly Eye optical system) *1 Internal aperture, field diaphragm, filter (45C-LCB); transmitted/reflected selector switch |
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Eyepiece tubes | LV-TI3 trinocular eyepiece tube ESD (Erected image, FOV: 22/25), LV-TT2 TT2 tilting trinocular eyepiece tube (Erected image, FOV: 22/25), P-TB Binocular Tube (Inverted image, FOV: 22), P-TT2 Trinocular Tube (Inverted image, FOV: 22) | |
Stages | LV-S32 3x2 stage (Stroke: 75 x 50 mm with glass plate) / LV-S32SGH slide glass holder LV-S64 6x4 stage (Stroke: 150 x 100 mm with glass plate), LV-SRP P revolving stage NIU-CSRR2 Ni-U right handle rotatable ceramic stage (Stroke: 78 x 54 mm), C-CSR2S right handle stage (Stroke: 78 x 54 mm: Used with stage adapter LV-SAD) |
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Condensers | LWD achromat condenser (brightfield), LV-CUD U condenser dry (phase contrast, diascopic DIC, darkfield), Achromat 2x-100x slide condenser (brightfield), DF dry condenser (darkfield), and others | |
Eyepieces | CFI eyepiece series | |
Objective lenses | Industrial Microscope CFI60-2/CFI60 optical system Objective lens series: Combinations in accordance with the observation method | |
ESD performance | 1,000 to 10V, within 0.2 sec. (excluding certain accessories) | |
Power consumption | 0.7 A / 58 W *2 | 0.7 A / 58 W *2 |
Weight | Approx. 9 kg | Approx. 10 kg |
*1: Estimated value based on Nikon regulations.
*2: Reference value based on Nikon regulations.
Wenn Sie weitere Einzelheiten zu diesem Produkt oder eine ausführlichere Beschreibung wünschen, stellt Ihnen unser Expertenteam zusätzliche Informationen zur Verfügung und arrangiert falls erforderlich einen Besuch vor Ort. Sprechen Sie mit uns im Detail über Ihr Projekt und unsere Experten werden Sie über das beste Prüfsystem für Ihre Anforderungen beraten. Bitte füllen Sie das nebenstehende Formular aus und wir werden uns in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.