Products and promotions may differ based on your selected region.
เลนส์ใกล้วัตถุ
เลนส์ใกล้วัตถุ CFI60-2
เลนส์ใกล้วัตถุ CFI60-2 ได้รับการพัฒนาขึ้นใหม่จาก CFI60 ที่จัดทำขึ้นโดยมีค่า NA สูงและระยะการทำงานที่ไกล
การใช้เลนส์ Fresnel แบบเฟสเฉพาะของ Nikon เลนส์ใกล้วัตถุ CFI60-2 จึงมีระยะการทำงานที่ไกลและบรรลุความคลาดเคลื่อนสีที่ได้รับการแก้ไขในระดับสูงเพื่อให้ได้ภาพที่คมชัด
| Objective Lens | Magnification | NA | WD (mm) | |
|---|---|---|---|---|
| Brightfield | T Plan EPI (Semi-apochromat) *1 | 1X | 0.03 | 3.8 |
| 2.5X | 0.08 | 6.5 | ||
| TU Plan Fluor EPI (Semi-apochromat) | 5X | 0.15 | 23.5 | |
| 10X | 0.30 | 17.3 | ||
| 20X | 0.45 | 4.5 | ||
| 50X | 0.80 | 1.0 | ||
| 100X | 0.90 | 1.0 | ||
| TU Plan Apo EPI (Apochromat) *2 | 50X | 0.80 | 2.0 | |
| 100X | 0.90 | 2.0 | ||
| 150X | 0.90 | 1.5 | ||
| Polarizing | TU Plan Fluor EPI P Polarizing (Semi-apochromat) | 5X | 0.15 | 23.5 |
| 10X | 0.30 | 17.3 | ||
| 20X | 0.45 | 4.5 | ||
| 50X | 0.80 | 1.0 | ||
| 100X | 0.90 | 1.0 | ||
| Brightfield Long Working Distance | TU Plan EPI ELWD (Semi-apochromat) *2 | 20X | 0.40 | 19.0 |
| 50X | 0.60 | 11.0 | ||
| 100X | 0.80 | 4.5 | ||
| Brightfield Super-long Working Distance | T Plan EPI SLWD (Semi-apochromat) *2 | 10X | 0.20 | 37.0 |
| 20X | 0.30 | 30.0 | ||
| 50X | 0.40 | 22.0 | ||
| 100X | 0.60 | 10.0 | ||
| Brightfield/Darkfield | TU Plan Fluor BD (Semi-apochromat) | 5X | 0.15 | 18.0 |
| 10X | 0.30 | 15.0 | ||
| 20X | 0.45 | 4.5 | ||
| 50X | 0.80 | 1.0 | ||
| 100X | 0.90 | 1.0 | ||
| TU Plan Apo BD Universal Plan Apo (Apochromat) *2 | 50X | 0.80 | 2.0 | |
| 100X | 0.90 | 2.0 | ||
| 150X | 0.90 | 1.5 | ||
| Brightfield/Darkfield Long Working Distance Type | TU Plan BD ELWD (Semi-apochromat) *2 | 20X | 0.40 | 19.0 |
| 50X | 0.60 | 11.0 | ||
| 100X | 0.80 | 4.5 |
*1 แผ่นโพลาไรซ์แบบวงกลมและดีโพลาไรเซอร์ถูกสร้างขึ้นในเลนส์ใกล้วัตถุ T Plan EPI 1×/2.5× (แผ่นโพลาไรซ์แบบวงกลมสามารถติด/ถอดออกได้)
*2 เลนส์ Phase Fresnel (ชนิดองค์ประกอบออปติคอลที่มีการเลี้ยวเบน)
เลนส์ใกล้วัตถุ CFI60
เลนส์ใกล้วัตถุเหล่านี้ได้รับการออกแบบมาสำหรับระบบ CFI60 ซึ่งเป็นระบบออปติคอลที่เป็นกรรมสิทธิ์ของ Nikon ซึ่งรวมเอาออปติคแบบอินฟินิตี้เข้ากับประสิทธิภาพที่เหนือกว่าของระบบออปติคอล CF ข้อดีของระยะ parfocal 60 มม. ซึ่งเป็นมาตรฐานใหม่ถูกนำมาใช้เพื่อเพิ่มระยะการทำงานในขณะที่ยังคงรักษาค่า NA ได้สูง ทำให้ได้ภาพที่คมชัดพร้อมคอนทราสต์สูงและความละเอียดสูง
