니콘의 VOXLS 20 시리즈 시스템은 최대 225kV의 스캔 에너지와 함께 상대적으로 작은 설치 공간에서 업계 최고의 CT 검사 기능을 제공하므로 광범위한 샘플에 이상적인 솔루션입니다.
VOXLS 20 시리즈 X-ray 및 CT 시스템은 공간이 부족한 품질 관리 실험실 및 생산 환경에 이상적입니다. 이 시스템은 메트롤로지 그레이드의 화강암 기반 매니퓰레이터와 견고한 스틸 타워를 통해 정밀도와 신뢰성을 제공하도록 제작되어 표준 듀얼 도어를 통해 설치되는 작은 설치 공간에서도 뛰어난 X-ray 및 CT 데이터 품질을 제공합니다.
VOXLS 20 시리즈는 크기 측면에서 동급 최고의 CT 검사 범위를 제공하므로, 사용자는 단일 시스템 내에서 다양한 범위의 샘플을 검사할 수 있습니다. X.Tend Helical CT, Offset.CT, Panel Shift CT 등의 스캔 향상 기능을 사용하여, 시스템 사용률의 극대화를 통해 투자 수익을 빠르게 창출하고 변화하는 비즈니스 요구에 유연하게 적응할 수 있습니다.
니콘의 VOXLS 20 C 225는 전동식 듀얼 소스 구성을 제공하여 사용자는 자신의 애플리케이션에 최적의 소스를 선택할 수 있습니다. 사용자는 버튼을 누르기만 하면 선속 증가와 생산성을 위한 225kV 반사 타겟과 최상의 해상도를 위한 160kV 투과 타겟 간에 빠르게 전환할 수 있습니다.
소스 최적화는 필라멘트 교체, 설정 및 지속적인 최적화 프로세스를 간소화하여 소스 필라멘트의 최고 성능을 보장하는 데 사용되는 다기능적인 혁신 기술입니다. 이 도구를 사용하면 소스 성능의 개선, 필라멘트 수명 연장, 운영상의 스트레스 감소 등을 통해 사용자가 자신의 생산성과 부서 목표를 달성하는 데 집중할 수 있도록 합니다.
모든 VOXLS 20 시리즈 시스템은 사용자 편의성과 효율성을 우선시합니다. 대형 관찰 윈도우로 샘플 위치를 확실하게 파악할 수 있으며, 전동식 도어가 4초 이내에 열리므로 대기 시간을 최소화하고 워크플로우를 개선할 수 있습니다. 필터 체인저, 소스 최적화 등의 기능은 작동 및 유지보수를 더욱 간소화하여 향상된 효율성과 만족스러운 경험을 제공합니다.
VOXLS 20 시리즈 시스템의 핵심은 견고한 강철 타워, 고정밀 인코더 및 모터와 결합된 메트롤로지 그레이드의 화강암 기반 매니퓰레이터입니다. 이러한 견고한 구조로 인해 우수한 기계적 및 열적 안정성이 제공되어 보다 정확하고 정밀하며 반복 가능한 데이터 수집을 할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 제품 설계 또는 품질관리 결정을 내릴 때 충분한 확신을 가질 수 있습니다.
간편한 사용과 작업자와 독립적인 스캔 프로파일 및 배치(batch) 스캐닝 기능으로 기술자의 효율성을 높입니다. 또는 Nikon Automation OPC UA 인터페이스로 자동 로더 또는 로봇 로딩을 사용하여 생산 환경에서 자율 검사와 최대 효율성을 달성할 수 있습니다.
| 소스 | 정적 또는 회전 반사 타겟이 있는 225kV 마이크로포커스 소스 |
| 투과 타겟이 있는 최적의 160kV 소스 | |
| 최대 스캔 부피 | 555 x 759 mm (Ø x H) |
| 최대 샘플 크기 | 750 x 1,297 mm (Ø x H) |
| 최대 샘플 중량 | 90kg 중앙 하중 |
| 시스템 치수 | 2,451 x 1,173 x 2,018 mm (L x D x H) |
| 시스템 중량 | 4,800 kg |
니콘 스캔 개선 기능으로 스캔 범위를 확장하고, 선명도를 향상하고, 해상도를 높이고, 생산성을 높이십시오. 혁신적인 하드웨어와 소프트웨어 모듈을 결합한 니콘의 스캔 개선 제품군은 기존의 X-ray와 CT, 특히 다루기 어려운 샘플에 대한 한계를 뛰어넘습니다. 이를 통해 자신 있게 결정을 내릴 수 있는 품질, 수익성을 증가하는 처리량, 변화하는 비즈니스 요구에 맞는 유연성 등을 사용자에게 제공합니다.
자동차 산업에서는 전기 시스템부터 경량 구조 부품에 이르기까지 다양한 부품을 검사해야 합니다. VOXLS 20 시리즈는 자동차 제조 시설에서 작은 설치 공간만 차지하면서 이러한 다양한 구성 요소를 검사할 수 있습니다.
항공 우주 산업에서는 모든 구성 요소에 정밀도와 신뢰성이 필요합니다. 계측 등급 플랫폼을 갖춘 VOXLS 20 시리즈는 복잡한 터빈 블레이드부터 정교한 전자 시스템에 이르기까지 중요한 항공 우주 부품에 대한 정밀 검사를 수행할 수 있어 엄격한 품질 표준을 충족합니다.
