OPC UA와의 생산라인 통합
현장 설치 CT, 그리고 니콘 X-ray 시스템과 제조실행시스템(Manufacturing Execution Systems, MES)의 통합에 대한 니콘의 약속은 다음을 비롯한 산업 표준 프로토콜을 통해 실현됩니다. OPC UA.
이 시스템은 실험실에 필요한 적응성과 225kV Rotating.Target 2.0, Half.Turn CT 획득 모드 및 Auto.Filament Control 같은 고유 기능을 결합하여 작업 현장의 연속 검사에서 사이클 타임을 단축하고 가동 시간을 향상시켜 줍니다.
발생장치, 타겟, CT 스캐닝 전략 및 전동식 발생장치-검출기 거리 조정과 같은 옵션을 선택할 수 있는 XT H 시스템은 기능이 다양하고 광범위한 검사 작업을 수행할 수 있습니다.
콘 빔 및 다중 스캔 스티칭으로 인해 발생한 아티팩트를 제거하여 한 번의 획득 프로세스로 높이가 큰 물체도 스캔할 수 있습니다. 또한 물체를 더 높은 배율로 스캔하여 해상도가 현저히 높아진다는 추가적인 이점을 제공합니다.
동일한 전력인 경우 최대 3배 더 높은 해상도로 최대 450W까지 연속 작동할 수 있고, 동일한 해상도의 경우 3배 더 빠른 데이터 수집이 가능합니다.
이 제품에 대한 자세한 설명이 필요한 경우 당사 전문팀이 추가 정보를 제공하며 필요한 경우 현장 방문도 가능합니다. 귀하의 프로젝트에 대해 자세히 알려주시면 요구사항에 맞는 최상의 검사 시스템에 대해 조언할 것입니다. 맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.