Die Nikon Corporation (Nikon) hat eine umfassende Suite von Verbesserungen für ihre Röntgen-CT-Systeme der XT V-Serie angekündigt und damit die Position der Plattform als weltweit führende Lösung für die zerstörungsfreie Inspektion elektronischer Komponenten gestärkt. Diese Verbesserungen ermöglichen es den Bedienern, eine bessere Bildqualität zu erzielen, schwerere Proben zu scannen und empfindliche Komponenten vor elektrostatischer Entladung und Strahlenschäden zu schützen.
Die Software-Erweiterung und fünf Hardware-Erweiterungen sind als optionale Upgrades für die XT V-Serie erhältlich, sodass Kunden ihre Systeme an ihre spezifischen Anforderungen anpassen können.
Software-Erweiterungen:
- High Contrast Filter 2.0: Bietet durchgehend klare Bildgebung, die sicherstellt, dass Defekte sofort sichtbar sind, unabhängig von der Kombination aus Probeform und -dichte.
Hardware-Erweiterungen:
- Heavy Duty Tray: Ermöglicht das Scannen größerer, schwererer Bauteile. Bediener können mehr Bauteile in jeder Charge scannen und die Inspektionsmöglichkeiten erweitern.
- Diamond Window: Liefert einen verbesserten Bildkontrast über den gesamten Betriebsbereich, was besonders bei Proben mit geringer Dichte und gemischten Materialien von Vorteil ist und zu weniger Rauschen und schnelleren Scans führt.
- Low-Dose-Kollimator: Schützt strahlungsempfindliche Elektronik und minimiert die Strahlenbelastung empfindlicher Bauteile wie Halbleiterbauelemente, während gleichzeitig eine sichere Inspektion größerer Chargen ermöglicht wird.
- ESD-Sicherheits-Upgrade: Bietet eine ESD-sichere Inspektion empfindlicher elektronischer Komponenten gemäß den Normen IEC 6100-4-2, ANSI/ESD S20.20 und JEDEC JESD625 bei Installation in einem ESD-geschützten Bereich (EPA) und ermöglicht so eine zuverlässige Integration in ESD-sichere Prozesse.
- CT-Arm mit hoher Vergrößerung: Ermöglicht CT-Scans mit höherer Vergrößerung für kleine Proben, sodass Bediener die Details deutlicher erkennen können als bisher.
Die XT V-Serie überzeugt weiterhin bei Anwendungen zur Prüfung von elektronischen Bauteilen, darunter PCBs, BGAs, Chips und Halbleiterbauelemente. Die Systeme behalten ihre marktführenden Xi-Mikrofokus-Röntgenquellen und leistungsstarke Bildverbesserungsfunktionen bei, während die neuen Verbesserungen Kunden in den Bereichen Elektronikfertigung, Halbleiterproduktion und Qualitätskontrolle einen zusätzlichen Mehrwert bieten.
Weitere Informationen zur verbesserten XT V-Serie sind auf der Website von Nikon verfügbar.
Im Namen von:
Nikon Metrology Europe NV
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Kontakt: Mona Noujeim, X-ray Marketing Manager Europe
Tel: +32 16 74 01 01
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