학술 연구의 경우 화석, 새로운 복합재 혼합물, 최첨단 합금, 식물 및 동물 과학 등을 포함하는 모든 조직의 가장 다양한 응용 분야 중 일부를 스캐닝해야 합니다. VOXLS 20 시리즈는 연구자들이 원하는 해답을 찾는 데 필요한 분해능 성능과 스캔 개선 기술을 제공하며, 이 모든 것을 작은 공간에 설치할 수 있으므로 공간 제약이 있는 대학 실험실에 매우 적합한 장비입니다.
혁신의 속도가 빠른 EV 및 전기 에너지 저장 시스템(ESS) 시장에서는 성능과 안전성 보장을 위해 배터리 검사에 대한 요구가 증가하고 있습니다. VOXLS 20 시리즈는 R&D 및 고장 분석이나 생산 품질 관리에 관계없이 모든 유형의 배터리 셀을 검사하는 데 적합합니다.
적층 제조는 여러 산업에서 프로토타입 제작 및 생산에 혁신을 가져왔습니다. VOXLS 20 시리즈는 복잡한 형상, 내부 구조, 3D 프린팅된 부품의 잠재적 결함 등의 검사에 완벽한 솔루션을 제공하여 적층 제조 공정 전반에서 품질 관리를 보장합니다.
경합금에서 고정밀 부품에 이르기까지 제조된 주물은 많은 산업에서 필수적인 요소입니다. VOXLS 20 시리즈는 중소형 주물을 검사하여 성능에 영향을 줄 수 있는 개재물, 다공성 및 수축을 식별하는 데 이상적입니다. 개별 부품 또는 소형 어셈블리의 검사에서 이 시스템의 듀얼 소스 구성은 다양한 재료와 밀도에 대한 스캔을 최적화할 수 있습니다.
마이크로칩부터 멀티레이어 회로 기판까지 전자 부품이 널리 사용되고 있습니다. VOXLS 20 시리즈는 공간 제약이 있는 전자 부품 제조 환경에 설치되어 BGA의 결함과 본드 와이어의 균열을 감지할 수 있는 분해능을 제공합니다.
VOXLS 20 시리즈는 작은 설치 공간에서 최대의 기능을 제공하도록 설계되어 공간의 제약이 있는 시설에 이상적입니다. VOXLS 20 시리즈는 니콘의 명성에 맞는 뛰어난 데이터 품질과 계측 등급 플랫폼을 유지하면서도 물리적 설치 면적이 작아 표준 듀얼 도어를 통해 설치할 수 있어 설치 유연성이 뛰어납니다.
VOXLS 20 시리즈는 광범위한 샘플의 스캐닝에 이상적입니다. 여기에는 전자 부품, 플라스틱 부품, 경량 금속 부품, 적층 제조 부품, 의료기기 등이 포함됩니다. 듀얼 소스 구성을 통해 사용자는 응용 분야에 따라 X-ray 선속 증가로 인한 생산성 향상을 위한 반사 타겟과 가능한 최상의 분해능을 달성하기 위한 투과 타겟 중에서 하나를 선택할 수 있습니다.
메트롤로지 그레이드 매니퓰레이터는 화강암 기반 및 견고한 강철 타워를 통해 뛰어난 안정성과 정밀도를 제공합니다. 이를 통해 매우 정확하고 반복 가능한 샘플 위치 지정을 보장하여 데이터 품질과 측정 반복성을 직접 개선할 수 있습니다. 이러한 엔지니어링 선택사항을 통해 니콘 브랜드의 명성에 맞는 정밀도, 반복성 및 신뢰성이 보장됩니다.
소스 최적화는 필라멘트를 최적의 성능으로 설정하는 과정을 간소화하며, 필라멘트 교체 과정을 단순화하고 필라멘트의 수명을 연장합니다. 이를 통해 유지보수 요구 사항의 감소, 가동 중단 시간의 최소화, 시간의 경과에도 스캔 품질의 일관성 보장 등을 달성하여 시스템을 보다 사용자 친화적이고 비용 효율적으로 운영할 수 있습니다.
VOXLS 20 시리즈는 장기적인 투자 제품으로 설계되어 변화하는 제조 요구에 맞게 조정할 수 있습니다. 업그레이드가 가능하며 OPC UA 인터페이스가 포함된 Nikon Automation을 사용하는 다양한 자동 및 로봇 검사 솔루션을 갖추고 있어 사용자의 요구 사항 증가에 맞게 향후 자동 생산 환경에 통합할 수 있습니다.
이 제품에 대한 자세한 내용이나 깊이 있는 설명이 필요한 경우 당사 전문가 팀이 추가 정보를 제공하며, 필요한 경우 현장 방문 서비스를 제공해 드립니다. 귀하의 프로젝트에 대해 자세히 알려주시면 당사의 전문가가 귀하의 요구사항에 맞는 최적의 검사 시스템에 대해 조언해 드립니다. 맞은편 양식을 작성해 주시면 빠른 시일 내에 연락드리겠습니다.
