Nikon เปิดตัว NEXIV VMF-K ซีรีส์ใหม่ ซึ่งเป็นระบบการวัดขนาด 3 มิติ อย่างละเอียดและมีประสิทธิภาพสูงที่ช่วยเพิ่มปริมาณงานวัดได้มากขึ้นอย่างชัดเจน
โตเกียว – Nikon Corporation (Nikon) เปิดตัวซีรีส์ใหม่ NEXIV VMF-K ซึ่งเป็นระบบการวัดขนาด 3 มิติ รุ่นใหม่ที่ได้รับการออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการในการตรวจสอบชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์และอิเล็กทรอนิกส์ที่เพิ่มมากขึ้น
ซีรีส์ NEXIV VMF-K ต่อยอดจากความสำเร็จของซีรีส์ VMZ-K ที่มอบประโยชน์มากมายให้กับอุตสาหกรรมหลากหลายประเภท ไม่เพียงแต่การผลิตเซมิคอนดักเตอร์ แต่ยังรวมไปถึงบรรจุภัณฑ์ที่ล้ำสมัย การผลิตซับสเตรต การตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ และการตรวจสอบโพรบการ์ด
เนื่องจากเซมิคอนดักเตอร์มีขนาดเล็กลงและมีการบูรณาการมากขึ้น กระบวนการตรวจสอบจึงมีความสำคัญอย่างยิ่งต่อการรักษาคุณภาพ ซีรีส์ NEXIV VMF-K แก้ปัญหากับความท้าทายนี้ด้วยการวัดขนาดในระดับไมครอนได้อย่างเสถียร ในขณะเดียวกันก็ปรับปรุงปริมาณงานให้เพิ่มมากขึ้นได้อย่างชัดเจน จึงรองรับการควบคุมคุณภาพที่เข้มงวดในการผลิตอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์
ซีรีส์ใหม่ NEXIV VMF-K ประกอบด้วย VMF-K3040 ซึ่งมาแทน VMZ-K3040 และ VMF-K6555 ซึ่งมาแทน VMZ-K6555
ประโยชน์ที่สำคัญของซีรีส์ NEXIV VMF-K ได้แก่:
- ปริมาณของการวัดงานที่เพิ่มขึ้น: ซีรีส์ VMF-K บรรลุปริมาณการวัดงานที่สูงขึ้น 1.5 เท่า เมื่อเทียบกับรุ่นก่อนหน้าอย่าง VMZ-K (ตามเงื่อนไขการวัดมาตรฐานของ Nikon) จึงช่วยลดระยะเวลาในการวัดและเพิ่มผลผลิตได้เพิ่มมากขึ้น
- เลนส์ที่ล้ำสมัย: ซีรีส์ VMF-K ซึ่งติดตั้งมาพร้อมกับระบบออปติคัลคอนโฟคอล ช่วยให้สามารถวัดงานในรูปแบบ 2D และความสูงภายในขอบเขตการมองเห็นได้พร้อมกัน ทำให้ได้ปริมาณงานที่สูงขึ้นอย่างชัดเจน เมื่อเทียบกับการวัดความสูงโดยใช้เฉพาะภาพแบบไบรท์ฟิลด์เท่านั้น
- แหล่งกำเนิดแสงที่ได้รับการปรับปรุง: แหล่งกำเนิดแสงคอนโฟคัลได้รับการเปลี่ยนจากหลอดซีนอนเป็นแบบ LED ทำให้มีอายุการใช้งานเพิ่มขึ้นจาก 3,000 ชั่วโมงเป็น 30,000 ชั่วโมง การปรับปรุงนี้ยังช่วยยกระดับประสิทธิภาพการทำงานและลดความจำเป็นในการเปลี่ยนหลอดไฟอีกด้วย
- กลุ่มผลิตภัณฑ์รุ่นใหม่ที่เพิ่มเข้ามา: ปัจจุบันซีรีส์นี้ประกอบด้วยเลนส์ใกล้วัตถุ 45x แบบมาตรฐาน รองรับความต้องการการวัดเซมิคอนดักเตอร์ขั้นสูงสำหรับการวัดที่ละเอียดยิ่งขึ้น
- ตรงตามมาตรฐาน SEMI S2/S8: ซีรีส์ VMF-K เป็นไปตามมาตรฐานความปลอดภัยอุตสาหกรรมสำหรับอุปกรณ์การผลิตเซมิคอนดักเตอร์เมื่อติดตั้งอย่างเหมาะสมตามแนวทาง SEMI S2/S8
- ฟังก์ชั่นใหม่ของซอฟต์แวร์: ซีรีส์นี้สามารถแสดงเวลาที่เหลือระหว่างการวัดได้
- การออกแบบภายนอกใหม่: ซีรีส์นี้ได้รับการออกแบบจากโรงงานได้อย่างทันสมัยในโทนสีดำและสีเงิน
“เรามีความยินดีที่จะนำเสนอซีรีส์ NEXIV VMF-K ซึ่งเป็นโซลูชันชั้นนำของอุตสาหกรรมที่ตอบสนองความต้องการที่เพิ่มมากขึ้นสำหรับการวัดที่มีความเร็วสูงและละเอียดยิ่งขึ้นในการผลิตชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์และอิเล็กทรอนิกส์” โฆษกของ Nikon กล่าว
“ด้วยการปรับปรุงปริมาณการวัดงานที่เพิ่มขึ้นในขณะที่ยังคงมีความแม่นยำสูง ระบบใหม่ของเราจะช่วยให้ผู้ผลิตสามารถยกระดับกระบวนการควบคุมคุณภาพและเร่งรัดการพัฒนาผลิตภัณฑ์ให้เร็วยิ่งขึ้นเมื่อต้องเผชิญกับการย่อส่วนและการบูรณาการอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ที่เพิ่มขึ้น”
