在CT应用中，分辨率和工件密度一直是决定检测效果的核心因素。对于大尺寸的电路板，平板类工件的局部细节检测，业界一直存在着分辨率不够，穿透厚度太大，伪影严重的检测难题。
为此尼康推出了创新扫描模式—倾斜CT，可以大幅度提高针对此类零件的扫描效果和检测效率。本次研讨会将结合具体案例演示倾斜CT的优势。展示倾斜CT的卓越图像效果和快速的扫描效率。
我是尼康精机(上海)有限公司IDS工业解决方案事业部的应用工程师孔军军，在CT应用领域工作近十年，在电子产品的失效分析和复合件的尺寸测量两个领域积累了丰富的检测经验。努力为客户提供更好的，更合适的解决方案。
