这是计算机断层扫描技术领域的变革性进步，可在保持扫描效率的同时，实现针对大型复杂工业部件的超高分辨率。
Nikon Corporation (Nikon) 为其 VOXLS 和 XT H 225 系列工业 X 射线检测系统推出了 Limited Angle CT，这是一项创新型计算机断层扫描 (CT) 技术。 这项技术可在无需对样品进行 360 度完整旋转的情况下，实现高分辨率成像，这推动了 CT 扫描技术的发展。Limited Angle CT 可使样品更靠近 X 射线源，实现更高的放大倍率，从而能够对较大部件内部特定关注区域进行深入检测。
这项技术进步采用了精心设计，旨在满足高端行业的需求，特别适合检测平面形状或复杂几何形状的部件，例如印刷电路板、软包及方壳电动汽车电池，以及碳纤维部件。借助其特有功能，制造商能够在保持高精度和高效率的同时，简化检测流程。
主要特性包括：
- 超高分辨率：对于具有高纵横比或复杂几何形状的样品，能够实现更小的体素分辨率，而传统的几何放大倍率方法则难以胜任。
- 经过优化的重建：即使在旋转角度减小的情况下，Nikon 的专有算法也能提供数据集而不会损失质量和准确性，其性能可与传统 CT 相媲美。
- 自动化操作：Nikon 的旋转中心计算功能可实现完全自动化的扫描流程，无需人工干预，也无需定位辅助工具。
- 快速采集：在几分钟内即可完成详细扫描，相比同等应用场景中的传统 X 射线显微镜方法，速度要快得多。
“Limited Angle CT 拓展了我们 X 射线 CT 系统的检测能力，”Nikon 的 X 射线产品经理 Ben Morgan 表示。“它是 Nikon CT 工具包中的多种先进成像技术之一。Limited Angle CT 与 X.Tend Helical CT、平板移动 CT、倾斜 CT 和 Scatter Correction CT 等其他方法相辅相成。在系统中具有优秀的多功能性，使操作员能够为每项特定检测任务选择最合适的技术。如今，借助 Limited Angle CT，可以对较大样品中的特定区域进行高放大倍率检测。”
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