| Objective Lens | Magnification | NA | WD (mm) | |
|---|---|---|---|---|
| Brightfield | L Plan EPI (Achromat) | 40X | 0.65 | 1.00 |
| LE Plan EPI (Achromat) | 5X | 0.10 | 31.00 | |
| 10X | 0.25 | 13.00 | ||
| 20X | 0.40 | 3.60 | ||
| 50X | 0.75 | 0.50 | ||
| 100X | 0.90 | 0.31 | ||
| Brightfield With Correction Mechanism | L Plan EPI CR For Inspecting LCDs Plan | 20X | 0.45 | 10.90 - 10.00 |
| 50X | 0.70 | 3.90 - 3.00 | ||
| 100X | 0.85 | 1.20 - 0.85 | ||
| 100X | 0.85 | 1.30 - 0.95 |
เลนส์ใกล้วัตถุ CF Infinity Corrected
เลนส์ใกล้วัตถุสนับสนุนระบบออปติคอลที่แก้ไขระยะ CF infinity ที่รวมออปติค CF ที่ผ่านการพิสูจน์ในภาคสนามเข้ากับการแก้ไขระยะ infinity เพื่อสร้างภาพที่คมชัด ความละเอียดสูง พร้อมคอนทราสต์สูงและแสงแฟลร์น้อยที่สุด
| Objective Lens | Magnification | NA | WD (mm) | |
|---|---|---|---|---|
| Brightfield | CF IC EPI Plan (Achromat) | 2.5XA | 0.08 | 8.80 |
| 5XA | 0.13 | 22.50 | ||
| 10XA | 0.30 | 16.50 | ||
| 20XA | 0.46 | 3.10 | ||
| 50XA | 0.80 | 0.54 | ||
| 100XA | 0.95 | 0.30 | ||
| CF IC EPI Plan ELWD Long working distance | 20X | 0.40 | 11.00 | |
| 50X | 0.55 | 8.70 | ||
| 100X | 0.80 | 2.00 | ||
| CF IC EPI Plan SLWD Ultra-long working distance | 10X | 0.21 | 20.30 | |
| 20X | 0.35 | 20.50 | ||
| 50X | 0.45 | 13.80 | ||
| 100X | 0.73 | 4.70 | ||
| CF IC EPI Plan Apo High-Resolution (Apochromat) | 50XA | 0.95 | 0.35 | |
| 100XA | 0.95 | 0.32 | ||
| 150XB | 0.95 | 0.20 | ||
| Double Beam Interference | CF IC EPI Plan DI | 10XA | 0.30 | 7.40 |
| 20XA | 0.40 | 4.70 | ||
| 50XA | 0.55 | 3.40 | ||
| 100XA | 0.70 | 2.00 | ||
| Interference Objectives | CF IC EPI Plan TI | 2.5XA | 0.08 | 10.30 |
| 5XA | 0.13 | 9.30 |
*1 ใช้ร่วมกับเครื่องวิเคราะห์และโพลาไรเซอร์ ไม่สามารถครอบคลุมอุปกรณ์ต่อพ่วงบางอย่างที่อยู่ในขอบเขตการมองเห็นได้
พูดคุยกับเราเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้
หากคุณต้องการรายละเอียดเพิ่มเติมเกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้หรือคำอธิบายเชิงลึก ทีมผู้เชี่ยวชาญของเราจะให้ข้อมูลเพิ่มเติมแก่คุณ และหากจำเป็นจะขอทำการนัดหมายเพื่อเข้าพบ
พูดคุยกับเราในรายละเอียดเกี่ยวกับโครงการของคุณ แล้วผู้เชี่ยวชาญของเราจะแนะนำระบบการตรวจสอบที่ดีที่สุดเพื่อตอบสนองความต้องการของคุณ
กรุณากรอกแบบฟอร์มด้านข้างนี้ แล้วเราจะติดต่อกลับโดยเร็ว