
Products and promotions may differ based on your selected region.
ด้วยการตรวจสอบในระดับที่ต่ำกว่าไมครอน กลุ่มผลิตภัณฑ์ XT V ตอบสนองความต้องการในปัจจุบันสำหรับการตรวจสอบประสิทธิภาพสูงและไม่ทำลายชิ้นงานของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ที่ซับซ้อน แหล่งกำเนิดเอกซเรย์ Xi Nanotech ของ Nikon จับคู่กับตัวรับภาพ Flat panel ชั้นนำในอุตสาหกรรม ให้คุณภาพของภาพที่ดีที่สุดในระดับเดียวกัน พร้อมการใช้งานที่ราบรื่นระหว่างการตรวจสอบ 2 มิติและ 3 มิติ
แหล่งกำเนิดไมโครโฟกัสเอกซเรย์ Xi Nanotech ชั้นนำในตลาดของ Nikon มีเอกลักษณ์เฉพาะเนื่องจากการออกแบบสุดพิเศษของเครื่องกำเนิดพลังไฟฟ้า ใช้พลังงานสูงสุดได้ถึง 160kV โดยไม่มีใครเทียบได้และยังใช้พลังงานที่ Target ได้ถึง 20W
High.Contrast Filter เปิดเผยรายละเอียดที่ซ่อนอยู่ในภาพถ่ายเอกซเรย์โดยให้คุณภาพของภาพที่โดดเด่นทั้งบริเวณที่มีคอนทราสต์สูงและต่ำในภาพเดียวอย่างชัดเจน ขณะนี้ผู้ใช้งานสามารถวิเคราะห์ทุกๆส่วนของชิ้นงานได้รวดเร็วกว่าที่เคย จึงช่วยเพิ่มประสิทธิภาพและเพิ่มผลผลิตให้กับผู้ใช้งาน
PCB Analysis Suite สามารถวัดและวิเคราะห์ได้อย่างเหนือชั้นสำหรับ BGA Bond wires PTH และแพ็คเกจที่ซับซ้อน เช่น PoP บนบอร์ดหลายชั้น พร้อมการตรวจสอบและการรายงาน Pass/Fail โดยอัตโนมัติ
ขอบเขตการมองเห็นที่เอียงได้มากถึง 90 องศา พร้อมการหมุนชิ้นงานโดยรอบ 360 องศา และตรวจสอบพื้นที่ที่สนใจอย่างคงที่ด้วยซอฟต์แวร์และฮาร์ดแวร์อัจฉริยะ
ระบบนี้ใช้งานง่ายและควบคุมด้วยซอฟต์แวร์ชั้นนำของอุตสาหกรรมเพื่อเพิ่มผลผลิตสูงสุดสำหรับผู้ใช้งานทุกท่าน โดยมีความจำเป็นในการฝึกอบรมเพียงเล็กน้อย
ด้วยคุณสมบัติที่สามารถตรวจสอบระดับต่ำกว่าไมครอน การตรวจสอบด้วย XT V เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการใช้งานที่หลากหลายในอุตสาหกรรมต่างๆ รวมถึงการตรวจสอบการประกอบ PCB BGA chips ชิ้นงานทางการแพทย์ ยานยนต์และอวกาศ สินค้าอุปโภคบริโภค และอื่นๆอีกมากมาย
![]() | ![]() |
XT V130C ระบบ 130kV ที่คุ้มค่าสำหรับการตรวจสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ | XT V160 ระบบ 160kV ระดับพรีเมียมสำหรับการใช้งาน X-ray และ CT ที่มีความแม่นยำสูง |
พลังงาน | พลังงาน |
ความละเอียด | ความละเอียด |
Field of View | Field of View |
ใช้งาน CT ได้ | ใช้งาน CT ได้ |
ใช้งาน X.Tract ได้ | ใช้งาน X.Tract ได้ |
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว