XT H 시리즈

Nikon의 적응형 마이크로포커스 CT 시스템은 소형 플라스틱 커넥터부터 R&D용 알루미늄 주물까지의 부품에 대한 고해상도 검사, 고장 분석 및 제품 품질 관리가 가능합니다.

까다로운 검사 애플리케이션을 위한 맞춤형 솔루션

이 시스템은 실험실에 필요한 적응성과 225kV Rotating.Target 2.0, Half.Turn CT 획득 모드 및 Auto.Filament Control 같은 고유 기능을 결합하여 작업 현장의 연속 검사에서 사이클 타임을 단축하고 가동 시간을 향상시켜 줍니다.

제품 하이라이트

적절한 타이밍의 유연성

발생장치, 타겟, CT 스캐닝 전략 및 전동식 발생장치-검출기 거리 조정과 같은 옵션을 선택할 수 있는 XT H 시스템은 기능이 다양하고 광범위한 검사 작업을 수행할 수 있습니다.

X.Tend Helical CT

콘 빔 및 다중 스캔 스티칭으로 인해 발생한 아티팩트를 제거하여 한 번의 획득 프로세스로 높이가 큰 물체도 스캔할 수 있습니다. 또한 물체를 더 높은 배율로 스캔하여 해상도가 현저히 높아진다는 추가적인 이점을 제공합니다.

고유한 성능의 225 kV Rotating.Target 2.0

동일한 전력인 경우 최대 3배 더 높은 해상도로 최대 450W까지 연속 작동할 수 있고, 동일한 해상도의 경우 3배 더 빠른 데이터 수집이 가능합니다.

핵심 기능

산업

XT H 시리즈

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XT H 225 ST 2x

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자동화된 CT

엑스레이 CT 검사 서비스

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XT H225
중소형 부품 검사용
XT H225 ST 2x
다양한 응용 분야를 위한 유연한 시스템
MCT225
고정밀 엑스레이 CT 계측
부품 크기 부품 크기 부품 크기
부품 밀도 부품 밀도 부품 밀도
정확도 정확도 정확도
전력 :전력 :전력 :
다목적성 다목적성 다목적성
설치면적 설치면적 설치면적

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이 제품에 대한 자세한 설명이 필요한 경우 당사 전문팀이 추가 정보를 제공하며 필요한 경우 현장 방문도 가능합니다. 귀하의 프로젝트에 대해 자세히 알려주시면 요구사항에 맞는 최상의 검사 시스템에 대해 조언할 것입니다. 맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.